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सभी एक में परमाणु बल माइक्रोस्कोप लचीला सटीक संचालन के लिए बहु कार्यात्मक जीव विज्ञान माइक्रोस्कोप

All In One Atomic Force Microscope For Flexible Precise Operation Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool designed for nanoscale electrical measurement and analysis. This advanced instrument offers unparalleled capabilities in scanning and imaging at the nanoscale level, making it an essential device for researchers and scientists working in various fields. Key Product Attributes: Scanning Range: 100 μm X 100 μm x 10 μm Noise Level in the
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:

एक परमाणु बल माइक्रोस्कोप में सब कुछ

,

परमाणु बल माइक्रोस्कोप बहुक्रियाशील

,

बहुक्रियाशील जीव विज्ञान माइक्रोस्कोप

Name: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
Scanning Rate: 0.1-30 हर्ट्ज
Scanning Method: XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग
Scanning Range: 100 μM X100 μMX 10 माइक्रोन
Noise Level In The Z Direction: 0.04 एनएम
Sample Size: 25 मिमी
Noise Level In The XY Direction: 0.4 एनएम
Nonlinearity: XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%

मूल गुण

ब्रांड नाम: Truth Instruments
मॉडल संख्या: परमाणु -समर्थक

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें: टी/टी
उत्पाद का वर्णन

फ्लेक्सिबल सटीक संचालन के लिए ऑल इन वन एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप

उत्पाद विवरण:

एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एएफएम) नैनोस्केल विद्युत माप और विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्याधुनिक उपकरण है। यह उन्नत उपकरण नैनोस्केल स्तर पर स्कैनिंग और इमेजिंग में अद्वितीय क्षमताएं प्रदान करता है, जो इसे विभिन्न क्षेत्रों में काम करने वाले शोधकर्ताओं और वैज्ञानिकों के लिए एक आवश्यक उपकरण बनाता है।

मुख्य उत्पाद विशेषताएँ:

  • स्कैनिंग रेंज: 100 μm X 100 μm x 10 μm
  • Z दिशा में शोर का स्तर: 0.04 Nm
  • स्कैनिंग विधि: XYZ थ्री-एक्सिस फुल सैंपल स्कैनिंग
  • अरेखीयता: XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
  • XY दिशा में शोर का स्तर: 0.4 Nm

एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप X और Y दिशाओं में 100 μm और Z दिशा में 10 μm की अपनी असाधारण स्कैनिंग रेंज के साथ अलग दिखता है। यह विस्तृत स्कैनिंग रेंज शोधकर्ताओं को सतह की विशेषताओं और गुणों में मूल्यवान अंतर्दृष्टि प्रदान करते हुए, नैनोस्केल स्तर पर नमूनों की विस्तृत और व्यापक इमेजिंग की अनुमति देता है।

Z दिशा में केवल 0.04 Nm और XY दिशा में 0.4 Nm के शोर स्तर के साथ, AFM माप में उच्च परिशुद्धता और सटीकता सुनिश्चित करता है, जो इसे विश्वसनीय डेटा अधिग्रहण की आवश्यकता वाले मांग वाले अनुप्रयोगों के लिए आदर्श बनाता है।

AFM की स्कैनिंग विधि XYZ थ्री-एक्सिस फुल सैंपल स्कैनिंग का उपयोग करती है, जिससे उपयोगकर्ता आसानी से कई कोणों और दिशाओं से नमूनों का पता लगा सकते हैं। यह बहुमुखी स्कैनिंग दृष्टिकोण नमूना सतहों के व्यापक विश्लेषण की सुविधा प्रदान करता है, जो इसे अनुसंधान अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए एक मूल्यवान उपकरण बनाता है।

इसके अतिरिक्त, AFM उत्कृष्ट रैखिकता का दावा करता है, XY दिशा में केवल 0.02% अरेखीयता और Z दिशा में 0.08% अरेखीयता के साथ। रैखिकता का यह उच्च स्तर यह सुनिश्चित करता है कि माप और इमेजिंग परिणाम अत्यधिक सटीक और विश्वसनीय हैं, जिससे शोधकर्ता आत्मविश्वास से अपने डेटा की व्याख्या कर सकते हैं।

संक्षेप में, एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप एक ऑल-इन-वन एएफएम समाधान है जो XY और Z दोनों दिशाओं में असाधारण स्कैनिंग क्षमताएं, कम शोर स्तर, सटीक स्कैनिंग विधियां और उत्कृष्ट रैखिकता प्रदान करता है। अपनी उन्नत सुविधाओं और अत्याधुनिक डिजाइन के साथ, एएफएम शोधकर्ताओं और वैज्ञानिकों के लिए नैनोस्केल विद्युत माप और विश्लेषण करने के लिए एक आवश्यक उपकरण है।

 

विशेषताएँ:

  • उत्पाद का नाम: एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप
  • XY दिशा में शोर का स्तर: 0.4 Nm
  • अरेखीयता: XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
  • स्कैनिंग दर: 0.1-30 हर्ट्ज
  • नमूना आकार: 25 मिमी
  • स्कैनिंग विधि: XYZ थ्री-एक्सिस फुल सैंपल स्कैनिंग
 

तकनीकी पैरामीटर:

स्कैनिंग रेंज 100 μm X100 μm x 10 μm
अरेखीयता XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
Z दिशा में शोर का स्तर 0.04 Nm
स्कैनिंग विधि XYZ थ्री-एक्सिस फुल सैंपल स्कैनिंग
XY दिशा में शोर का स्तर 0.4 Nm
नमूना आकार 25 मिमी
स्कैनिंग दर 0.1-30 हर्ट्ज
 

अनुप्रयोग:

ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स का एटॉमिक फोर्स माइक्रोस्कोप (एएफएम) मॉडल एटमएज प्रो एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे वैज्ञानिक अनुसंधान और औद्योगिक अनुप्रयोगों की उच्च मांगों को पूरा करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। चीन से उत्पन्न, यह उन्नत एएफएम अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए सटीक माप और इमेजिंग क्षमताएं प्रदान करता है।

एटमएज प्रो अपनी असाधारण विशेषताओं के कारण विभिन्न उत्पाद अनुप्रयोग अवसरों और परिदृश्यों के लिए आदर्श है:

  • शोर का स्तर: XY दिशा में 0.4 Nm के शोर स्तर के साथ, एटमएज प्रो चुनौतीपूर्ण वातावरण में भी सटीक और विश्वसनीय माप सुनिश्चित करता है।
  • नमूना आकार: 25 मिमी तक के आकार के नमूनों को संभालने में सक्षम, यह एएफएम बहुमुखी परीक्षण के लिए विभिन्न प्रकार के नमूनों को समायोजित करता है।
  • अरेखीयता: सटीकता प्रदान करते हुए, एटमएज प्रो XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08% की कम अरेखीयता दर का दावा करता है, जो सुसंगत और सटीक परिणाम सुनिश्चित करता है।
  • स्कैनिंग दर: 0.1 से 30 हर्ट्ज तक की स्कैनिंग दर के साथ, उपयोगकर्ता अपने प्रयोगों की विशिष्ट आवश्यकताओं के आधार पर गति को समायोजित कर सकते हैं।
  • स्कैनिंग रेंज: 100 μm x 100 μm x 10 μm की स्कैनिंग रेंज नमूनों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए विस्तृत इमेजिंग और माप क्षमताएं प्रदान करती है।

एटमएज प्रो की एक उत्कृष्ट विशेषता टैपिंग मोड में संचालित करने की क्षमता है, जो एएफएम में एक लोकप्रिय तकनीक है जो नमूना क्षति को कम करती है और उच्च-रिज़ॉल्यूशन चित्र प्रदान करती है। यह मोड विशेष रूप से जैविक और नरम सामग्री अनुसंधान में उपयोगी है जहां कोमल इमेजिंग आवश्यक है।

चाहे अनुसंधान प्रयोगशालाओं, शैक्षणिक संस्थानों या औद्योगिक सेटिंग्स में, एटमएज प्रो विभिन्न परिदृश्यों में अपना अनुप्रयोग पाता है:

  • सामग्री विज्ञान: नैनोस्केल पर सामग्री के सतह गुणों, आकृति विज्ञान और यांत्रिक विशेषताओं का अध्ययन करना।
  • जीव विज्ञान: उच्च रिज़ॉल्यूशन और सटीकता के साथ कोशिकाओं, प्रोटीन और डीएनए जैसे जैविक नमूनों की इमेजिंग।
  • नैनोप्रौद्योगिकी: अनुसंधान और विकास उद्देश्यों के लिए नैनोमैटेरियल्स और नैनोस्ट्रक्चर की विशेषता।
  • गुणवत्ता नियंत्रण: माइक्रो और नैनोस्केल पर सतह खुरदरापन, दोष और अन्य विशेषताओं का विश्लेषण करके उत्पाद की गुणवत्ता सुनिश्चित करना।

अपनी उन्नत क्षमताओं और सटीक इंजीनियरिंग के साथ, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स का एटमएज प्रो एक विश्वसनीय और बहुमुखी स्कैनिंग फोर्स माइक्रोस्कोप है जो आधुनिक अनुसंधान और उद्योग की विविध आवश्यकताओं को पूरा करता है।

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