Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskobu Düşük Gürültülü Malzeme Mikroskobu MFM EFM PFM Modları İle

Ürün Tanımı:

AFM'nin temel özelliklerinden biri, hem Z yönünde hem de XY yönünde düşük gürültü seviyeleridir, bu da doğru ve güvenilir ölçümleri sağlar..04 Nm, ince yüzey değişimlerini ve etkileşimlerini yakalamak için olağanüstü hassasiyet sağlar.Görüntüleme ve tarama sürecinin hassasiyetini daha da artırmak.

AFM, analiz için çok çeşitli örnekleri barındıran 25 mm'lik cömert bir örnek boyutu kapasitesi sunar.Örnek yüzeyinin kapsamlı ölçümleri ve analizleri için izin verirAFM'nin tarama aralığı 100 μm x 100 μm x 10 μm'yi kapsayan geniş olup, nanostrukturların ve yüzey özelliklerinin ayrıntılı görüntülenmesini ve haritalamasını sağlar.

Araştırmacılar ve bilim adamları, nanometre ölçeğinde elektrik özelliklerinin karakterize edilmesini sağlayan nanometre ölçeğinde elektrik ölçümünde AFM'nin yeteneklerinden büyük ölçüde yararlanabilirler.AFM'nin Elektrostatik Kuvvet Mikroskopi özelliği yüzey yük dağılımını ve elektrostatik etkileşimleri araştırmayı sağlar, atom düzeyinde malzemelerin davranışları hakkında değerli bilgiler sağlar.

Sonuç olarak, Atomik Kuvvet Mikroskopu, nanoskala görüntüleme ve ölçümler için eşsiz bir hassasiyet, hassasiyet ve çok yönlülük sunan sofistike bir enstrüman.Gelişmiş özellikleriyle, düşük gürültü seviyeleri ve kapsamlı tarama yetenekleri, AFM'yi çeşitli disiplinlerdeki bilimsel araştırma ve keşif için vazgeçilmez bir araç haline getirir.

Özellikleri:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskopu
• Doğruluk dışı: XY yönünde % 0.02 ve Z yönünde % 0.08
• Tarama Hızı: 0.1-30 Hz
• Örnek boyutu: 25 mm
• Z yönünde gürültü seviyesi: 0.04 Nm
• Tarama yöntemi: XYZ Üç eksenli tam örnek taraması

Teknik parametreler:

Uygulamalar:

AtomEdge Pro için kilit uygulama fırsatlarından biriyüzey analiziAraştırmacılar ve bilim adamları, bu AFM'yi geniş bir yelpazedeki yüzeylerin topografisini ve özelliklerini nanoskala düzeyinde araştırmak için kullanabilirler.ölçüm 0.04 Nm, doğru ve güvenilir ölçümleri sağlar, böylece yüzey kabalığını analiz etmek ve karakterize etmek için idealdir.

AtomEdge Pro'yu kullanmak için başka bir önemli senaryoMalzeme bilimi100 μm X 100 μm x 10 μm tarama aralığı, XY yönünde 0,4 Nm bir gürültü düzeyi ile birlikte, nanoskaladaki malzeme özelliklerinin ayrıntılı bir şekilde incelenmesini sağlar.İster ince filmleri incelemek ister, polimerler veya kompozitler, bu AFM malzeme kompozisyonu ve yapısı hakkında değerli bilgiler sağlar.

Üstelik, AtomEdge Pro'nun tam örnek tarama XYZ üç eksenli tarama yöntemini kullanan tarama yöntemi, çeşitli örneklerin görüntülenmesinde esneklik ve hassasiyet sunar.Nanomaterialler, biyolojik örnekler ve yarı iletken cihazlar, cihazın 0.1-30 Hz tarama hızı sayesinde kolaylıkla.

Akademik alanda AtomEdge Pro,nanoteknolojiAraştırma, bilim insanlarının nanomateriallerin ve nanostrukturların karmaşık dünyasına dalmalarını sağlıyor.Gelişmiş yetenekleri ve kullanıcı dostu arayüzü, nanoskala fenomenlerini incelemek ve yüksek hassasiyetle deneyler yapmak için tercih edilen bir seçim haline getiriyor.