Microscopio de fuerza atómica multifuncional para materiales de bajo ruido con modos MFM, EFM y PFM

Descripción del producto:

Una de las características clave del AFM son sus bajos niveles de ruido tanto en la dirección Z como en la dirección XY, lo que garantiza mediciones precisas y fiables. El nivel de ruido en la dirección Z es de unos impresionantes 0,04 nm, lo que proporciona una sensibilidad excepcional para capturar sutiles variaciones e interacciones de la superficie. En la dirección XY, el nivel de ruido se mantiene en 0,4 nm, lo que mejora aún más la precisión del proceso de imagen y escaneo.

El AFM ofrece una generosa capacidad de tamaño de muestra de 25 mm, lo que permite acomodar una amplia gama de muestras para su análisis. Su versátil método de escaneo utiliza el escaneo completo de la muestra de tres ejes XYZ, lo que permite mediciones y análisis completos de la superficie de la muestra. El rango de escaneo del AFM es extenso, cubriendo 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite la obtención de imágenes y el mapeo detallados de nanoestructuras y características de la superficie.

Los investigadores y científicos pueden beneficiarse enormemente de las capacidades del AFM en la medición eléctrica a nanoescala, lo que permite la caracterización de las propiedades eléctricas a la escala nanométrica. La función de Microscopía de Fuerza Electroestática del AFM permite la investigación de la distribución de la carga superficial y las interacciones electrostáticas, proporcionando información valiosa sobre el comportamiento de los materiales a nivel atómico.

En conclusión, el Microscopio de Fuerza Atómica es un instrumento sofisticado que ofrece una precisión, sensibilidad y versatilidad sin igual para la obtención de imágenes y mediciones a nanoescala. Con sus características avanzadas, bajos niveles de ruido y capacidades de escaneo completas, el AFM es una herramienta indispensable para la investigación y la exploración científica en diversas disciplinas.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• No linealidad: 0,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z
• Velocidad de escaneo: 0,1-30 Hz
• Tamaño de la muestra: 25 mm
• Nivel de ruido en la dirección Z: 0,04 nm
• Método de escaneo: Escaneo completo de la muestra de tres ejes XYZ

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

Una de las principales ocasiones de aplicación del AtomEdge Pro es en el análisis de superficies  . Los investigadores y científicos pueden utilizar este AFM para investigar la topografía y las propiedades de una amplia gama de superficies a nivel de nanoescala. Los niveles de ruido del instrumento en la dirección Z, que miden 0,04 nm, garantizan mediciones precisas y fiables, lo que lo hace ideal para el análisis y la caracterización de la rugosidad de la superficie.

Otro escenario importante para el uso del AtomEdge Pro es en la investigación de ciencia de materiales  . El rango de escaneo de 100 μm X 100 μm x 10 μm, junto con un nivel de ruido de 0,4 nm en la dirección XY, permite un examen detallado de las propiedades de los materiales a nanoescala. Ya sea que se estudien películas delgadas, polímeros o compuestos, este AFM proporciona información valiosa sobre la composición y la estructura de los materiales.

Además, el método de escaneo del AtomEdge Pro, que utiliza el escaneo completo de la muestra de tres ejes XYZ, ofrece flexibilidad y precisión en la obtención de imágenes de diversas muestras. Los investigadores pueden explorar nanomateriales , muestras biológicas y dispositivos semiconductores con facilidad, gracias a la velocidad de escaneo del instrumento de 0,1-30 Hz.

En el ámbito académico, el AtomEdge Pro sirve como una herramienta indispensable para la investigación en nanotecnología , lo que permite a los científicos profundizar en el intrincado mundo de los nanomateriales y las nanoestructuras. Sus capacidades avanzadas y su interfaz fácil de usar lo convierten en una opción preferida para estudiar fenómenos a nanoescala y realizar experimentos con alta precisión.