Microscopio a forza atomica multifunzionale per materiali a basso rumore con modalità MFM EFM PFM

Descrizione del prodotto:

Una delle caratteristiche principali dell'AFM sono i suoi bassi livelli di rumore sia nella direzione Z che nella direzione XY, garantendo misurazioni accurate e affidabili. Il livello di rumore nella direzione Z è di 0,04 nm, fornendo una sensibilità eccezionale per catturare sottili variazioni e interazioni della superficie. Nella direzione XY, il livello di rumore è mantenuto a 0,4 nm, migliorando ulteriormente la precisione del processo di imaging e scansione.

L'AFM offre una generosa capacità di dimensioni del campione di 25 mm, in grado di ospitare un'ampia gamma di campioni per l'analisi. Il suo metodo di scansione versatile utilizza la scansione completa del campione a tre assi XYZ, consentendo misurazioni e analisi complete della superficie del campione. L'intervallo di scansione dell'AFM è ampio, coprendo 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo l'imaging e la mappatura dettagliati di nanostrutture e caratteristiche della superficie.

Ricercatori e scienziati possono beneficiare notevolmente delle capacità dell'AFM nella misurazione elettrica su nanoscala, che consente la caratterizzazione delle proprietà elettriche su scala nanometrica. La funzione di Microscopia a Forza Elettrostatica dell'AFM consente l'indagine sulla distribuzione della carica superficiale e sulle interazioni elettrostatiche, fornendo preziose informazioni sul comportamento dei materiali a livello atomico.

In conclusione, il Microscopio a Forza Atomica è uno strumento sofisticato che offre precisione, sensibilità e versatilità senza pari per l'imaging e le misurazioni su nanoscala. Con le sue funzionalità avanzate, i bassi livelli di rumore e le capacità di scansione complete, l'AFM è uno strumento indispensabile per la ricerca scientifica e l'esplorazione in varie discipline.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Non linearità: 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z
• Velocità di scansione: 0,1-30 Hz
• Dimensione del campione: 25 mm
• Livello di rumore nella direzione Z: 0,04 nm
• Metodo di scansione: scansione completa del campione a tre assi XYZ

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Una delle principali occasioni di applicazione per l'AtomEdge Pro è in analisi della superficie  . Ricercatori e scienziati possono utilizzare questo AFM per indagare la topografia e le proprietà di un'ampia gamma di superfici a livello di nanoscala. I livelli di rumore dello strumento nella direzione Z, che misurano 0,04 nm, garantiscono misurazioni accurate e affidabili, rendendolo ideale per l'analisi e la caratterizzazione della rugosità superficiale.

Un altro scenario importante per l'utilizzo dell'AtomEdge Pro è nella scienza dei materiali ricerca. L'intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm x 10 μm, unito a un livello di rumore di 0,4 nm nella direzione XY, consente un esame dettagliato delle proprietà dei materiali a livello di nanoscala. Che si tratti di studiare film sottili, polimeri o compositi, questo AFM fornisce preziose informazioni sulla composizione e sulla struttura dei materiali.

Inoltre, il metodo di scansione dell'AtomEdge Pro, che utilizza la scansione completa del campione a tre assi XYZ, offre flessibilità e precisione nell'imaging di vari campioni. I ricercatori possono esplorare nanomateriali , campioni biologici e dispositivi a semiconduttore con facilità, grazie alla velocità di scansione dello strumento di 0,1-30 Hz.

In ambito accademico, l'AtomEdge Pro funge da strumento indispensabile per la nanotecnologia ricerca, consentendo agli scienziati di approfondire l'intricato mondo dei nanomateriali e delle nanostrutture. Le sue capacità avanzate e l'interfaccia intuitiva lo rendono una scelta preferita per lo studio dei fenomeni su nanoscala e la conduzione di esperimenti con alta precisione.