میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره با حالتهای MFM EFM PFM
میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره,میکروسکوپ نیروی اتمی با نویز کم,میکروسکوپ مواد با نویز کم
,Atomic Force Microscope Low Noise
,Low Noise Materials Microscope
ویژگی های اساسی
املاک تجاری
میکروسکوپ نیروی اتمی چند کارکردی با حالت های MFM EFM PFM
توضیحات محصول:
یکی از ویژگی های اصلی AFM سطح کم سر و صدا در جهت Z و جهت XY است که اندازه گیری دقیق و قابل اعتماد را تضمین می کند..در جهت XY، سطح سر و صدا در 0.4 Nm حفظ می شود.افزایش بیشتر دقت فرآیند تصویربرداری و اسکن.
AFM دارای ظرفیت اندازه نمونه ای سخاوتمندانه از 25 میلی متر است که طیف گسترده ای از نمونه ها را برای تجزیه و تحلیل فراهم می کند. روش اسکن متنوع آن از اسکن نمونه کامل سه محور XYZ استفاده می کند.اجازه می دهد تا اندازه گیری های جامع و تجزیه و تحلیل سطح نمونهمحدوده اسکن AFM گسترده است و 100 μm x 100 μm x 10 μm را پوشش می دهد و امکان تصویربرداری و نقشه برداری دقیق نانوسازها و ویژگی های سطح را فراهم می کند.
محققان و دانشمندان می توانند از توانایی های AFM در اندازه گیری الکتریکی نانومتر بهره مند شوند، که ویژگی های الکتریکی را در مقیاس نانومتر ممکن می کند.ویژگی میکروسکوپی نیروی الکتروستاتیک AFM اجازه می دهد تا برای بررسی توزیع بار سطح و تعاملات الکتروستاتیک، ارائه بینش ارزشمندی در مورد رفتار مواد در سطح اتمی.
در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیچیده است که دقت، حساسیت و انعطاف پذیری بی نظیر را برای تصویربرداری و اندازه گیری در مقیاس نانو ارائه می دهد.با ویژگی های پیشرفته اش، سطوح کم سر و صدا و قابلیت های اسکن جامع، AFM یک ابزار ضروری برای تحقیقات علمی و اکتشاف در رشته های مختلف است.
ویژگی ها:
- نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
- عدم خطی بودن: 0.02 در جهت XY و 0.08 در جهت Z
- نرخ اسکن: 0.1-30 هرتز
- اندازه نمونه: 25 میلی متر
- سطح سر و صدا در جهت Z: 0.04 Nm
- روش اسکن: XYZ اسکن سه محور نمونه کامل
پارامترهای فنی:
اندازه نمونه | 25 میلی متر |
سرعت اسکن | 0.1 تا 30 هرتز |
محدوده اسکن | 100 μm × 100 μm × 10 μm |
عدم خطی بودن | 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z |
سطح سر و صدا در جهت Z | 0.04 Nm |
روش اسکن | XYZ اسکن کامل نمونه سه محور |
سطح سر و صدا در جهت XY | 0.4 Nm |
کاربردها:
یکی از فرصت های کاربردی کلیدی برای AtomEdge Pro درتجزیه و تحلیل سطحمحققان و دانشمندان می توانند از این AFM برای بررسی توپوگرافی و خواص طیف گسترده ای از سطوح در سطح نانو استفاده کنند.اندازه گیری 0.04 Nm، اندازه گیری های دقیق و قابل اعتماد را تضمین می کند، که آن را برای تجزیه و تحلیل و توصیف خشکی سطح ایده آل می کند.
یک سناریوی مهم دیگر برای استفاده از AtomEdge Pro درعلوم مواددامنه اسکن 100 μm X 100 μm x 10 μm، همراه با سطح سر و صدا 0.4 Nm در جهت XY، امکان بررسی دقیق خواص مواد را در مقیاس نانو فراهم می کند.در مورد اینکه آیا فیلم نازک را مطالعه می کنند، پلیمرها یا کامپوزیت ها، این AFM بینش ارزشمندی در ترکیب و ساختار مواد فراهم می کند.
علاوه بر این، روش اسکن AtomEdge Pro، با استفاده از اسکن کامل نمونه سه محور XYZ، انعطاف پذیری و دقت در تصویربرداری نمونه های مختلف را ارائه می دهد.نانومواد، نمونه های بیولوژیکی و دستگاه های نیمه هادی با سهولت، به لطف نرخ اسکن ابزار 0.1-30 هرتز.
در دانشگاه، AtomEdge Pro به عنوان یک ابزار ضروری برایفناوری نانوتحقیقات، به دانشمندان اجازه می دهد تا به دنیای پیچیده نانوموادها و نانوسازها بپردازند.قابلیت های پیشرفته و رابط کاربری دوستانه آن را به یک انتخاب ترجیح داده شده برای مطالعه پدیده های نانو مقیاس و انجام آزمایشات با دقت بالا.