Multi Functionele Atomic Kracht Microscoop Low Noise Materialen Microscoop Met MFM EFM PFM Modi

Productbeschrijving:

Een van de belangrijkste kenmerken van de AFM zijn de lage ruisniveaus in zowel de Z- als de XY-richting, wat zorgt voor nauwkeurige en betrouwbare metingen. Het ruisniveau in de Z-richting is een indrukwekkende 0,04 Nm, wat een uitzonderlijke gevoeligheid biedt voor het vastleggen van subtiele oppervlaktevariaties en interacties. In de XY-richting wordt het ruisniveau gehandhaafd op 0,4 Nm, wat de precisie van het beeldvormings- en scanproces verder verbetert.

De AFM biedt een royale samplegroottecapaciteit van 25 mm, geschikt voor een breed scala aan samples voor analyse. De veelzijdige scanmethode maakt gebruik van XYZ drie-assige volledige sample scanning, waardoor uitgebreide metingen en analyse van het sampleoppervlak mogelijk zijn. Het scanbereik van de AFM is uitgebreid en beslaat 100 μm x 100 μm x 10 μm, waardoor gedetailleerde beeldvorming en mapping van nanostructuren en oppervlaktekenmerken mogelijk is.

Onderzoekers en wetenschappers kunnen enorm profiteren van de mogelijkheden van de AFM op het gebied van elektrische metingen op nanoschaal, wat de karakterisering van elektrische eigenschappen op de nanometerschaal mogelijk maakt. De Electrostatic Force Microscopy-functie van de AFM maakt het mogelijk om de ladingsverdeling op het oppervlak en elektrostatische interacties te onderzoeken, wat waardevolle inzichten oplevert in het gedrag van materialen op atomair niveau.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een geavanceerd instrument dat ongeëvenaarde precisie, gevoeligheid en veelzijdigheid biedt voor beeldvorming en metingen op nanoschaal. Met zijn geavanceerde functies, lage ruisniveaus en uitgebreide scanmogelijkheden is de AFM een onmisbaar hulpmiddel voor wetenschappelijk onderzoek en exploratie in verschillende disciplines.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Non-lineariteit: 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting
• Scansnelheid: 0,1-30 Hz
• Samplegrootte: 25 mm
• Ruisniveau in de Z-richting: 0,04 Nm
• Scanmethode: XYZ drie-assige volledige sample scanning

Technische parameters:

Toepassingen:

Een van de belangrijkste toepassingsgebieden voor de AtomEdge Pro is in oppervlakteanalyse . Onderzoekers en wetenschappers kunnen deze AFM gebruiken om de topografie en eigenschappen van een breed scala aan oppervlakken op nanoschaalniveau te onderzoeken. De ruisniveaus van het instrument in de Z-richting, met een meting van 0,04 Nm, zorgen voor nauwkeurige en betrouwbare metingen, waardoor het ideaal is voor analyse en karakterisering van de oppervlakteruwheid.

Een ander belangrijk scenario voor het gebruik van de AtomEdge Pro is in materiaalwetenschappelijk onderzoek. Het scanbereik van 100 μm X 100 μm x 10 μm, in combinatie met een ruisniveau van 0,4 Nm in de XY-richting, maakt gedetailleerd onderzoek van materiaaleigenschappen op nanoschaal mogelijk. Of het nu gaat om het bestuderen van dunne films, polymeren of composieten, deze AFM biedt waardevolle inzichten in de materiaalsamenstelling en -structuur.

Bovendien biedt de scanmethode van de AtomEdge Pro, die gebruik maakt van XYZ drie-assige volledige sample scanning, flexibiliteit en precisie bij het afbeelden van verschillende samples. Onderzoekers kunnen nanomaterialen , biologische samples en halfgeleiderapparaten met gemak verkennen, dankzij de scansnelheid van het instrument van 0,1-30 Hz.

In de academische wereld dient de AtomEdge Pro als een onmisbaar hulpmiddel voor nanotechnologie onderzoek, waardoor wetenschappers zich kunnen verdiepen in de ingewikkelde wereld van nanomaterialen en nanostructuren. De geavanceerde mogelijkheden en gebruiksvriendelijke interface maken het een voorkeurskeuze voor het bestuderen van fenomenen op nanoschaal en het uitvoeren van experimenten met hoge precisie.