Microscope à force atomique multifonctionnel, microscope à faible bruit pour matériaux, avec modes MFM, EFM et PFM

Description du produit:

L'une des caractéristiques clés de l'AFM est son faible niveau de bruit dans la direction Z et dans la direction XY, assurant des mesures précises et fiables..Le niveau sonore est maintenu à 0,4 Nm dans la direction XY,amélioration de la précision du processus d'imagerie et de numérisation.

L'AFM offre une capacité généreuse de taille d'échantillon de 25 mm, pouvant accueillir un large éventail d'échantillons à analyser.permettant des mesures et des analyses complètes de la surface de l'échantillonLa portée de balayage de l'AFM est étendue, couvrant 100 μm x 100 μm x 10 μm, permettant une imagerie et une cartographie détaillées des nanostructures et des caractéristiques de surface.

Les chercheurs et les scientifiques peuvent grandement bénéficier des capacités de l'AFM dans la mesure électrique à l'échelle nanométrique, ce qui permet la caractérisation des propriétés électriques à l'échelle nanométrique.La fonction de microscopie de la force électrostatique de l'AFM permet d'enquêter sur la distribution de la charge de surface et les interactions électrostatiques, fournissant des informations précieuses sur le comportement des matériaux au niveau atomique.

En conclusion, le microscope de la force atomique est un instrument sophistiqué qui offre une précision, une sensibilité et une polyvalence inégalées pour l'imagerie et les mesures à l'échelle nanométrique.Avec ses caractéristiques avancéesAvec ses faibles niveaux de bruit et ses capacités de balayage complètes, l'AFM est un outil indispensable pour la recherche scientifique et l'exploration dans diverses disciplines.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Non linéaire: 0,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z
• Taux de balayage: 0,1 à 30 Hz
• Taille de l'échantillon: 25 mm
• Niveau sonore dans la direction Z: 0,04 Nm
• Méthode de numérisation: numérisation complète de l'échantillon sur trois axes XYZ

Paramètres techniques:

Applications:

L'une des principales occasions d'application de l'AtomEdge Pro est enanalyse de surfaceLes chercheurs et les scientifiques peuvent utiliser cet AFM pour étudier la topographie et les propriétés d'un large éventail de surfaces à l'échelle nanométrique.mesure 0.04 Nm, assure des mesures précises et fiables, ce qui le rend idéal pour l'analyse et la caractérisation de la rugosité de surface.

Un autre scénario important pour l'utilisation de l'AtomEdge Proscience des matériauxLa plage de balayage de 100 μm x 100 μm x 10 μm, couplée à un niveau sonore de 0,4 Nm dans le sens XY, permet un examen détaillé des propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique.Que vous étudiiez des films minces, polymères ou composites, cette AFM fournit des informations précieuses sur la composition et la structure des matériaux.

En outre, la méthode de numérisation de l'AtomEdge Pro, qui utilise la numérisation complète d'échantillons XYZ à trois axes, offre une flexibilité et une précision dans l'imagerie de divers échantillons.les nanomatériaux, des échantillons biologiques et des dispositifs semi-conducteurs facilement, grâce à la fréquence de balayage de l'instrument de 0,1 à 30 Hz.

Dans le milieu universitaire, l'AtomEdge Pro est un outil indispensable pournanotechnologieLa recherche, permettant aux scientifiques de plonger dans le monde complexe des nanomatériaux et des nanostructures.Ses capacités avancées et son interface conviviale en font un choix privilégié pour l'étude des phénomènes à l'échelle nanométrique et la réalisation d'expériences de haute précision.