logo

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบออลอินวัน อเนกประสงค์สำหรับชีววิทยา เพื่อการใช้งานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
รายละเอียดสินค้า
เน้น:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบออลอินวัน

,

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม อเนกประสงค์

,

กล้องจุลทรรศน์ชีวภาพอเนกประสงค์

Name: กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
Scanning Rate: 0.1-30 Hz
Scanning Method: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบของ XYZ สามแกน
Scanning Range: 100 μm x100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 นาโนเมตร
Sample Size: 25 มม.
Noise Level In The XY Direction: 0.4 นาโนเมตร
Nonlinearity: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z

คุณสมบัติพื้นฐาน

ชื่อแบรนด์: Truth Instruments
เลขรุ่น: Atomedge Pro

การซื้อขายอสังหาริมทรัพย์

ราคา: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
เงื่อนไขการจ่ายเงิน: t/t
คําอธิบายสินค้า

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมแบบ All In One เพื่อการทำงานที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ

รายละเอียดสินค้า:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือล้ำสมัยที่ออกแบบมาสำหรับการวัดและวิเคราะห์ทางไฟฟ้าในระดับนาโน เครื่องมือขั้นสูงนี้มีความสามารถที่เหนือชั้นในการสแกนและสร้างภาพในระดับนาโน ทำให้เป็นอุปกรณ์สำคัญสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ทำงานในสาขาต่างๆ

คุณสมบัติหลักของผลิตภัณฑ์:

  • ช่วงการสแกน: 100 μm X 100 μm x 10 μm
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง Z: 0.04 Nm
  • วิธีการสแกน: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY: 0.4 Nm

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมโดดเด่นด้วยช่วงการสแกนที่ยอดเยี่ยม 100 μm ในทิศทาง X และ Y และ 10 μm ในทิศทาง Z ช่วงการสแกนที่กว้างนี้ช่วยให้สามารถสร้างภาพตัวอย่างได้อย่างละเอียดและครอบคลุมในระดับนาโน ทำให้เป็นข้อมูลเชิงลึกที่มีคุณค่าสำหรับนักวิจัยเกี่ยวกับลักษณะและคุณสมบัติของพื้นผิว

ด้วยระดับเสียงรบกวนเพียง 0.04 Nm ในทิศทาง Z และ 0.4 Nm ในทิศทาง XY AFM ช่วยให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำและความแม่นยำสูงในการวัด ทำให้เหมาะสำหรับการใช้งานที่ต้องการข้อมูลที่เชื่อถือได้

วิธีการสแกนของ AFM ใช้การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ ทำให้ผู้ใช้สามารถสำรวจตัวอย่างจากหลายมุมและทิศทางได้อย่างง่ายดาย แนวทางการสแกนที่หลากหลายนี้ช่วยอำนวยความสะดวกในการวิเคราะห์พื้นผิวตัวอย่างอย่างครอบคลุม ทำให้เป็นเครื่องมือที่มีคุณค่าสำหรับการใช้งานวิจัยที่หลากหลาย

นอกจากนี้ AFM ยังมีเส้นตรงที่ยอดเยี่ยม โดยมีความไม่เป็นเชิงเส้นเพียง 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z ระดับเส้นตรงที่สูงนี้ช่วยให้มั่นใจได้ว่าผลการวัดและการสร้างภาพมีความแม่นยำและเชื่อถือได้สูง ทำให้นักวิจัยสามารถตีความข้อมูลได้อย่างมั่นใจ

โดยสรุป กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นโซลูชัน AFM แบบ all-in-one ที่มีความสามารถในการสแกนที่ยอดเยี่ยม ระดับเสียงรบกวนต่ำ วิธีการสแกนที่แม่นยำ และเส้นตรงที่ยอดเยี่ยมทั้งในทิศทาง XY และ Z ด้วยคุณสมบัติขั้นสูงและการออกแบบที่ล้ำสมัย AFM เป็นเครื่องมือที่ต้องมีสำหรับนักวิจัยและนักวิทยาศาสตร์ที่ทำการวัดและวิเคราะห์ทางไฟฟ้าในระดับนาโน

 

คุณสมบัติ:

  • ชื่อผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
  • ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY: 0.4 Nm
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
  • อัตราการสแกน: 0.1-30 Hz
  • ขนาดตัวอย่าง: 25 มม.
  • วิธีการสแกน: การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
 

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

ช่วงการสแกน 100 μm X100 μm x 10 μm
ความไม่เป็นเชิงเส้น 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง Z 0.04 Nm
วิธีการสแกน การสแกนตัวอย่างเต็มรูปแบบสามแกน XYZ
ระดับเสียงรบกวนในทิศทาง XY 0.4 Nm
ขนาดตัวอย่าง 25 มม.
อัตราการสแกน 0.1-30 Hz
 

การใช้งาน:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) รุ่น AtomEdge Pro ของ Truth Instruments เป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการสูงของการวิจัยทางวิทยาศาสตร์และการใช้งานในอุตสาหกรรม ต้นกำเนิดจากประเทศจีน AFM ขั้นสูงนี้มีการวัดที่แม่นยำและความสามารถในการสร้างภาพสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย

AtomEdge Pro เหมาะอย่างยิ่งสำหรับโอกาสและการใช้งานผลิตภัณฑ์ต่างๆ เนื่องจากคุณสมบัติพิเศษ:

  • ระดับเสียงรบกวน: ด้วยระดับเสียงรบกวน 0.4 Nm ในทิศทาง XY AtomEdge Pro ช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวัดที่แม่นยำและเชื่อถือได้แม้ในสภาพแวดล้อมที่ท้าทาย
  • ขนาดตัวอย่าง: สามารถจัดการตัวอย่างได้ถึงขนาด 25 มม. AFM นี้รองรับตัวอย่างที่หลากหลายสำหรับการทดสอบที่หลากหลาย
  • ความไม่เป็นเชิงเส้น: AtomEdge Pro มีความแม่นยำ โดยมีอัตราความไม่เป็นเชิงเส้นต่ำ 0.02% ในทิศทาง XY และ 0.08% ในทิศทาง Z ทำให้มั่นใจได้ถึงผลลัพธ์ที่สอดคล้องกันและแม่นยำ
  • อัตราการสแกน: ด้วยอัตราการสแกนตั้งแต่ 0.1 ถึง 30 Hz ผู้ใช้สามารถปรับความเร็วได้ตามความต้องการเฉพาะของการทดลอง
  • ช่วงการสแกน: ช่วงการสแกน 100 μm x 100 μm x 10 μm ให้ความสามารถในการสร้างภาพและการวัดโดยละเอียดสำหรับตัวอย่างที่หลากหลาย

หนึ่งในคุณสมบัติเด่นของ AtomEdge Pro คือความสามารถในการทำงานใน Tapping Mode ซึ่งเป็นเทคนิคยอดนิยมใน AFM ที่ช่วยลดความเสียหายของตัวอย่างและให้ภาพความละเอียดสูง โหมดนี้มีประโยชน์อย่างยิ่งในการวิจัยทางชีวภาพและวัสดุอ่อนนุ่ม ซึ่งจำเป็นต้องมีการสร้างภาพอย่างอ่อนโยน

ไม่ว่าจะอยู่ในห้องปฏิบัติการวิจัย สถาบันการศึกษา หรือการตั้งค่าทางอุตสาหกรรม AtomEdge Pro จะพบการใช้งานในสถานการณ์ต่างๆ:

  • วิทยาศาสตร์วัสดุ: การศึกษาคุณสมบัติของพื้นผิว สัณฐานวิทยา และลักษณะทางกลของวัสดุในระดับนาโน
  • ชีววิทยา: การสร้างภาพตัวอย่างทางชีวภาพ เช่น เซลล์ โปรตีน และ DNA ด้วยความละเอียดและความแม่นยำสูง
  • นาโนเทคโนโลยี: การจำแนกวัสดุนาโนและโครงสร้างนาโนเพื่อวัตถุประสงค์ในการวิจัยและพัฒนา
  • การควบคุมคุณภาพ: การรับประกันคุณภาพของผลิตภัณฑ์โดยการวิเคราะห์ความขรุขระของพื้นผิว ข้อบกพร่อง และคุณสมบัติอื่นๆ ในระดับไมโครและนาโน

ด้วยความสามารถขั้นสูงและวิศวกรรมที่แม่นยำ AtomEdge Pro จาก Truth Instruments เป็นกล้องจุลทรรศน์แรงสแกนที่เชื่อถือได้และหลากหลาย ซึ่งตอบสนองความต้องการที่หลากหลายของการวิจัยและอุตสาหกรรมสมัยใหม่

ส่งคำถาม

ขอใบเสนอราคาด่วน