Microscopio de fuerza atómica multifuncional para materiales de bajo ruido con modos MFM, EFM y PFM

Descripción del producto:

Una de las características clave del AFM es su bajo nivel de ruido tanto en la dirección Z como en la dirección XY, lo que garantiza mediciones precisas y confiables..En la dirección XY, el nivel de ruido se mantiene en 0,4 Nm,mejora aún más la precisión del proceso de obtención de imágenes y escaneo.

El AFM ofrece una generosa capacidad de tamaño de muestra de 25 mm, que puede acomodar una amplia gama de muestras para análisis.que permitan realizar mediciones y análisis completos de la superficie de la muestraEl rango de escaneo del AFM es amplio, cubriendo 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite la obtención de imágenes detalladas y el mapeo de las nanostructuras y las características de la superficie.

Los investigadores y científicos pueden beneficiarse enormemente de las capacidades del AFM en la medición eléctrica a nanoescala, que permite la caracterización de propiedades eléctricas a escala nanométrica.La función de microscopía de fuerza electrostática del AFM permite la investigación de la distribución de carga superficial y las interacciones electrostáticas, proporcionando información valiosa sobre el comportamiento de los materiales a nivel atómico.

En conclusión, el microscopio de la fuerza atómica es un instrumento sofisticado que ofrece una precisión, sensibilidad y versatilidad sin igual para la obtención de imágenes y mediciones a nanoescala.Con sus características avanzadasEl AFM es una herramienta indispensable para la investigación científica y la exploración en diversas disciplinas.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• No linealidad: 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z
• Tasa de escaneo: 0,1-30 Hz
• Tamaño de la muestra: 25 mm
• Nivel de ruido en la dirección Z: 0,04 Nm
• Método de escaneo: XYZ Escaneo de muestra completa en tres ejes

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

Una de las ocasiones de aplicación clave para el AtomEdge Pro está enanálisis de superficieLos investigadores y científicos pueden utilizar este AFM para investigar la topografía y las propiedades de una amplia gama de superficies a nivel nanométrico.medición 0.04 Nm, garantiza mediciones precisas y fiables, lo que lo hace ideal para el análisis y la caracterización de la rugosidad de la superficie.

Otro escenario importante para el uso de AtomEdge Pro es enCiencias de los materialesEl rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm, junto con un nivel de ruido de 0,4 Nm en la dirección XY, permite el examen detallado de las propiedades de los materiales a nanoescala.Ya sea estudiando películas finas, polímeros o compuestos, este AFM proporciona información valiosa sobre la composición y la estructura del material.

Además, el método de escaneo del AtomEdge Pro, que utiliza el escaneo completo de muestras de tres ejes XYZ, ofrece flexibilidad y precisión en la obtención de imágenes de varias muestras.Nanomateriales, muestras biológicas y dispositivos semiconductores con facilidad, gracias a la frecuencia de escaneo del instrumento de 0,1-30 Hz.

En el mundo académico, AtomEdge Pro sirve como una herramienta indispensable parananotecnologíaLa investigación permite a los científicos profundizar en el complejo mundo de los nanomateriales y las nanoestructuras.Sus capacidades avanzadas e interfaz fácil de usar lo convierten en una opción preferida para estudiar fenómenos a nanoescala y realizar experimentos con alta precisión.