Microscopio a forza atomica multifunzionale per materiali a basso rumore con modalità MFM EFM PFM

Descrizione del prodotto:

Una delle caratteristiche chiave dell'AFM è il suo basso livello di rumore sia nella direzione Z che nella direzione XY, che garantisce misure accurate e affidabili..04 Nm, che fornisce una sensibilità eccezionale per la cattura di sottili variazioni e interazioni superficiali.ulteriore miglioramento della precisione del processo di imaging e di scansione.

L'AFM offre una generosa capacità di campionamento di 25 mm, che può ospitare una vasta gamma di campioni da analizzare.che consentono misure e analisi complete della superficie del campioneLa gamma di scansione dell'AFM è ampia, coprendo 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo l'imaging e la mappatura dettagliati delle nanostrutture e delle caratteristiche superficiali.

I ricercatori e gli scienziati possono trarre grande beneficio dalle capacità dell'AFM nella misurazione elettrica su scala nanometrica, che consente la caratterizzazione delle proprietà elettriche su scala nanometrica.La funzione di microscopia di forza elettrostatica dell'AFM consente l'indagine della distribuzione delle cariche superficiali e delle interazioni elettrostatiche, fornendo preziose informazioni sul comportamento dei materiali a livello atomico.

In conclusione, il microscopio della forza atomica è uno strumento sofisticato che offre una precisione, sensibilità e versatilità senza pari per le immagini e le misurazioni su scala nanometrica.Con le sue caratteristiche avanzateL'AFM è uno strumento indispensabile per la ricerca e l'esplorazione scientifica in varie discipline.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Non linearità: 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z
• Velocità di scansione: 0,1-30 Hz
• Dimensione del campione: 25 mm
• Livello di rumore nella direzione Z: 0,04 Nm
• Metodo di scansione: XYZ Scansione completa del campione a tre assi

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Una delle principali occasioni di applicazione per l'AtomEdge Pro è inanalisi superficialeI ricercatori e gli scienziati possono utilizzare questo AFM per studiare la topografia e le proprietà di una vasta gamma di superfici a livello nanometrico.misura 0.04 Nm, assicurano misure accurate e affidabili, rendendolo ideale per l'analisi e la caratterizzazione della rugosità superficiale.

Un altro scenario importante per l'utilizzo di AtomEdge Pro èscienza dei materialiLa gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm, unita a un livello di rumore di 0,4 Nm nella direzione XY, consente un esame dettagliato delle proprietà dei materiali a scala nanometrica.Se studiare film sottili, polimeri o compositi, questo AFM fornisce informazioni preziose sulla composizione e la struttura dei materiali.

Inoltre, il metodo di scansione di AtomEdge Pro, che utilizza la scansione completa di campioni a tre assi XYZ, offre flessibilità e precisione nell'imaging di vari campioni.nanomateriali, campioni biologici e dispositivi semiconduttori con facilità, grazie alla frequenza di scansione dello strumento da 0,1 a 30 Hz.

In ambito accademico, AtomEdge Pro è uno strumento indispensabile pernanotecnologiala ricerca, permettendo agli scienziati di approfondire il complesso mondo dei nanomateriali e delle nanostrutture.Le sue capacità avanzate e l'interfaccia facile da usare la rendono una scelta preferita per studiare fenomeni su scala nanometrica e condurre esperimenti con elevata precisione.