All-in-one atoomkrachtmicroscoop multifunctioneel biologisch microscoop voor flexibele en precieze werking

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor elektrische metingen en analyses op nanoschaal.Dit geavanceerde instrument biedt ongeëvenaarde mogelijkheden in het scannen en afbeelden op nanoschaal niveau, waardoor het een essentieel apparaat is voor onderzoekers en wetenschappers die op verschillende gebieden werken.

Belangrijkste productkenmerken:

• Scanbereik:100 μm x 100 μm x 10 μm
• Geluidsniveau in Z-richting:00,04 Nm
• Scanmethode:XYZ Drie-assige volledige steekproefscan
• Niet-lineariteit:0.02% in de richting XY en 0.08% in de richting Z
• Ruisniveau in de XY-richting:0.4 Nm

De Atomic Force Microscope onderscheidt zich door zijn uitzonderlijke scanningbereik van 100 μm in de X- en Y-richting en 10 μm in de Z-richting.Dit brede scanbereik maakt het mogelijk gedetailleerde en uitgebreide afbeeldingen te maken van monsters op nanoschaalniveau, waardoor onderzoekers waardevolle inzichten krijgen in de kenmerken en eigenschappen van oppervlakken.

Met een geluidsniveau van slechts 0,04 Nm in de Z-richting en 0,4 Nm in de XY-richting zorgt de AFM voor een hoge nauwkeurigheid en nauwkeurigheid van de metingen.Het maakt het ideaal voor veeleisende toepassingen die betrouwbare gegevensverwerving vereisen..

De scansysteemmethode van de AFM maakt gebruik van XYZ-drie-assige volledige monster-scan, waardoor gebruikers monsters vanuit meerdere hoeken en richtingen gemakkelijk kunnen verkennen.Deze veelzijdige scanmethode vergemakkelijkt een uitgebreide analyse van de steekproefoppervlakken, waardoor het een waardevol hulpmiddel is voor een breed scala aan onderzoekstoepassingen.

Bovendien heeft de AFM een uitstekende lineariteit, met slechts 0,02% niet-lineariteit in de XY-richting en 0,08% niet-lineariteit in de Z-richting.Dit hoge niveau van lineariteit zorgt ervoor dat de metings- en beeldresultaten zeer nauwkeurig en betrouwbaar zijn, waardoor onderzoekers hun gegevens met vertrouwen kunnen interpreteren.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een all-in-one AFM oplossing die uitzonderlijke scanning mogelijkheden, lage geluidsniveaus, precieze scanning methoden,en uitstekende lineariteit in zowel de XY als Z richtingMet zijn geavanceerde functies en geavanceerd ontwerp is de AFM een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers die elektrische metingen en analyses op nanoschaal uitvoeren.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Ruisniveau in de XY-richting: 0,4 Nm
• Niet-lineariteit: 0,02% in de XY richting en 0,08% in de Z richting
• Scansnelheid: 0,1-30 Hz
• Grootte van het monster: 25 mm
• Scanmethode: XYZ-drieassige volledige monsterscanning

Technische parameters:

Toepassingen:

Het AtomEdge Pro-model van de Atomic Force Microscope (AFM) van Truth Instruments is een geavanceerd instrument dat is ontworpen om te voldoen aan de hoge eisen van wetenschappelijk onderzoek en industriële toepassingen.van oorsprong uit China, biedt deze geavanceerde AFM precieze metingen en beeldvorming voor een breed scala aan toepassingen.

De AtomEdge Pro is ideaal voor verschillende producttoepassingen en scenario's vanwege zijn uitzonderlijke kenmerken:

• Geluidsniveau:Met een geluidsniveau van 0,4 Nm in de XY-richting zorgt de AtomEdge Pro voor nauwkeurige en betrouwbare metingen, zelfs in uitdagende omgevingen.
• Grootte van het monster:Deze AFM is geschikt voor het verwerken van monsters tot een grootte van 25 mm en biedt plaats aan een breed scala aan monstertypen voor veelzijdige tests.
• Niet-lineariteit:De AtomEdge Pro biedt een lage niet-lineariteitsgraad van 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting, waardoor consistente en nauwkeurige resultaten worden gewaarborgd.
• Scansnelheid:Met een scansnelheid van 0,1 tot 30 Hz kunnen gebruikers de snelheid aanpassen aan de specifieke vereisten van hun experimenten.
• Scanbereik:Het scannerbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm biedt gedetailleerde beeldvorming en meetmogelijkheden voor een breed scala aan monsters.

Een van de opvallende kenmerken van de AtomEdge Pro is het vermogen om te werken in Tapping Mode, een populaire techniek in AFM die monsterbeschadiging minimaliseert en hoge resolutiebeelden levert.Deze modus is vooral nuttig bij biologisch en zacht materiaalonderzoek, waar zachte beeldvorming essentieel is..

Of het nu gaat om onderzoekslaboratoria, academische instellingen of industriële omgevingen, de AtomEdge Pro vindt zijn toepassing in verschillende scenario's:

• Materiaalwetenschappen:Het bestuderen van oppervlakte-eigenschappen, morfologie en mechanische eigenschappen van materialen op nanoschaal.
• Biologie:Beeldvorming van biologische monsters zoals cellen, eiwitten en DNA met hoge resolutie en precisie.
• Nanotechnologie:Het karakteriseren van nanomaterialen en nanostructuren voor onderzoek en ontwikkeling.
• Kwaliteitscontrole:De kwaliteit van het product te waarborgen door de oppervlaktrauwheid, gebreken en andere kenmerken op micro- en nanoschaal te analyseren.

Met zijn geavanceerde mogelijkheden en precisietechniek,De AtomEdge Pro van Truth Instruments is een betrouwbare en veelzijdige Scanning Force Microscope die tegemoet komt aan de uiteenlopende behoeften van modern onderzoek en industrie..