میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره با حالت‌های MFM EFM PFM

توضیحات محصول:

یکی از ویژگی‌های کلیدی AFM، سطح نویز پایین آن در هر دو جهت Z و XY است که اندازه‌گیری‌های دقیق و قابل اعتمادی را تضمین می‌کند. سطح نویز در جهت Z، 0.04 نانومتر است که حساسیت استثنایی را برای ثبت تغییرات و تعاملات ظریف سطح فراهم می‌کند. در جهت XY، سطح نویز در 0.4 نانومتر حفظ می‌شود که دقت فرآیند تصویربرداری و اسکن را بیشتر می‌کند.

AFM ظرفیت نمونه سخاوتمندانه 25 میلی‌متری را ارائه می‌دهد که طیف وسیعی از نمونه‌ها را برای تجزیه و تحلیل در خود جای می‌دهد. روش اسکن همه کاره آن از اسکن کامل سه محوره XYZ نمونه استفاده می‌کند که امکان اندازه‌گیری و تجزیه و تحلیل جامع سطح نمونه را فراهم می‌کند. محدوده اسکن AFM گسترده است و 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر را پوشش می‌دهد و امکان تصویربرداری و نقشه‌برداری دقیق از ساختارهای نانو و ویژگی‌های سطح را فراهم می‌کند.

محققان و دانشمندان می‌توانند از قابلیت‌های AFM در اندازه‌گیری الکتریکی در مقیاس نانو بهره‌مند شوند، که امکان شناسایی خواص الکتریکی را در مقیاس نانومتر فراهم می‌کند. ویژگی میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک AFM امکان بررسی توزیع بار سطحی و تعاملات الکترواستاتیک را فراهم می‌کند و بینش‌های ارزشمندی را در مورد رفتار مواد در سطح اتمی ارائه می‌دهد.

در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیشرفته است که دقت، حساسیت و تطبیق‌پذیری بی‌نظیری را برای تصویربرداری و اندازه‌گیری در مقیاس نانو ارائه می‌دهد. AFM با ویژگی‌های پیشرفته، سطوح نویز پایین و قابلیت‌های اسکن جامع، ابزاری ضروری برای تحقیقات علمی و اکتشاف در رشته‌های مختلف است.

ویژگی‌ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• غیرخطی بودن: 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z
• سرعت اسکن: 0.1-30 هرتز
• اندازه نمونه: 25 میلی‌متر
• سطح نویز در جهت Z: 0.04 نانومتر
• روش اسکن: اسکن کامل سه محوره XYZ نمونه

پارامترهای فنی:

کاربردها:

یکی از موارد کاربرد کلیدی AtomEdge Pro در تجزیه و تحلیل سطح است. محققان و دانشمندان می‌توانند از این AFM برای بررسی توپوگرافی و خواص طیف گسترده‌ای از سطوح در سطح نانو استفاده کنند. سطوح نویز این ابزار در جهت Z، که 0.04 نانومتر اندازه‌گیری می‌شود، اندازه‌گیری‌های دقیق و قابل اعتمادی را تضمین می‌کند و آن را برای تجزیه و تحلیل و شناسایی زبری سطح ایده‌آل می‌کند.

سناریوی مهم دیگر برای استفاده از AtomEdge Pro در علم مواد تحقیق است. محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر x 10 میکرومتر، همراه با سطح نویز 0.4 نانومتر در جهت XY، امکان بررسی دقیق خواص مواد در مقیاس نانو را فراهم می‌کند. چه در حال مطالعه فیلم‌های نازک، پلیمرها یا کامپوزیت‌ها باشید، این AFM بینش‌های ارزشمندی را در مورد ترکیب و ساختار مواد ارائه می‌دهد.

علاوه بر این، روش اسکن AtomEdge Pro، با استفاده از اسکن کامل سه محوره XYZ نمونه، انعطاف‌پذیری و دقت را در تصویربرداری از نمونه‌های مختلف ارائه می‌دهد. محققان می‌توانند نانومواد ، نمونه‌های بیولوژیکی و دستگاه‌های نیمه‌رسانا را به راحتی بررسی کنند، به لطف سرعت اسکن این ابزار که 0.1-30 هرتز است.

در دانشگاه‌ها، AtomEdge Pro به عنوان ابزاری ضروری برای فناوری نانو تحقیق عمل می‌کند و به دانشمندان اجازه می‌دهد تا به دنیای پیچیده نانومواد و ساختارهای نانو بپردازند. قابلیت‌های پیشرفته و رابط کاربرپسند آن، آن را به انتخابی ارجح برای مطالعه پدیده‌های مقیاس نانو و انجام آزمایش‌ها با دقت بالا تبدیل می‌کند.