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オールインワン原子間力顕微鏡 多機能生物顕微鏡 柔軟で精密な操作用

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
製品詳細
ハイライト:

オールインワン原子間力顕微鏡

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原子間力顕微鏡 多機能

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多機能生物顕微鏡

Name: 原子力顕微鏡
Scanning Rate: 0.1〜30 Hz
Scanning Method: XYZ 3軸フルサンプルスキャン
Scanning Range: 100μmx100μmx10μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm
Sample Size: 25 mm
Noise Level In The XY Direction: 0.4 nm
Nonlinearity: XY方向に0.02%、Z方向に0.08%

基本的な特性

ブランド名: Truth Instruments
モデル番号: Atomedge Pro

取引物件

価格: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
支払条件: T/T
製品の説明

フレキシブルで正確な操作のためのオールインワン原子間力顕微鏡

製品の説明:

原子間力顕微鏡(AFM)は、ナノスケール電気測定および分析用に設計された最先端のツールです。この高度な機器は、ナノスケールレベルでのスキャンとイメージングにおいて比類のない能力を提供し、さまざまな分野で研究者や科学者にとって不可欠なデバイスとなっています。

主な製品属性:

  • スキャン範囲: 100 μm X 100 μm x 10 μm
  • Z方向のノイズレベル: 0.04 Nm
  • スキャン方法: XYZ 3軸フルサンプルスキャン
  • 非線形性: XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
  • XY方向のノイズレベル: 0.4 Nm

原子間力顕微鏡は、X方向とY方向で100 μm、Z方向で10 μmという優れたスキャン範囲で際立っています。この広いスキャン範囲により、ナノスケールレベルでのサンプルの詳細で包括的なイメージングが可能になり、研究者に表面特性と特性に関する貴重な洞察を提供します。

Z方向でわずか0.04 Nm、XY方向で0.4 Nmというノイズレベルにより、AFMは測定において高い精度と正確性を保証し、信頼性の高いデータ取得を必要とする要求の厳しいアプリケーションに最適です。

AFMのスキャン方法は、XYZ 3軸フルサンプルスキャンを採用しており、ユーザーは複数の角度と方向からサンプルを簡単に探索できます。この多用途なスキャンアプローチは、サンプル表面の包括的な分析を容易にし、幅広い研究アプリケーションにとって貴重なツールとなっています。

さらに、AFMは優れた直線性も誇り、XY方向でわずか0.02%、Z方向で0.08%の非線形性しかありません。この高いレベルの直線性により、測定とイメージング結果が非常に正確で信頼性が高くなり、研究者は自信を持ってデータを解釈できます。

要約すると、原子間力顕微鏡は、優れたスキャン機能、低いノイズレベル、正確なスキャン方法、およびXY方向とZ方向の両方で優れた直線性を提供するオールインワンAFMソリューションです。その高度な機能と最先端のデザインにより、AFMは、ナノスケール電気測定と分析を実施する研究者や科学者にとって必須のツールです。

 

特徴:

  • 製品名:原子間力顕微鏡
  • XY方向のノイズレベル:0.4 Nm
  • 非線形性:XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
  • スキャン速度:0.1~30 Hz
  • サンプルサイズ:25 mm
  • スキャン方法:XYZ 3軸フルサンプルスキャン
 

技術的パラメータ:

スキャン範囲 100 μm X100 μm x 10 μm
非線形性 XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
Z方向のノイズレベル 0.04 Nm
スキャン方法 XYZ 3軸フルサンプルスキャン
XY方向のノイズレベル 0.4 Nm
サンプルサイズ 25 mm
スキャン速度 0.1~30 Hz
 

アプリケーション:

Truth Instrumentsの原子間力顕微鏡(AFM)モデルAtomEdge Proは、科学研究および産業用途の高い要求を満たすように設計された最先端の機器です。中国発のこの高度なAFMは、幅広い用途に正確な測定とイメージング機能を提供します。

AtomEdge Proは、その優れた機能により、さまざまな製品アプリケーションの機会とシナリオに最適です:

  • ノイズレベル: XY方向で0.4 Nmのノイズレベルにより、AtomEdge Proは、困難な環境でも正確で信頼性の高い測定を保証します。
  • サンプルサイズ: 最大25 mmのサンプルを処理できるこのAFMは、さまざまな種類の標本に対応し、多用途なテストが可能です。
  • 非線形性: 精度を提供し、AtomEdge ProはXY方向で0.02%、Z方向で0.08%の低い非線形性率を誇り、一貫した正確な結果を保証します。
  • スキャン速度: 0.1~30 Hzのスキャン速度により、ユーザーは実験の特定の要件に基づいて速度を調整できます。
  • スキャン範囲: 100 μm x 100 μm x 10 μmのスキャン範囲は、幅広いサンプルに詳細なイメージングと測定機能を提供します。

AtomEdge Proの際立った特徴の1つは、タッピングモードで動作できることです。これは、サンプルの損傷を最小限に抑え、高解像度の画像を提供するAFMで一般的な技術です。このモードは、穏やかなイメージングが不可欠な生物学的および軟質材料の研究に特に役立ちます。

研究室、学術機関、または産業環境のいずれであっても、AtomEdge Proはさまざまなシナリオでその用途を見出します:

  • 材料科学: ナノスケールでの材料の表面特性、形態、および機械的特性の研究。
  • 生物学: 細胞、タンパク質、DNAなどの生物学的サンプルを高解像度で正確にイメージング。
  • ナノテクノロジー: 研究開発目的のナノ材料およびナノ構造の特性評価。
  • 品質管理: 表面粗さ、欠陥、およびその他の機能をマイクロおよびナノスケールで分析することにより、製品の品質を保証。

高度な機能と精密なエンジニアリングにより、Truth InstrumentsのAtomEdge Proは、現代の研究と産業の多様なニーズに対応する、信頼性が高く多用途な走査型力顕微鏡です。

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