Многофункциональный атомно-силовой микроскоп для материалов с низким уровнем шума, с режимами MFM, EFM, PFM

Описание продукта:

Одной из ключевых особенностей AFM является его низкий уровень шума как в направлении Z, так и в направлении XY, обеспечивая точные и надежные измерения..В направлении XY уровень шума поддерживается на уровне 0,4 Нм,дальнейшее повышение точности процесса визуализации и сканирования.

AFM предлагает большую емкость образца 25 мм, вмещающую широкий спектр образцов для анализа.позволяет проводить всесторонние измерения и анализ поверхности образца;Диапазон сканирования AFM является обширным, охватывающим 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм, что позволяет детально изображать и отображать наноструктуры и особенности поверхности.

Исследователи и ученые могут извлечь большую пользу из возможностей AFM в наномасштабных электрических измерениях, которые позволяют характеризовать электрические свойства в нанометровом масштабе.Функция электростатической силовой микроскопии AFM позволяет исследовать распределение поверхностного заряда и электростатические взаимодействия, предоставляя ценные сведения о поведении материалов на атомном уровне.

Подводя итог, можно сказать, что микроскоп атомной силы - это сложный инструмент, который предлагает непревзойденную точность, чувствительность и универсальность для наноразмерной визуализации и измерений.С его продвинутыми функциями, низкий уровень шума и всеобъемлющие возможности сканирования, AFM является незаменимым инструментом для научных исследований и исследований в различных дисциплинах.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
• Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
• Размер образца: 25 мм
• Уровень шума в направлении Z: 0,04 Нм
• Способ сканирования: XYZ Трехосная полная сканировка образца

Технические параметры:

Применение:

Один из ключевых случаев применения для AtomEdge Pro вповерхностный анализИсследователи и ученые могут использовать этот AFM для изучения топографии и свойств широкого спектра поверхностей на наноуровневом уровне.измерение 0.04 Нм, обеспечивают точные и надежные измерения, что делает его идеальным для анализа и характеристики шероховатости поверхности.

Еще один важный сценарий использования AtomEdge ProматериаламиОбзорный диапазон 100 мкм х 100 мкм х 10 мкм в сочетании с уровнем шума 0,4 Нм в направлении XY позволяет детально исследовать свойства материалов в наномасштабе.Изучение тонких пленок, полимеров или композитов, эта AFM дает ценные сведения о составе и структуре материала.

Кроме того, метод сканирования AtomEdge Pro, использующий трехосновое полное сканирование образцов XYZ, предлагает гибкость и точность в изображении различных образцов.наноматериалы, биологические образцы и полупроводниковые устройства с легкостью, благодаря скорости сканирования прибора 0,1-30 Гц.

В академической среде AtomEdge Pro служит незаменимым инструментом длянанотехнологииисследования, позволяющие ученым углубляться в сложный мир наноматериалов и наноструктур.Его передовые возможности и удобный интерфейс делают его предпочтительным выбором для изучения наномасштабных явлений и проведения экспериментов с высокой точностью.