logo

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบออลอินวัน อเนกประสงค์สำหรับชีววิทยา เพื่อการใช้งานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบ All In One เพื่อการทำงานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการวัดและวิเคราะห์ทางไฟฟ้าในระดับนาโน เครื่องมือขั้นสูงนี้มีความสามารถที่เหนือชั้นในการสแกนและสร้างภาพในระดับนาโน ทำให้เป็นอุปกรณ์สำคัญสำหรับนัก...
รายละเอียดสินค้า
เน้น:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบออลอินวัน

,

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม อเนกประสงค์

,

กล้องจุลทรรศน์ชีวภาพอเนกประสงค์

Name: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
Scanning Rate: 0.1-30 Hz
Scanning Method: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบของ XYZ สามแกน
Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 นาโนเมตร
Sample Size: 25 มม.
Noise Level In The XY Direction: 0.4 นาโนเมตร
Nonlinearity: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z

คุณสมบัติพื้นฐาน

ชื่อแบรนด์: Truth Instruments
เลขรุ่น: Atomedge Pro

การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์

ราคา: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
เงื่อนไขการจ่ายเงิน: t/t
คําอธิบายสินค้า

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบ All In One เพื่อการทำงานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ

รายละเอียดสินค้า:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการวัดและวิเคราะห์ทางไฟฟ้าในระดับนาโน เครื่องมือขั้นสูงนี้มีความสามารถที่เหนือชั้นในการสแกนและสร้างภาพในระดับนาโน ทำให้เป็นอุปกรณ์สำคัญสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ทำงานในสาขาต่างๆ

คุณสมบัติหลักของผลิตภัณฑ์:

  • ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm x 10 μm
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง Z: 0.04 nm
  • วิธีการสแกน: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY: 0.4 nm

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมโดดเด่นด้วยช่วงการสแกนที่ยอดเยี่ยม 100 μm ในทิศทาง X และ Y และ 10 μm ในทิศทาง Z ช่วงการสแกนที่กว้างนี้ช่วยให้สามารถสร้างภาพตัวอย่างได้อย่างละเอียดและครอบคลุมในระดับนาโน ทำให้เป็นข้อมูลเชิงลึกที่มีคุณค่าสำหรับนักวิจัยเกี่ยวกับลักษณะและคุณสมบัติของพื้นผิว

ด้วยระดับเสียงรบกวนเพียง 0.04 nm ในทิศทาง Z และ 0.4 nm ในทิศทาง XY AFM ช่วยให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำและความแม่นยำสูงในการวัด ทำให้เหมาะสำหรับการใช้งานที่ต้องการข้อมูลที่เชื่อถือได้

วิธีการสแกนของ AFM ใช้การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ ทำให้ผู้ใช้สามารถสำรวจตัวอย่างจากหลายมุมและทิศทางได้อย่างง่ายดาย แนวทางการสแกนที่หลากหลายนี้ช่วยอำนวยความสะดวกในการวิเคราะห์พื้นผิวตัวอย่างอย่างครอบคลุม ทำให้เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับการใช้งานวิจัยที่หลากหลาย

นอกจากนี้ AFM ยังมีเส้นตรงที่ยอดเยี่ยม โดยมีความไม่เป็นเชิงเส้นเพียง 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z ระดับเส้นตรงที่สูงนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าผลการวัดและการสร้างภาพมีความแม่นยำและเชื่อถือได้สูง ทำให้นักวิจัยสามารถตีความข้อมูลได้อย่างมั่นใจ

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นโซลูชัน AFM แบบ all-in-one ที่มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยม ระดับเสียงรบกวนต่ำ วิธีการสแกนที่แม่นยำ และเส้นตรงที่ยอดเยี่ยมทั้งในทิศทาง XY และ Z ด้วยคุณสมบัติขั้นสูงและการออกแบบที่ล้ำสมัย AFM เป็นเครื่องมือที่ต้องมีสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ทำการวัดและวิเคราะห์ทางไฟฟ้าในระดับนาโน

 

คุณสมบัติ:

  • ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY: 0.4 nm
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
  • อัตราการสแกน: 0.1-30 Hz
  • ขนาดตัวอย่าง: 25 มม.
  • วิธีการสแกน: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
 

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

ช่วงการสแกน 100 μm X100 μm x 10 μm
ความไม่เป็นเชิงเส้น 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง Z 0.04 nm
วิธีการสแกน การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY 0.4 nm
ขนาดตัวอย่าง 25 มม.
อัตราการสแกน 0.1-30 Hz
 

การใช้งาน:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) รุ่น AtomEdge Pro ของ Truth Instruments เป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการสูงของการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการใช้งานในอุตสาหกรรม ต้นกำเนิดจากประเทศจีน AFM ขั้นสูงนี้มีการวัดที่แม่นยำและความสามารถในการสร้างภาพสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย

AtomEdge Pro เหมาะอย่างยิ่งสำหรับโอกาสและการใช้งานผลิตภัณฑ์ต่างๆ เนื่องจากคุณสมบัติพิเศษ:

  • ระดับเสียงรบกวน: ด้วยระดับเสียงรบกวน 0.4 nm ในทิศทาง XY AtomEdge Pro ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวัดที่แม่นยำและเชื่อถือได้แม้ในสภาพแวดล้อมที่ท้าทาย
  • ขนาดตัวอย่าง: สามารถจัดการตัวอย่างได้ถึงขนาด 25 มม. AFM นี้รองรับตัวอย่างที่หลากหลายสำหรับการทดสอบที่หลากหลาย
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: AtomEdge Pro มีความแม่นยำ โดยมีอัตราความไม่เป็นเชิงเส้นต่ำ 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z ทำให้มั่นใจได้ถึงผลลัพธ์ที่สอดคล้องกันและแม่นยำ
  • อัตราการสแกน: ด้วยอัตราการสแกนตั้งแต่ 0.1 ถึง 30 Hz ผู้ใช้สามารถปรับความเร็วได้ตามความต้องการเฉพาะของการทดลอง
  • ช่วงการสแกน: ช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm ให้ความสามารถในการสร้างภาพและการวัดโดยละเอียดสำหรับตัวอย่างที่หลากหลาย

หนึ่งในคุณสมบัติเด่นของ AtomEdge Pro คือความสามารถในการทำงานใน Tapping Mode ซึ่งเป็นเทคนิคยอดนิยมใน AFM ที่ช่วยลดความเสียหายของตัวอย่างและให้ภาพความละเอียดสูง โหมดนี้มีประโยชน์อย่างยิ่งในการวิจัยทางชีวภาพและวัสดุอ่อนนุ่ม ซึ่งจำเป็นต้องมีการสร้างภาพอย่างอ่อนโยน

ไม่ว่าจะอยู่ในห้องปฏิบัติการวิจัย สถาบันการศึกษา หรือการตั้งค่าทางอุตสาหกรรม AtomEdge Pro จะพบการใช้งานในสถานการณ์ต่างๆ:

  • วิทยาศาสตร์วัสดุ: การศึกษาคุณสมบัติของพื้นผิว สัณฐานวิทยา และลักษณะทางกลของวัสดุในระดับนาโน
  • ชีววิทยา: การสร้างภาพตัวอย่างทางชีวภาพ เช่น เซลล์ โปรตีน และ DNA ด้วยความละเอียดและความแม่นยำสูง
  • นาโนเทคโนโลยี: การจำแนกวัสดุนาโนและโครงสร้างนาโนเพื่อวัตถุประสงค์ในการวิจัยและพัฒนา
  • การควบคุมคุณภาพ: การรับประกันคุณภาพของผลิตภัณฑ์โดยการวิเคราะห์ความขรุขระของพื้นผิว ข้อบกพร่อง และคุณสมบัติอื่นๆ ในระดับไมโครและนาโน

ด้วยความสามารถขั้นสูงและวิศวกรรมที่แม่นยำ AtomEdge Pro จาก Truth Instruments เป็นกล้องจุลทรรศน์แรงสแกนที่เชื่อถือได้และหลากหลาย ซึ่งตอบสนองความต้องการที่หลากหลายของการวิจัยและอุตสาหกรรมสมัยใหม่

ส่งคำถาม

ขอใบเสนอราคาด่วน