Microscópio de Força Atômica Multifuncional de Baixo Ruído para Materiais com Modos MFM EFM PFM

Descrição do Produto:

Uma das principais características do AFM são seus baixos níveis de ruído, tanto na direção Z quanto na direção XY, garantindo medições precisas e confiáveis. O nível de ruído na direção Z é impressionante, 0,04 nm, proporcionando uma sensibilidade excepcional para capturar variações e interações sutis na superfície. Na direção XY, o nível de ruído é mantido em 0,4 nm, aprimorando ainda mais a precisão do processo de imagem e varredura.

O AFM oferece uma generosa capacidade de tamanho de amostra de 25 mm, acomodando uma ampla gama de amostras para análise. Seu método de varredura versátil utiliza a varredura completa de amostras de três eixos XYZ, permitindo medições e análises abrangentes da superfície da amostra. A faixa de varredura do AFM é extensa, cobrindo 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a imagem e o mapeamento detalhados de nanoestruturas e características da superfície.

Pesquisadores e cientistas podem se beneficiar muito das capacidades do AFM em medições elétricas em nanoescala, o que permite a caracterização de propriedades elétricas na escala nanométrica. O recurso de Microscopia de Força Eletrostática do AFM permite a investigação da distribuição de carga superficial e interações eletrostáticas, fornecendo informações valiosas sobre o comportamento dos materiais em nível atômico.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é um instrumento sofisticado que oferece precisão, sensibilidade e versatilidade incomparáveis para imagem e medições em nanoescala. Com seus recursos avançados, baixos níveis de ruído e capacidades abrangentes de varredura, o AFM é uma ferramenta indispensável para pesquisa científica e exploração em várias disciplinas.

Recursos:

• Nome do produto: Microscópio de força atômica
• Não linearidade: 0,02% na direção XY e 0,08% na direção Z
• Taxa de varredura: 0,1-30 Hz
• Tamanho da amostra: 25 mm
• Nível de ruído na direção Z: 0,04 nm
• Método de varredura: varredura completa de amostra de três eixos XYZ

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

Uma das principais ocasiões de aplicação do AtomEdge Pro é em análise de superfície  . Pesquisadores e cientistas podem utilizar este AFM para investigar a topografia e as propriedades de uma ampla gama de superfícies em nível de nanoescala. Os níveis de ruído do instrumento na direção Z, medindo 0,04 nm, garantem medições precisas e confiáveis, tornando-o ideal para análise e caracterização da rugosidade da superfície.

Outro cenário importante para o uso do AtomEdge Pro é em pesquisa em ciência de materiais . A faixa de varredura de 100 μm X 100 μm x 10 μm, juntamente com um nível de ruído de 0,4 nm na direção XY, permite um exame detalhado das propriedades do material em nanoescala. Seja estudando filmes finos, polímeros ou compósitos, este AFM fornece informações valiosas sobre a composição e estrutura do material.

Além disso, o método de varredura do AtomEdge Pro, utilizando a varredura completa de amostra de três eixos XYZ, oferece flexibilidade e precisão na imagem de várias amostras. Os pesquisadores podem explorar nanomateriais , amostras biológicas e dispositivos semicondutores com facilidade, graças à taxa de varredura do instrumento de 0,1-30 Hz.

Na academia, o AtomEdge Pro serve como uma ferramenta indispensável para pesquisa em nanotecnologia , permitindo que os cientistas se aprofundem no intrincado mundo dos nanomateriais e nanoestruturas. Seus recursos avançados e interface amigável o tornam a escolha preferida para estudar fenômenos em nanoescala e conduzir experimentos com alta precisão.