Microscopio di forza atomica ad alta risoluzione 0,04 Nm Microscopio industriale per analisi su nanoscala

Descrizione del Prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento versatile per l'analisi delle superfici, comunemente utilizzato in varie applicazioni scientifiche e industriali. Questo dispositivo all'avanguardia offre eccezionali capacità di scansione e imaging preciso per l'analisi dettagliata dei campioni.

Una delle caratteristiche principali dell'AFM è la sua impressionante gamma di velocità di scansione, che consente una scansione precisa a velocità comprese tra 0,1 Hz e 30 Hz. Questa flessibilità nella velocità di scansione consente agli utenti di regolare le impostazioni in base alle specifiche esigenze dei loro esperimenti, garantendo risultati accurati ed efficienti.

Con un intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm X 10μm, l'AFM offre una visione completa della superficie del campione con alta risoluzione. Questo ampio intervallo di scansione consente l'imaging e l'analisi dettagliati di vari tipi di campioni, rendendolo uno strumento ideale per ricercatori e scienziati in una vasta gamma di settori.

L'AFM è progettato per ospitare campioni di dimensioni fino a 25 mm, offrendo versatilità nella gestione e nell'analisi dei campioni. Questa generosa capacità di dimensioni del campione rende l'AFM adatto a una vasta gamma di applicazioni, dalla ricerca in nanotecnologia alla scienza dei materiali e oltre.

Dotato di un tavolino XY motorizzato con risoluzione di 100 μm, l'AFM garantisce un movimento preciso e controllato del tavolino del campione durante la scansione. Questa funzionalità avanzata di controllo del tavolino consente un posizionamento accurato del campione, consentendo imaging e analisi di alta qualità con un errore minimo.

L'AFM offre una varietà di modalità di scansione, tra cui modalità a contatto, tapping, non a contatto, forza laterale e modulazione di forza. Queste diverse modalità di scansione offrono agli utenti flessibilità nelle tecniche di imaging e analisi, consentendo un'indagine completa delle superfici e delle proprietà dei campioni.

In conclusione, il Microscopio a Forza Atomica è uno strumento potente e versatile per l'analisi delle superfici, comunemente utilizzato nella ricerca scientifica, nella caratterizzazione dei materiali e nelle applicazioni industriali. Con le sue capacità di scansione avanzate, l'imaging preciso e le versatili modalità di scansione, l'AFM è uno strumento essenziale per ricercatori e scienziati che cercano approfondimenti dettagliati sulle proprietà di vari campioni.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Velocità di scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Intervallo di scansione: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Tavolino porta-campioni: Tavolino XY motorizzato con risoluzione di 100 μm
• Modalità di scansione: Contatto, Tapping, Non a contatto, Forza laterale, Modulazione di forza
• Risoluzione: 0,04 Nm

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per la caratterizzazione su scala nanometrica e l'imaging a risoluzione atomica. Con le sue funzionalità e capacità avanzate, questo prodotto è adatto a una vasta gamma di occasioni e scenari applicativi.

Uno scenario applicativo chiave per l'AtomEdge Pro è nella ricerca sulla scienza dei materiali. I ricercatori possono utilizzare questo microscopio a forza di scansione per indagare la morfologia della superficie e le proprietà meccaniche di vari materiali a livello nanometrico. L'alta risoluzione di 0,04 nm consente l'imaging dettagliato delle strutture atomiche, rendendolo uno strumento essenziale per lo studio delle proprietà dei materiali.

Un'altra importante area di applicazione per l'AtomEdge Pro è nel campo delle scienze biologiche. I biologi possono utilizzare questo strumento per studiare campioni biologici, come cellule e tessuti, con alta precisione e risoluzione. Il tavolino XY motorizzato con risoluzione di 100 μm consente un posizionamento preciso dei campioni, rendendolo ideale per l'imaging di campioni biologici con strutture complesse.

Nel campo della ricerca e dello sviluppo dei semiconduttori, l'AtomEdge Pro può essere utilizzato per l'analisi di materiali e dispositivi a semiconduttore a livello atomico. La gamma di velocità di scansione di 0,1 Hz-30 Hz consente l'acquisizione rapida dei dati, rendendolo uno strumento prezioso per la caratterizzazione delle strutture a semiconduttore e il rilevamento dei difetti.

Inoltre, l'AtomEdge Pro è adatto anche per applicazioni nella scienza delle superfici e nell'analisi dei film sottili. I ricercatori possono utilizzare questo microscopio a forza atomica per indagare le proprietà dei film sottili, la rugosità della superficie e le caratteristiche topografiche con alta precisione. L'intervallo di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm fornisce una piattaforma versatile per lo studio di una vasta gamma di proprietà della superficie.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è uno strumento versatile che trova applicazioni in vari campi come la scienza dei materiali, la biologia, la ricerca sui semiconduttori e la scienza delle superfici. La sua alta risoluzione, la velocità di scansione e il tavolino XY motorizzato lo rendono una scelta ideale per ricercatori e scienziati che cercano capacità avanzate di caratterizzazione su scala nanometrica e imaging a risoluzione atomica.