Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi 0.04 nm Mikroskop Industri Untuk Analisis Skala Nano

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umum digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Perangkat canggih ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa dan pencitraan yang tepat untuk analisis sampel yang mendetail.

Salah satu fitur utama AFM adalah Rentang Kecepatan Pemindaiannya yang mengesankan, yang memungkinkan pemindaian yang tepat pada kecepatan mulai dari 0,1 Hz hingga 30 Hz. Fleksibilitas dalam kecepatan pemindaian ini memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan pengaturan berdasarkan persyaratan khusus dari eksperimen mereka, memastikan hasil yang akurat dan efisien.

Dengan Rentang Pemindaian 100 μm X 100 μm X 10μm, AFM memberikan tampilan komprehensif dari permukaan sampel dengan resolusi tinggi. Rentang pemindaian yang luas ini memungkinkan pencitraan dan analisis mendetail dari berbagai jenis sampel, menjadikannya alat yang ideal untuk peneliti dan ilmuwan di berbagai bidang.

AFM dirancang untuk mengakomodasi Ukuran Sampel hingga 25 mm, menawarkan fleksibilitas dalam penanganan dan analisis sampel. Kapasitas ukuran sampel yang besar ini membuat AFM cocok untuk berbagai aplikasi, mulai dari penelitian nanoteknologi hingga ilmu material dan seterusnya.

Dilengkapi dengan Panggung XY Bermotor dengan resolusi 100 μm, AFM memastikan pergerakan panggung sampel yang tepat dan terkontrol selama pemindaian. Fitur kontrol panggung canggih ini memungkinkan penempatan sampel yang akurat, memungkinkan pencitraan dan analisis berkualitas tinggi dengan kesalahan minimal.

AFM menawarkan berbagai Mode Pemindaian, termasuk mode Kontak, Tapping, Non-kontak, Gaya Lateral, dan Modulasi Gaya. Mode pemindaian yang berbeda ini memberi pengguna fleksibilitas dalam teknik pencitraan dan analisis, memungkinkan penyelidikan komprehensif dari permukaan dan sifat sampel.

Kesimpulannya, Mikroskop Gaya Atom adalah alat yang kuat dan serbaguna untuk analisis permukaan, yang umum digunakan dalam penelitian ilmiah, karakterisasi material, dan aplikasi industri. Dengan kemampuan pemindaian canggih, pencitraan yang tepat, dan mode pemindaian yang serbaguna, AFM adalah instrumen penting bagi para peneliti dan ilmuwan yang mencari wawasan mendetail tentang sifat berbagai sampel.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Kecepatan Pemindaian: 0,1 Hz-30 Hz
• Rentang Pemindaian: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Panggung Sampel: Panggung XY Bermotor Dengan Resolusi 100 μm
• Mode Pemindaian: Kontak, Tapping, Non-kontak, Gaya Lateral, Modulasi Gaya
• Resolusi: 0,04 nm

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro dari Truth Instruments, yang berasal dari China, adalah alat canggih yang dirancang untuk karakterisasi skala nano dan pencitraan resolusi atom. Dengan fitur dan kemampuannya yang canggih, produk ini cocok untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi.

Salah satu skenario aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah dalam penelitian ilmu material. Peneliti dapat menggunakan mikroskop gaya pemindaian ini untuk menyelidiki morfologi permukaan dan sifat mekanik dari berbagai material pada tingkat skala nano. Resolusi tinggi 0,04 nm memungkinkan pencitraan mendetail dari struktur atom, menjadikannya alat penting untuk mempelajari sifat material.

Area aplikasi penting lainnya untuk AtomEdge Pro adalah di bidang ilmu biologi. Ahli biologi dapat menggunakan instrumen ini untuk mempelajari sampel biologis, seperti sel dan jaringan, dengan presisi dan resolusi tinggi. Panggung XY bermotor dengan resolusi 100 μm memungkinkan penempatan sampel yang tepat, menjadikannya ideal untuk pencitraan sampel biologis dengan struktur kompleks.

Di bidang penelitian dan pengembangan semikonduktor, AtomEdge Pro dapat digunakan untuk menganalisis material dan perangkat semikonduktor pada tingkat atom. Rentang kecepatan pemindaian 0,1 Hz-30 Hz memungkinkan akuisisi data yang cepat, menjadikannya alat yang berharga untuk mengkarakterisasi struktur semikonduktor dan mendeteksi cacat.

Selanjutnya, AtomEdge Pro juga cocok untuk aplikasi dalam ilmu permukaan dan analisis film tipis. Peneliti dapat menggunakan mikroskop gaya atom ini untuk menyelidiki sifat film tipis, kekasaran permukaan, dan fitur topografi dengan akurasi tinggi. Rentang pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm menyediakan platform serbaguna untuk mempelajari berbagai sifat permukaan.

Singkatnya, Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro dari Truth Instruments adalah alat serbaguna yang menemukan aplikasi di berbagai bidang seperti ilmu material, biologi, penelitian semikonduktor, dan ilmu permukaan. Resolusi tinggi, kecepatan pemindaian, dan panggung XY bermotor menjadikannya pilihan ideal bagi para peneliti dan ilmuwan yang mencari karakterisasi skala nano canggih dan kemampuan pencitraan resolusi atom.