مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف، مجهر المواد منخفض الضوضاء مع أوضاع MFM EFM PFM
مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف,مجهر القوة الذرية منخفض الضوضاء,مجهر المواد منخفض الضوضاء
,Atomic Force Microscope Low Noise
,Low Noise Materials Microscope
الخصائص الأساسية
تداول العقارات
مجهر القوة الذرية متعدد الوظائف مع أوضاع MFM EFM PFM
وصف المنتج:
إحدى الميزات الرئيسية للمجهر القوة الذرية هي مستويات الضوضاء المنخفضة في كل من اتجاه Z واتجاه XY، مما يضمن قياسات دقيقة وموثوقة. يبلغ مستوى الضوضاء في اتجاه Z 0.04 نانومتر، مما يوفر حساسية استثنائية لالتقاط اختلافات وتفاعلات السطح الدقيقة. في اتجاه XY، يتم الحفاظ على مستوى الضوضاء عند 0.4 نانومتر، مما يعزز دقة عملية التصوير والمسح.
يوفر المجهر القوة الذرية سعة عينة كبيرة تبلغ 25 مم، مما يستوعب مجموعة واسعة من العينات للتحليل. تستخدم طريقة المسح متعددة الاستخدامات مسح عينة كاملة ثلاثي المحاور XYZ، مما يسمح بإجراء قياسات وتحليل شامل لسطح العينة. يغطي نطاق المسح للمجهر القوة الذرية 100 ميكرومتر × 100 ميكرومتر × 10 ميكرومتر، مما يتيح التصوير التفصيلي ورسم خرائط للهياكل النانوية وميزات السطح.
يمكن للباحثين والعلماء الاستفادة بشكل كبير من قدرات المجهر القوة الذرية في القياس الكهربائي النانوي، مما يتيح توصيف الخصائص الكهربائية على مقياس النانومتر. تتيح ميزة مجهر القوة الكهروستاتيكية للمجهر القوة الذرية التحقيق في توزيع الشحنات السطحية والتفاعلات الكهروستاتيكية، مما يوفر رؤى قيمة حول سلوك المواد على المستوى الذري.
في الختام، يعد مجهر القوة الذرية أداة متطورة توفر دقة وحساسية وتنوعًا لا مثيل لهما للتصوير والقياسات النانوية. بفضل ميزاته المتقدمة ومستويات الضوضاء المنخفضة وقدرات المسح الشاملة، يعد المجهر القوة الذرية أداة لا غنى عنها للبحث والاستكشاف العلمي في مختلف التخصصات.
الميزات:
- اسم المنتج: مجهر القوة الذرية
- اللاخطية: 0.02% في اتجاه XY و 0.08% في اتجاه Z
- معدل المسح: 0.1-30 هرتز
- حجم العينة: 25 مم
- مستوى الضوضاء في اتجاه Z: 0.04 نانومتر
- طريقة المسح: مسح عينة كاملة ثلاثي المحاور XYZ
المعايير الفنية:
حجم العينة | 25 ملم |
معدل المسح | 0.1-30 هرتز |
نطاق المسح | 100 ميكرومتر × 100 ميكرومتر × 10 ميكرومتر |
اللاخطية | 0.02% في اتجاه XY و 0.08% في اتجاه Z |
مستوى الضوضاء في اتجاه Z | 0.04 نانومتر |
طريقة المسح | مسح عينة كاملة ثلاثي المحاور XYZ |
مستوى الضوضاء في اتجاه XY | 0.4 نانومتر |
التطبيقات:
تتمثل إحدى مناسبات التطبيق الرئيسية لـ AtomEdge Pro في تحليل السطح . يمكن للباحثين والعلماء استخدام مجهر القوة الذرية هذا للتحقيق في طوبوغرافيا وخصائص مجموعة واسعة من الأسطح على المستوى النانوي. تضمن مستويات الضوضاء في اتجاه Z، والتي تبلغ 0.04 نانومتر، قياسات دقيقة وموثوقة، مما يجعلها مثالية لتحليل خشونة السطح وتوصيفه.
سيناريو مهم آخر لاستخدام AtomEdge Pro هو في علوم المواد البحث. يتيح نطاق المسح البالغ 100 ميكرومتر × 100 ميكرومتر × 10 ميكرومتر، إلى جانب مستوى ضوضاء يبلغ 0.4 نانومتر في اتجاه XY، إجراء فحص تفصيلي لخصائص المواد على المستوى النانوي. سواء أكانت دراسة الأغشية الرقيقة أو البوليمرات أو المواد المركبة، يوفر مجهر القوة الذرية هذا رؤى قيمة حول تكوين المادة وهيكلها.
علاوة على ذلك، توفر طريقة المسح الخاصة بـ AtomEdge Pro، والتي تستخدم مسح عينة كاملة ثلاثي المحاور XYZ، المرونة والدقة في تصوير العينات المختلفة. يمكن للباحثين استكشاف المواد النانوية والعينات البيولوجية وأجهزة أشباه الموصلات بسهولة، وذلك بفضل معدل المسح الخاص بالأداة البالغ 0.1-30 هرتز.
في الأوساط الأكاديمية، يعمل AtomEdge Pro كأداة لا غنى عنها لـ تكنولوجيا النانو البحث، مما يسمح للعلماء بالتعمق في عالم المواد النانوية والهياكل النانوية المعقدة. إن قدراته المتقدمة وواجهته سهلة الاستخدام تجعله الخيار المفضل لدراسة الظواهر النانوية وإجراء التجارب بدقة عالية.