Multifunktionales Rasterkraftmikroskop mit geringem Rauschen für Materialuntersuchungen mit MFM-, EFM- und PFM-Modi

Produktbeschreibung:

Eines der Hauptmerkmale des AFM sind seine geringen Rauschpegel sowohl in Z- als auch in XY-Richtung, die genaue und zuverlässige Messungen gewährleisten. Der Rauschpegel in Z-Richtung beträgt beeindruckende 0,04 Nm und bietet eine außergewöhnliche Empfindlichkeit für die Erfassung subtiler Oberflächenvariationen und -interaktionen. In XY-Richtung wird der Rauschpegel bei 0,4 Nm gehalten, was die Präzision des Bildgebungs- und Scanvorgangs weiter erhöht.

Das AFM bietet eine großzügige Probengrößenkapazität von 25 mm und eignet sich somit für eine Vielzahl von Proben zur Analyse. Seine vielseitige Scanmethode verwendet ein XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning, das umfassende Messungen und Analysen der Probenoberfläche ermöglicht. Der Scanbereich des AFM ist ausgedehnt und deckt 100 μm x 100 μm x 10 μm ab, was eine detaillierte Bildgebung und Kartierung von Nanostrukturen und Oberflächenmerkmalen ermöglicht.

Forscher und Wissenschaftler können von den Fähigkeiten des AFM in der elektrischen Messung im Nanobereich stark profitieren, wodurch die Charakterisierung elektrischer Eigenschaften im Nanometerbereich ermöglicht wird. Die Elektrostatische Kraftmikroskopie-Funktion des AFM ermöglicht die Untersuchung der Oberflächenladungsverteilung und elektrostatischer Wechselwirkungen und liefert wertvolle Einblicke in das Verhalten von Materialien auf atomarer Ebene.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Rasterkraftmikroskop ein hochentwickeltes Instrument ist, das beispiellose Präzision, Empfindlichkeit und Vielseitigkeit für die Bildgebung und Messung im Nanobereich bietet. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen, den geringen Rauschpegeln und den umfassenden Scanfunktionen ist das AFM ein unverzichtbares Werkzeug für die wissenschaftliche Forschung und Erkundung in verschiedenen Disziplinen.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Nichtlinearität: 0,02 % in XY-Richtung und 0,08 % in Z-Richtung
• Scangeschwindigkeit: 0,1-30 Hz
• Probengröße: 25 mm
• Rauschpegel in Z-Richtung: 0,04 Nm
• Scanmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning

Technische Parameter:

Anwendungen:

Eine der wichtigsten Anwendungsmöglichkeiten für das AtomEdge Pro ist die Oberflächenanalyse . Forscher und Wissenschaftler können dieses AFM verwenden, um die Topographie und Eigenschaften einer Vielzahl von Oberflächen auf Nanoebene zu untersuchen. Die Rauschpegel des Instruments in Z-Richtung, die 0,04 Nm messen, gewährleisten genaue und zuverlässige Messungen und machen es ideal für die Analyse und Charakterisierung der Oberflächenrauheit.

Ein weiteres wichtiges Szenario für die Verwendung des AtomEdge Pro ist die Materialwissenschaft Forschung. Der Scanbereich von 100 μm X 100 μm x 10 μm, gekoppelt mit einem Rauschpegel von 0,4 Nm in XY-Richtung, ermöglicht eine detaillierte Untersuchung der Materialeigenschaften auf Nanoebene. Ob beim Studium von Dünnschichten, Polymeren oder Verbundwerkstoffen, dieses AFM liefert wertvolle Einblicke in die Materialzusammensetzung und -struktur.

Darüber hinaus bietet die Scanmethode des AtomEdge Pro, die das XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scanning verwendet, Flexibilität und Präzision bei der Bildgebung verschiedener Proben. Forscher können Nanomaterialien , biologische Proben und Halbleiterbauelemente mit Leichtigkeit untersuchen, dank der Scangeschwindigkeit des Instruments von 0,1-30 Hz.

In der Wissenschaft dient das AtomEdge Pro als unverzichtbares Werkzeug für die Nanotechnologie Forschung, das es Wissenschaftlern ermöglicht, in die komplizierte Welt der Nanomaterialien und Nanostrukturen einzutauchen. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten und die benutzerfreundliche Oberfläche machen es zu einer bevorzugten Wahl für das Studium von Nano-Phänomenen und die Durchführung von Experimenten mit hoher Präzision.