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Microscópio de Força Atômica de Alta Resolução 0,04 nm Microscópio Industrial para Análise em Nanoescala

Microscópio de força atômica de alta resolução para análise em nanoescala Descrição do produto: O microscópio de força atômica (AFM) é uma ferramenta versátil para análise de superfície, comumente usada em várias aplicações científicas e industriais.Este aparelho de ponta oferece capacidades de ...
Detalhes do produto
Destacar:

Microscópio de Força Atômica de Alta Resolução

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Microscópio de Força Atômica 0

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04 nm

Name: Microscópio de força atômica
Scanning Modes: Contato, tapping, sem contato, força lateral, modulação de força
Resolution: 0,04 nm
Scanning Speed: 0,1Hz-30Hz
Sample Stage: Estágio XY motorizado com resolução de 100 μm
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10μm
Sample Size: até 25 mm

Propriedades básicas

Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: Atomedge Pro

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto

Microscópio de força atômica de alta resolução para análise em nanoescala

Descrição do produto:

O microscópio de força atômica (AFM) é uma ferramenta versátil para análise de superfície, comumente usada em várias aplicações científicas e industriais.Este aparelho de ponta oferece capacidades de varredura excepcionais e imagens precisas para análise detalhada de amostras.

Uma das principais características do AFM é a sua impressionante faixa de velocidade de varredura, que permite a varredura precisa a velocidades que variam de 0,1 Hz a 30 Hz.Esta flexibilidade na velocidade de varredura permite aos utilizadores ajustar as definições com base nos requisitos específicos das suas experiências, garantindo resultados precisos e eficientes.

Com uma faixa de digitalização de 100 μm X 100 μm X 10 μm, o AFM fornece uma visão abrangente da superfície da amostra com alta resolução.Esta ampla gama de digitalização permite a obtenção de imagens e análise detalhadas de vários tipos de amostras, tornando-a uma ferramenta ideal para investigadores e cientistas de uma vasta gama de domínios.

O AFM foi concebido para acomodar amostras de até 25 mm, oferecendo versatilidade no tratamento e análise de amostras.Esta generosa capacidade de amostragem torna o AFM adequado para uma ampla gama de aplicações, da investigação em nanotecnologia à ciência dos materiais e além.

Equipado com um estágio XY motorizado com resolução de 100 μm, o AFM garante um movimento preciso e controlado do estágio da amostra durante a varredura.Esta característica avançada de controlo de estágio permite o posicionamento preciso da amostra, permitindo imagens e análises de alta qualidade com erro mínimo.

O AFM oferece uma variedade de modos de varredura, incluindo modos de contato, toque, não contato, força lateral e modulação de força.Estes diferentes modos de digitalização proporcionam aos utilizadores flexibilidade nas técnicas de imagem e análise, permitindo uma investigação abrangente das superfícies e propriedades da amostra.

Em conclusão, o Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta poderosa e versátil para análise de superfície, comumente usada em pesquisa científica, caracterização de materiais e aplicações industriais.Com as suas capacidades avançadas de varreduraO AFM é um instrumento essencial para os investigadores e cientistas que procuram obter informações pormenorizadas sobre as propriedades de várias amostras.

 

Características:

  • Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
  • Velocidade de digitalização: 0,1 Hz-30 Hz
  • Faixa de digitalização: 100 μm X 100 μm X 10 μm
  • Fase de amostragem: Fase XY motorizada com resolução de 100 μm
  • Modos de varredura: contacto, toque, não contacto, força lateral, modulação da força
  • Resolução: 0,04 nm
 

Parâmetros técnicos:

Fase de amostragem Fase XY motorizada com resolução de 100 μm
Velocidade de varredura 0.1 Hz-30 Hz
Tamanho da amostra Até 25 mm
Modos de varredura Contato, toque, não contato, força lateral, modulação da força
Faixa de varredura 100 μm X 100 μm X 10 μm
Resolução 00,04 nm
 

Aplicações:

O AtomEdge Pro Atomic Force Microscope da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta de ponta projetada para caracterização em nanoescala e imagem de resolução atômica.Com as suas características e capacidades avançadas, este produto é adequado para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação.

Um cenário de aplicação chave para o AtomEdge Pro é na pesquisa em ciência de materiais.Os pesquisadores podem utilizar este microscópio de força de varredura para investigar a morfologia da superfície e as propriedades mecânicas de vários materiais a nível nanoA alta resolução de 0,04 nm permite a obtenção de imagens detalhadas das estruturas atómicas, tornando-a uma ferramenta essencial para o estudo das propriedades dos materiais.

Outra área de aplicação importante para o AtomEdge Pro é o campo das ciências biológicas.com alta precisão e resoluçãoO estágio XY motorizado com resolução de 100 μm permite o posicionamento preciso das amostras, tornando-o ideal para a obtenção de imagens de amostras biológicas com estruturas complexas.

No campo da pesquisa e desenvolvimento de semicondutores, o AtomEdge Pro pode ser usado para analisar materiais e dispositivos semicondutores a nível atômico.1 Hz-30 Hz permite a aquisição rápida de dados, tornando-a uma ferramenta valiosa para a caracterização de estruturas de semicondutores e detecção de defeitos.

Além disso, o AtomEdge Pro também é adequado para aplicações em ciência de superfície e análise de filme fino.rugosidade da superfícieA faixa de digitalização de 100 μm x 100 μm x 10 μm fornece uma plataforma versátil para estudar uma ampla gama de propriedades da superfície.

Em resumo, o Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope é uma ferramenta versátil que encontra aplicações em vários campos como ciência de materiais, biologia, pesquisa de semicondutores,e ciências da superfícieSua alta resolução, velocidade de digitalização,e estágio XY motorizado torná-lo uma escolha ideal para pesquisadores e cientistas que buscam caracterização avançada em nanoescala e capacidades de imagem de resolução atômica.

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