Microscopio di forza atomica all in one Microscopi biologici multifunzionali per un funzionamento flessibile e preciso

Descrizione del Prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per la misurazione e l'analisi elettrica su scala nanometrica. Questo strumento avanzato offre capacità senza pari nella scansione e nell'imaging a livello nanometrico, rendendolo un dispositivo essenziale per ricercatori e scienziati che lavorano in vari campi.

Principali Attributi del Prodotto:

• Gamma di Scansione: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Livello di Rumore nella Direzione Z: 0.04 Nm
• Metodo di Scansione: Scansione completa del campione a tre assi XYZ
• Non linearità: 0.02% nella direzione XY e 0.08% nella direzione Z
• Livello di Rumore nella Direzione XY: 0.4 Nm

Il Microscopio a Forza Atomica si distingue per la sua eccezionale gamma di scansione di 100 μm nelle direzioni X e Y e di 10 μm nella direzione Z. Questa ampia gamma di scansione consente un'imaging dettagliato e completo dei campioni a livello nanometrico, fornendo ai ricercatori preziose informazioni sulle caratteristiche e proprietà della superficie.

Con un livello di rumore di soli 0.04 Nm nella direzione Z e 0.4 Nm nella direzione XY, l'AFM garantisce alta precisione e accuratezza nelle misurazioni, rendendolo ideale per applicazioni esigenti che richiedono un'acquisizione dati affidabile.

Il metodo di scansione dell'AFM impiega la scansione completa del campione a tre assi XYZ, consentendo agli utenti di esplorare i campioni da più angolazioni e direzioni con facilità. Questo approccio di scansione versatile facilita l'analisi completa delle superfici dei campioni, rendendolo uno strumento prezioso per un'ampia gamma di applicazioni di ricerca.

Inoltre, l'AFM vanta un'eccellente linearità, con solo lo 0.02% di non linearità nella direzione XY e lo 0.08% di non linearità nella direzione Z. Questo elevato livello di linearità garantisce che le misurazioni e i risultati dell'imaging siano altamente accurati e affidabili, consentendo ai ricercatori di interpretare con sicurezza i propri dati.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica è una soluzione AFM all-in-one che offre eccezionali capacità di scansione, bassi livelli di rumore, metodi di scansione precisi ed eccellente linearità sia nelle direzioni XY che Z. Con le sue funzionalità avanzate e il design all'avanguardia, l'AFM è uno strumento indispensabile per ricercatori e scienziati che conducono misurazioni e analisi elettriche su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del Prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Livello di Rumore nella Direzione XY: 0.4 Nm
• Non linearità: 0.02% nella direzione XY e 0.08% nella direzione Z
• Velocità di Scansione: 0.1-30 Hz
• Dimensione del Campione: 25 Mm
• Metodo di Scansione: Scansione completa del campione a tre assi XYZ

Parametri Tecnici:

Applicazioni:

Il modello AtomEdge Pro del Microscopio a Forza Atomica (AFM) di Truth Instruments è uno strumento all'avanguardia progettato per soddisfare le elevate esigenze della ricerca scientifica e delle applicazioni industriali. Originario della Cina, questo AFM avanzato offre misurazioni precise e capacità di imaging per un'ampia gamma di applicazioni.

L'AtomEdge Pro è ideale per varie occasioni e scenari di applicazione del prodotto grazie alle sue caratteristiche eccezionali:

• Livello di Rumore: Con un livello di rumore di 0.4 Nm nella direzione XY, l'AtomEdge Pro garantisce misurazioni accurate e affidabili anche in ambienti difficili.
• Dimensione del Campione: In grado di gestire campioni fino a 25 mm di dimensione, questo AFM si adatta a un'ampia gamma di tipi di campioni per test versatili.
• Non linearità: Offrendo precisione, l'AtomEdge Pro vanta bassi tassi di non linearità dello 0.02% nella direzione XY e dello 0.08% nella direzione Z, garantendo risultati coerenti e accurati.
• Velocità di Scansione: Con una velocità di scansione che va da 0.1 a 30 Hz, gli utenti possono regolare la velocità in base alle esigenze specifiche dei loro esperimenti.
• Gamma di Scansione: La gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm offre capacità di imaging e misurazione dettagliate per un'ampia gamma di campioni.

Una delle caratteristiche principali dell'AtomEdge Pro è la sua capacità di operare in Tapping Mode, una tecnica popolare nell'AFM che riduce al minimo i danni al campione e fornisce immagini ad alta risoluzione. Questa modalità è particolarmente utile nella ricerca biologica e sui materiali morbidi, dove l'imaging delicato è essenziale.

Sia nei laboratori di ricerca, nelle istituzioni accademiche o in contesti industriali, l'AtomEdge Pro trova applicazione in vari scenari:

• Scienza dei Materiali: Studio delle proprietà della superficie, della morfologia e delle caratteristiche meccaniche dei materiali su scala nanometrica.
• Biologia: Imaging di campioni biologici come cellule, proteine e DNA con alta risoluzione e precisione.
• Nanotecnologia: Caratterizzazione di nanomateriali e nanostrutture per scopi di ricerca e sviluppo.
• Controllo Qualità: Garantire la qualità del prodotto analizzando la rugosità superficiale, i difetti e altre caratteristiche a micro e nanoscala.

Con le sue capacità avanzate e l'ingegneria di precisione, l'AtomEdge Pro di Truth Instruments è un microscopio a forza di scansione affidabile e versatile che soddisfa le diverse esigenze della ricerca e dell'industria moderne.