Многофункциональный атомно-силовой микроскоп для материалов с низким уровнем шума, с режимами MFM, EFM, PFM

Описание продукта:

Одной из ключевых особенностей АСМ являются низкие уровни шума как в направлении Z, так и в направлении XY, что обеспечивает точные и надежные измерения. Уровень шума в направлении Z составляет впечатляющие 0,04 нм, обеспечивая исключительную чувствительность для захвата тонких вариаций и взаимодействий на поверхности. В направлении XY уровень шума поддерживается на уровне 0,4 нм, что еще больше повышает точность процесса визуализации и сканирования.

АСМ предлагает вместимость образца 25 мм, что позволяет работать с широким спектром образцов для анализа. Его универсальный метод сканирования использует трехкоординатное сканирование образца по осям XYZ, что позволяет проводить всесторонние измерения и анализ поверхности образца. Диапазон сканирования АСМ широк, охватывая 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм, что позволяет детально отображать и картировать наноструктуры и особенности поверхности.

Исследователи и ученые могут извлечь большую пользу из возможностей АСМ в наномасштабных электрических измерениях, что позволяет характеризовать электрические свойства в нанометровом масштабе. Функция электростатической силовой микроскопии АСМ позволяет исследовать распределение поверхностного заряда и электростатические взаимодействия, предоставляя ценную информацию о поведении материалов на атомном уровне.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это сложный инструмент, который предлагает непревзойденную точность, чувствительность и универсальность для наномасштабной визуализации и измерений. Благодаря своим передовым функциям, низким уровням шума и всесторонним возможностям сканирования, АСМ является незаменимым инструментом для научных исследований и исследований в различных дисциплинах.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
• Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
• Размер образца: 25 мм
• Уровень шума в направлении Z: 0,04 нм
• Метод сканирования: трехкоординатное сканирование образца по осям XYZ

Технические параметры:

Применения:

Одним из ключевых применений AtomEdge Pro является анализ поверхности . Исследователи и ученые могут использовать этот АСМ для исследования топографии и свойств широкого спектра поверхностей на наноуровне. Уровни шума прибора в направлении Z, измеряемые 0,04 нм, обеспечивают точные и надежные измерения, что делает его идеальным для анализа шероховатости поверхности и характеристики.

Другим важным сценарием использования AtomEdge Pro является материаловедение исследования. Диапазон сканирования 100 мкм X 100 мкм x 10 мкм в сочетании с уровнем шума 0,4 нм в направлении XY позволяет детально изучать свойства материалов на наноуровне. Будь то изучение тонких пленок, полимеров или композитов, этот АСМ предоставляет ценную информацию о составе и структуре материала.

Кроме того, метод сканирования AtomEdge Pro, использующий трехкоординатное сканирование образца по осям XYZ, обеспечивает гибкость и точность при визуализации различных образцов. Исследователи могут легко исследовать наноматериалы , биологические образцы и полупроводниковые приборы благодаря скорости сканирования прибора 0,1-30 Гц.

В академических кругах AtomEdge Pro служит незаменимым инструментом для нанотехнологических исследований, позволяя ученым углубляться в сложный мир наноматериалов и наноструктур. Его передовые возможности и удобный интерфейс делают его предпочтительным выбором для изучения наномасштабных явлений и проведения экспериментов с высокой точностью.