মাল্টি ফাংশনাল অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ লো নয়েজ ম্যাটেরিয়ালস মাইক্রোস্কোপ উইথ এমএফএম ইএফএম পিএফএম মোড
মাল্টি ফাংশনাল অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
,অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ লো নয়েজ
,লো নয়েজ ম্যাটেরিয়ালস মাইক্রোস্কোপ
মৌলিক বৈশিষ্ট্য
বাণিজ্যিক সম্পত্তি
MFM EFM PFM মোড সহ মাল্টি ফাংশনাল অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
পণ্য বিবরণ:
AFM-এর অন্যতম প্রধান বৈশিষ্ট্য হল Z দিক এবং XY উভয় দিকেই এর কম শব্দের মাত্রা, সঠিক এবং নির্ভরযোগ্য পরিমাপ নিশ্চিত করে। Z দিক থেকে শব্দের মাত্রা একটি চিত্তাকর্ষক 0.04 nm, যা সূক্ষ্ম পৃষ্ঠের বৈচিত্র এবং মিথস্ক্রিয়া ক্যাপচার করার জন্য ব্যতিক্রমী সংবেদনশীলতা প্রদান করে। XY দিক থেকে, শব্দের মাত্রা 0.4 nm বজায় রাখা হয়, যা ইমেজিং এবং স্ক্যানিং প্রক্রিয়ার নির্ভুলতাকে আরও বাড়িয়ে তোলে।
AFM একটি উদার নমুনা আকার ধারণক্ষমতা 25 মিমি, বিশ্লেষণের জন্য নমুনার একটি বিস্তৃত পরিসর মিটমাট করা প্রস্তাব. এর বহুমুখী স্ক্যানিং পদ্ধতি XYZ তিন-অক্ষের পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং ব্যবহার করে, যা নমুনা পৃষ্ঠের ব্যাপক পরিমাপ এবং বিশ্লেষণের অনুমতি দেয়। AFM এর স্ক্যানিং পরিসর বিস্তৃত, 100 μm x 100 μm x 10 μm কভার করে, ন্যানোস্ট্রাকচার এবং পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্যগুলির বিস্তারিত ইমেজিং এবং ম্যাপিং সক্ষম করে।
গবেষক এবং বিজ্ঞানীরা ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক পরিমাপের ক্ষেত্রে AFM এর ক্ষমতা থেকে ব্যাপকভাবে উপকৃত হতে পারেন, যা ন্যানোমিটার স্কেলে বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্যগুলির বৈশিষ্ট্যকে সক্ষম করে। AFM-এর ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি বৈশিষ্ট্যটি পৃষ্ঠের চার্জ বিতরণ এবং ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক মিথস্ক্রিয়াগুলির তদন্তের জন্য অনুমতি দেয়, যা পারমাণবিক স্তরে পদার্থের আচরণে মূল্যবান অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।
উপসংহারে, অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র যা ন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং পরিমাপের জন্য অতুলনীয় নির্ভুলতা, সংবেদনশীলতা এবং বহুমুখিতা প্রদান করে। এর উন্নত বৈশিষ্ট্য, কম শব্দের মাত্রা এবং ব্যাপক স্ক্যানিং ক্ষমতা সহ, AFM বিভিন্ন শাখায় বৈজ্ঞানিক গবেষণা এবং অনুসন্ধানের জন্য একটি অপরিহার্য হাতিয়ার।
বৈশিষ্ট্য:
- পণ্যের নাম: অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
- অরৈখিকতা: 0.02% XY দিক এবং 0.08% Z দিকনির্দেশে
- স্ক্যানিং রেট: 0.1-30 Hz
- নমুনার আকার: 25 মিমি
- জেড ডিরেকশনে নয়েজ লেভেল: 0.04 এনএম
- স্ক্যানিং পদ্ধতি: XYZ তিন-অক্ষ সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং
প্রযুক্তিগত পরামিতি:
| নমুনা আকার | 25 মিমি |
| স্ক্যানিং রেট | 0.1-30 Hz |
| স্ক্যানিং পরিসীমা | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| অরৈখিকতা | XY দিক থেকে 0.02% এবং Z দিক থেকে 0.08% |
| জেড ডিরেকশনে নয়েজ লেভেল | 0.04 এনএম |
| স্ক্যানিং পদ্ধতি | XYZ তিন-অক্ষ সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং |
| XY নির্দেশনায় নয়েজ লেভেল | 0.4 এনএম |
অ্যাপ্লিকেশন:
AtomEdge Pro-এর জন্য একটি মূল অ্যাপ্লিকেশন অনুষ্ঠান হলপৃষ্ঠ বিশ্লেষণ. গবেষক এবং বিজ্ঞানীরা ন্যানোস্কেল স্তরে বিস্তৃত সারফেসের টপোগ্রাফি এবং বৈশিষ্ট্যগুলি তদন্ত করতে এই AFM ব্যবহার করতে পারেন। Z দিকের যন্ত্রের শব্দের মাত্রা, 0.04 nm পরিমাপ করে, সঠিক এবং নির্ভরযোগ্য পরিমাপ নিশ্চিত করে, এটি পৃষ্ঠের রুক্ষতা বিশ্লেষণ এবং চরিত্রায়নের জন্য আদর্শ করে তোলে।
AtomEdge Pro ব্যবহার করার জন্য আরেকটি গুরুত্বপূর্ণ দৃশ্য রয়েছেপদার্থ বিজ্ঞানগবেষণা 100 μm X 100 μm x 10 μm এর স্ক্যানিং পরিসীমা, XY দিক থেকে 0.4 nm এর শব্দ স্তরের সাথে মিলিত, ন্যানোস্কেলে উপাদান বৈশিষ্ট্যগুলির বিশদ পরীক্ষা সক্ষম করে৷ পাতলা ফিল্ম, পলিমার, বা কম্পোজিট অধ্যয়ন করা হোক না কেন, এই AFM উপাদানের গঠন এবং গঠন সম্পর্কে মূল্যবান অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।
অধিকন্তু, AtomEdge Pro এর স্ক্যানিং পদ্ধতি, XYZ তিন-অক্ষের সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং ব্যবহার করে, বিভিন্ন নমুনা ইমেজ করার ক্ষেত্রে নমনীয়তা এবং নির্ভুলতা প্রদান করে। গবেষকরা অন্বেষণ করতে পারেনন্যানো উপাদান, জৈবিক নমুনা, এবং অর্ধপরিবাহী ডিভাইস সহজে, যন্ত্রের স্ক্যানিং হার 0.1-30 Hz এর জন্য ধন্যবাদ।
একাডেমিয়ায়, AtomEdge Pro এর জন্য একটি অপরিহার্য হাতিয়ার হিসেবে কাজ করেন্যানো প্রযুক্তিগবেষণা, বিজ্ঞানীদের ন্যানোম্যাটেরিয়ালস এবং ন্যানোস্ট্রাকচারের জটিল জগতে অনুসন্ধান করার অনুমতি দেয়। এর উন্নত ক্ষমতা এবং ব্যবহারকারী-বান্ধব ইন্টারফেস এটিকে ন্যানোস্কেল ঘটনা অধ্যয়ন এবং উচ্চ নির্ভুলতার সাথে পরীক্ষা পরিচালনা করার জন্য একটি পছন্দের পছন্দ করে তোলে।