logo

Все в одном Микроскоп атомной силы Многофункциональные биологические микроскопы для гибкой и точной работы

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
Детали продукта
Выделить:

Микроскоп атомной силы

,

Атомный микроскоп многофункциональный

,

Многофункциональные биологические микроскопы

Name: Атомный силовый микроскоп
Scanning Rate: 0,1-30 Гц
Scanning Method: XYZ Трехо осевой
Scanning Range: 100 мкм x100 мкм 10 мкм
Noise Level In The Z Direction: 0,04 нм
Sample Size: 25 мм
Noise Level In The XY Direction: 0,4 nm
Nonlinearity: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z

Основные свойства

Наименование марки: Truth Instruments
Номер модели: Atomedge Pro

Торговая недвижимость

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Условия оплаты: T/T.
Характер продукции

Атомно-силовой микроскоп «Все в одном» для гибкой и точной работы

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — это передовой инструмент, предназначенный для наноразмерных электрических измерений и анализа. Этот усовершенствованный прибор предлагает непревзойденные возможности сканирования и визуализации на наноуровне, что делает его незаменимым устройством для исследователей и ученых, работающих в различных областях.

Основные атрибуты продукта:

  • Диапазон сканирования: 100 μм X 100 μм x 10 μм
  • Уровень шума в направлении Z: 0,04 нм
  • Метод сканирования: XYZ трехкоординатное сканирование всего образца
  • Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
  • Уровень шума в направлении XY: 0,4 нм

Атомно-силовой микроскоп выделяется исключительным диапазоном сканирования 100 μм в направлениях X и Y и 10 μм в направлении Z. Этот широкий диапазон сканирования позволяет детально и всесторонне визуализировать образцы на наноуровне, предоставляя исследователям ценную информацию о характеристиках и свойствах поверхности.

С уровнем шума всего 0,04 нм в направлении Z и 0,4 нм в направлении XY, АСМ обеспечивает высокую точность измерений, что делает его идеальным для требовательных применений, требующих надежного сбора данных.

Метод сканирования АСМ использует трехкоординатное сканирование всего образца XYZ, позволяя пользователям легко исследовать образцы с разных углов и направлений. Этот универсальный подход к сканированию облегчает всесторонний анализ поверхностей образцов, что делает его ценным инструментом для широкого спектра исследовательских применений.

Кроме того, АСМ может похвастаться отличной линейностью, всего 0,02% нелинейности в направлении XY и 0,08% нелинейности в направлении Z. Этот высокий уровень линейности гарантирует, что результаты измерений и визуализации будут очень точными и надежными, позволяя исследователям уверенно интерпретировать свои данные.

В заключение, атомно-силовой микроскоп — это универсальное решение АСМ, которое предлагает исключительные возможности сканирования, низкий уровень шума, точные методы сканирования и отличную линейность как в направлениях XY, так и в направлении Z. Благодаря своим передовым функциям и передовому дизайну, АСМ является обязательным инструментом для исследователей и ученых, проводящих наноразмерные электрические измерения и анализ.

 

Особенности:

  • Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
  • Уровень шума в направлении XY: 0,4 нм
  • Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
  • Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
  • Размер образца: 25 мм
  • Метод сканирования: XYZ трехкоординатное сканирование всего образца
 

Технические параметры:

Диапазон сканирования 100 μм X100 μм x 10 μм
Нелинейность 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
Уровень шума в направлении Z 0,04 нм
Метод сканирования XYZ трехкоординатное сканирование всего образца
Уровень шума в направлении XY 0,4 нм
Размер образца 25 мм
Скорость сканирования 0,1-30 Гц
 

Применения:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) модели AtomEdge Pro от Truth Instruments — это современный прибор, разработанный для удовлетворения высоких требований научных исследований и промышленных применений. Этот передовой АСМ, произведенный в Китае, предлагает точные измерения и возможности визуализации для широкого спектра применений.

AtomEdge Pro идеально подходит для различных случаев и сценариев применения продукта благодаря своим исключительным характеристикам:

  • Уровень шума: С уровнем шума 0,4 нм в направлении XY, AtomEdge Pro обеспечивает точные и надежные измерения даже в сложных условиях.
  • Размер образца: Способный обрабатывать образцы размером до 25 мм, этот АСМ подходит для широкого спектра типов образцов для универсального тестирования.
  • Нелинейность: Обеспечивая точность, AtomEdge Pro может похвастаться низкими показателями нелинейности 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z, обеспечивая стабильные и точные результаты.
  • Скорость сканирования: Со скоростью сканирования от 0,1 до 30 Гц пользователи могут регулировать скорость в зависимости от конкретных требований своих экспериментов.
  • Диапазон сканирования: Диапазон сканирования 100 μм x 100 μм x 10 μм обеспечивает детальную визуализацию и возможности измерения для широкого спектра образцов.

Одной из выдающихся особенностей AtomEdge Pro является его способность работать в режиме касания, популярной методике в АСМ, которая минимизирует повреждение образца и обеспечивает изображения с высоким разрешением. Этот режим особенно полезен в биологических исследованиях и исследованиях мягких материалов, где важна бережная визуализация.

Будь то исследовательские лаборатории, академические учреждения или промышленные предприятия, AtomEdge Pro находит применение в различных сценариях:

  • Материаловедение: Изучение свойств поверхности, морфологии и механических характеристик материалов на наноуровне.
  • Биология: Визуализация биологических образцов, таких как клетки, белки и ДНК, с высоким разрешением и точностью.
  • Нанотехнология: Характеристика наноматериалов и наноструктур для целей исследований и разработок.
  • Контроль качества: Обеспечение качества продукции путем анализа шероховатости поверхности, дефектов и других характеристик на микро- и наноуровне.

Благодаря своим передовым возможностям и точному проектированию, AtomEdge Pro от Truth Instruments является надежным и универсальным сканирующим силовым микроскопом, который отвечает разнообразным потребностям современных исследований и промышленности.

Отправить запрос

Получите быструю цитату