Microscópio de Força Atômica Multifuncional de Baixo Ruído para Materiais com Modos MFM EFM PFM

Descrição do produto:

Uma das principais características do AFM é o seu baixo nível de ruído, tanto na direcção Z como na direcção XY, garantindo medições precisas e fiáveis..04 Nm, proporcionando uma sensibilidade excepcional para a captura de variações e interações de superfície sutis.Melhorar ainda mais a precisão do processo de tomografia e digitalização.

O AFM oferece uma generosa capacidade de amostragem de 25 mm, acomodando uma ampla gama de amostras para análise.permitindo medições e análises abrangentes da superfície da amostraA gama de digitalização do AFM é extensa, cobrindo 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo a obtenção de imagens e mapeamento detalhados de nanoestruturas e características de superfície.

Pesquisadores e cientistas podem se beneficiar muito das capacidades do AFM na medição elétrica em nanoescala, o que permite a caracterização de propriedades elétricas na escala nanométrica.A característica de Microscopia de Força Eletrostática do AFM permite a investigação da distribuição de carga superficial e interações eletrostáticas, fornecendo informações valiosas sobre o comportamento dos materiais a nível atómico.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é um instrumento sofisticado que oferece precisão, sensibilidade e versatilidade incomparáveis para imagens e medições em nanoescala.Com as suas características avançadasO AFM é um instrumento indispensável para a investigação e exploração científica em várias disciplinas.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
• Não linearidade: 0,02% na direção XY e 0,08% na direção Z
• Taxa de digitalização: 0,1-30 Hz
• Tamanho da amostra: 25 mm
• Nível de ruído na direcção Z: 0,04 Nm
• Método de varredura: XYZ Varredura de amostra completa em três eixos

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

Uma das principais ocasiões de aplicação para o AtomEdge Pro está emAnálise de superfícieOs investigadores e cientistas podem utilizar este AFM para investigar a topografia e as propriedades de uma ampla gama de superfícies a nível nanométrico.medição 0.04 Nm, garantem medições precisas e fiáveis, tornando-o ideal para análise e caracterização da rugosidade da superfície.

Outro cenário importante para o uso do AtomEdge Pro está emCiência dos materiaisA gama de digitalização de 100 μm x 100 μm x 10 μm, juntamente com um nível de ruído de 0,4 Nm na direcção XY, permite um exame pormenorizado das propriedades dos materiais à nanoescala.Se estudar filmes finos, polímeros ou compósitos, este AFM fornece informações valiosas sobre a composição e a estrutura dos materiais.

Além disso, o método de varredura do AtomEdge Pro, que utiliza a varredura completa de amostras em três eixos XYZ, oferece flexibilidade e precisão na obtenção de imagens de várias amostras.Nanomateriais, amostras biológicas e dispositivos semicondutores com facilidade, graças à taxa de digitalização do instrumento de 0,1-30 Hz.

Na academia, o AtomEdge Pro serve como uma ferramenta indispensável parananotecnologiaA investigação permite aos cientistas aprofundar o mundo complexo dos nanomateriais e das nanoestruturas.As suas capacidades avançadas e interface fácil de usar tornam-na a escolha preferida para estudar fenômenos em nanoescala e realizar experiências com alta precisão.