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Microscopes à force atomique tout-en-un multifonctionnels pour la biologie, pour une opération précise et flexible

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
Détails de produit
Mettre en évidence:

Microscope à force atomique tout-en-un

,

Microscope à force atomique multifonctionnel

,

Microscopes de biologie multifonctionnels

Name: Microscope à force atomique
Scanning Rate: 0,1 à 30 Hz
Scanning Method: XYZ SCALLATION EXEMPLAGE FULLE AXIS
Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0,04 nm
Sample Size: 25 mm
Noise Level In The XY Direction: 0,4 nanomètres
Nonlinearity: 0,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction z

Propriétés de base

Nom de marque: Truth Instruments
Numéro de modèle: Atomedge Pro

Propriétés commerciales

Prix: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Conditions de paiement: T / t
Description de produit

Microscope de force atomique tout en un pour un fonctionnement flexible et précis

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe conçu pour la mesure et l'analyse électrique à l'échelle nanométrique.Cet instrument avancé offre des capacités inégalées de numérisation et d'imagerie au niveau nanométrique., ce qui en fait un dispositif essentiel pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans divers domaines.

Principaux attributs du produit:

  • Portée de balayage:100 μm x 100 μm x 10 μm
  • Niveau sonore dans la direction Z:00,04 Nm
  • Méthode de balayage:XYZ Scan complet de l'échantillon sur trois axes
  • Non linéaire:00,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z
  • Niveau sonore dans la direction XY:0.4 Nm

Le microscope de la force atomique se distingue par sa portée de balayage exceptionnelle de 100 μm dans les directions X et Y et de 10 μm dans la direction Z.Cette large plage de numérisation permet une imagerie détaillée et complète des échantillons au niveau nanométrique, fournissant aux chercheurs des informations précieuses sur les caractéristiques et les propriétés des surfaces.

Avec un niveau sonore de seulement 0,04 Nm dans la direction Z et 0,4 Nm dans la direction XY, l'AFM assure une grande précision et précision dans les mesures,ce qui le rend idéal pour les applications exigeantes qui nécessitent une acquisition fiable des données.

La méthode de numérisation de l'AFM utilise le numérisation complète d'échantillons XYZ à trois axes, permettant aux utilisateurs d'explorer facilement des échantillons sous plusieurs angles et directions.Cette approche de numérisation polyvalente facilite l'analyse complète des surfaces des échantillons, ce qui en fait un outil précieux pour un large éventail d'applications de recherche.

En outre, l'AFM possède une excellente linéarité, avec seulement 0,02% de non-linéarité dans la direction XY et 0,08% de non-linéarité dans la direction Z.Ce haut niveau de linéarité garantit que les résultats des mesures et des images sont très précis et fiables, permettant aux chercheurs d'interpréter leurs données en toute confiance.

En résumé, le microscope de la force atomique est une solution AFM tout-en-un qui offre des capacités de balayage exceptionnelles, de faibles niveaux de bruit, des méthodes de balayage précises,et une excellente linéarité dans les directions XY et ZAvec ses caractéristiques avancées et sa conception de pointe, l'AFM est un outil incontournable pour les chercheurs et les scientifiques qui effectuent des mesures et des analyses électriques à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques:

  • Nom du produit: Microscope de force atomique
  • Niveau sonore dans la direction XY: 0,4 Nm
  • Non linéaire: 0,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z
  • Taux de balayage: 0,1 à 30 Hz
  • Taille de l'échantillon: 25 mm
  • Méthode de numérisation: numérisation complète de l'échantillon sur trois axes XYZ

Paramètres techniques:

Portée de balayage 100 μm x 100 μm x 10 μm
Non linéaire 00,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z
Niveau sonore dans la direction Z 00,04 Nm
Méthode de balayage XYZ Scan complet de l'échantillon sur trois axes
Niveau sonore dans la direction XY 0.4 Nm
Taille de l'échantillon 25 mm
Taux de balayage 0.1 à 30 Hz

Applications:

Le modèle AtomEdge Pro du microscope à force atomique (AFM) de Truth Instruments est un instrument de pointe conçu pour répondre aux exigences élevées de la recherche scientifique et des applications industrielles.D'origine chinoise, ce AFM avancé offre des mesures précises et des capacités d'imagerie pour un large éventail d'applications.

L'AtomEdge Pro est idéal pour diverses occasions et scénarios d'application de produits en raison de ses caractéristiques exceptionnelles:

  • Niveau sonore:Avec un niveau de bruit de 0,4 Nm dans la direction XY, l'AtomEdge Pro assure des mesures précises et fiables même dans des environnements difficiles.
  • Taille de l'échantillonCapable de manipuler des échantillons jusqu'à 25 mm de taille, cet AFM peut accueillir une large gamme de types d'échantillons pour des essais polyvalents.
  • Non linéaire:Offrant une précision, l'AtomEdge Pro offre de faibles taux de non-linéarité de 0,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z, garantissant des résultats cohérents et précis.
  • Taux de balayage:Avec un débit de balayage allant de 0,1 à 30 Hz, les utilisateurs peuvent ajuster la vitesse en fonction des exigences spécifiques de leurs expériences.
  • Portée de balayage:La plage de balayage de 100 μm x 100 μm x 10 μm offre des capacités d'imagerie et de mesure détaillées pour un large éventail d'échantillons.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'AtomEdge Pro est sa capacité à fonctionner en mode Tapping, une technique populaire en AFM qui minimise les dommages aux échantillons et fournit des images haute résolution.Ce mode est particulièrement utile dans la recherche biologique et sur les matériaux mous où une imagerie douce est essentielle..

Que ce soit dans les laboratoires de recherche, les établissements universitaires ou les milieux industriels, l'AtomEdge Pro trouve son application dans divers scénarios:

  • La science des matériaux:Étudier les propriétés de surface, la morphologie et les caractéristiques mécaniques des matériaux à l'échelle nanométrique.
  • Biologie:Imagerie d'échantillons biologiques tels que des cellules, des protéines et de l'ADN avec une haute résolution et une précision.
  • Les nanotechnologies:Caractérisation des nanomatériaux et des nanostructures à des fins de recherche et de développement.
  • Contrôle de la qualité:Assurer la qualité du produit en analysant la rugosité de la surface, les défauts et autres caractéristiques à l'échelle micro et nano.

Avec ses capacités avancées et son ingénierie de précision,L' AtomEdge Pro de Truth Instruments est un microscope de force de balayage fiable et polyvalent qui répond aux divers besoins de la recherche et de l' industrie modernes..

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