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Microscopio de fuerza atómica multifuncional de biología para una operación precisa y flexible

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
Detalles del producto
Resaltar:

Todo en un microscopio de fuerza atómica

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Microscopio de fuerza atómica multifuncional

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Microscopios biológicos multifuncionales

Name: Microscopio de fuerza atómica
Scanning Rate: 0.1-30 Hz
Scanning Method: XYZ Tres ejes de escaneo completo de muestras
Scanning Range: 100 μm X100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm
Sample Size: 25 mm
Noise Level In The XY Direction: 0,4 nanómetros
Nonlinearity: 0.02% en la dirección XY y 0.08% en la dirección Z

Propiedades básicas

Nombre de la marca: Truth Instruments
Número de modelo: Atomedge Pro

Propiedades comerciales

Precio: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condiciones de pago: T/T
Descripción de producto

Microscopio de fuerza atómica todo en uno para una operación flexible y precisa

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta de vanguardia diseñada para la medición y el análisis eléctricos a nanoescala.Este instrumento avanzado ofrece capacidades incomparables en escaneo e imágenes a escala nanométrica, lo que lo convierte en un dispositivo esencial para los investigadores y científicos que trabajan en diversos campos.

Atributos clave del producto:

  • Rango de exploración:100 μm x 100 μm x 10 μm
  • Nivel de ruido en la dirección Z:0.04 Nm
  • Método de escaneo:XYZ Escaneo completo de muestras en tres ejes
  • No linealidad:0.02% en la dirección XY y 0.08% en la dirección Z
  • Nivel de ruido en la dirección XY:0.4 Nm

El microscopio de la fuerza atómica se destaca por su excepcional rango de escaneo de 100 μm en las direcciones X y Y, y 10 μm en la dirección Z.Este amplio rango de escaneo permite obtener imágenes detalladas y completas de las muestras a escala nanométrica, proporcionando a los investigadores información valiosa sobre las características y propiedades de la superficie.

Con un nivel de ruido de sólo 0,04 Nm en la dirección Z y 0,4 Nm en la dirección XY, el AFM garantiza una alta precisión y exactitud en las mediciones,lo que lo hace ideal para aplicaciones exigentes que requieren una adquisición de datos confiable.

El método de escaneo del AFM emplea el escaneo de muestras completas de tres ejes XYZ, lo que permite a los usuarios explorar muestras desde múltiples ángulos y direcciones con facilidad.Este enfoque de escaneo versátil facilita el análisis integral de las superficies de las muestras, lo que la convierte en una herramienta valiosa para una amplia gama de aplicaciones de investigación.

Además, el AFM cuenta con una excelente linealidad, con solo un 0,02% de no linealidad en la dirección XY y un 0,08% de no linealidad en la dirección Z.Este alto nivel de linealidad garantiza que las mediciones y los resultados de las imágenes sean muy precisos y confiables, lo que permite a los investigadores interpretar con confianza sus datos.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica es una solución AFM todo en uno que ofrece capacidades de escaneo excepcionales, bajos niveles de ruido, métodos de escaneo precisos,y excelente linealidad tanto en las direcciones XY y ZCon sus características avanzadas y diseño de vanguardia, el AFM es una herramienta imprescindible para investigadores y científicos que realizan mediciones y análisis eléctricos a nanoescala.

Características:

  • Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
  • Nivel de ruido en la dirección XY: 0,4 Nm
  • No linealidad: 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z
  • Tasa de escaneo: 0,1-30 Hz
  • Tamaño de la muestra: 25 mm
  • Método de escaneo: XYZ Escaneo de muestra completa en tres ejes

Parámetros técnicos:

Rango de exploración Se aplicarán las siguientes medidas:
No linealidad 00,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z.
Nivel de ruido en la dirección Z 0.04 Nm
Método de escaneo XYZ Escaneo completo de muestras en tres ejes
Nivel de ruido en la dirección XY 0.4 Nm
Tamaño de la muestra 25 mm
Velocidad de exploración 0.1 a 30 Hz

Aplicaciones:

El modelo AtomEdge Pro del microscopio de fuerza atómica (AFM) de Truth Instruments es un instrumento de última generación diseñado para satisfacer las altas demandas de la investigación científica y las aplicaciones industriales.De origen en China, este avanzado AFM ofrece medidas precisas y capacidades de imagen para una amplia gama de aplicaciones.

El AtomEdge Pro es ideal para varias ocasiones y escenarios de aplicación de productos debido a sus características excepcionales:

  • Nivel de ruido:Con un nivel de ruido de 0,4 Nm en la dirección XY, el AtomEdge Pro garantiza mediciones precisas y confiables incluso en entornos difíciles.
  • Tamaño de la muestra:Capaz de manejar muestras de hasta 25 mm de tamaño, este AFM tiene una amplia gama de tipos de muestras para ensayos versátiles.
  • No linealidad:Ofreciendo precisión, el AtomEdge Pro cuenta con bajas tasas de no linealidad de 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z, lo que garantiza resultados consistentes y precisos.
  • Tasa de escaneo:Con una velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 y 30 Hz, los usuarios pueden ajustar la velocidad en función de los requisitos específicos de sus experimentos.
  • Rango de exploración:El rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm proporciona capacidades de imagen y medición detalladas para una amplia gama de muestras.

Una de las características más destacadas del AtomEdge Pro es su capacidad para operar en el Modo de toque, una técnica popular en AFM que minimiza el daño a las muestras y proporciona imágenes de alta resolución.Este modo es particularmente útil en la investigación de materiales biológicos y blandos, donde es esencial obtener imágenes suaves..

Ya sea en laboratorios de investigación, instituciones académicas o entornos industriales, el AtomEdge Pro encuentra su aplicación en varios escenarios:

  • Ciencias de los materiales:Estudiar las propiedades superficiales, la morfología y las características mecánicas de los materiales a nanoescala.
  • Biología:Imagen de muestras biológicas como células, proteínas y ADN con alta resolución y precisión.
  • Nanotecnología:Caracterización de nanomateriales y nanoestructuras para fines de investigación y desarrollo.
  • Control de calidad:Asegurar la calidad del producto analizando la rugosidad de la superficie, los defectos y otras características a escala micro y nano.

Con sus capacidades avanzadas e ingeniería de precisión,El AtomEdge Pro de Truth Instruments es un microscopio de fuerza de escaneo confiable y versátil que satisface las diversas necesidades de la investigación moderna y la industria.

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