Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi 0.04 Nm Mikroskop Industri Untuk Analisis Skala Nano

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umumnya digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri.Perangkat mutakhir ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa dan pencitraan yang tepat untuk analisis sampel secara rinci.

Salah satu fitur utama AFM adalah rentang Kecepatan Pemindaian yang mengesankan, yang memungkinkan pemindaian yang tepat pada kecepatan mulai dari 0,1Hz hingga 30Hz.Fleksibilitas ini dalam kecepatan pemindaian memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan pengaturan berdasarkan persyaratan khusus percobaan mereka, memastikan hasil yang akurat dan efisien.

Dengan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM memberikan tampilan komprehensif permukaan sampel dengan resolusi tinggi.Rentang pemindaian yang luas ini memungkinkan pencitraan dan analisis rinci dari berbagai jenis sampel, menjadikannya alat yang ideal bagi peneliti dan ilmuwan di berbagai bidang.

AFM dirancang untuk mengakomodasi Ukuran Sampel hingga 25 mm, menawarkan fleksibilitas dalam penanganan dan analisis sampel.Kapasitas ukuran sampel yang murah hati ini membuat AFM cocok untuk berbagai aplikasi, dari penelitian nanoteknologi hingga ilmu material dan seterusnya.

Dilengkapi dengan Motorized XY Stage dengan resolusi 100 μm, AFM memastikan gerakan tahap sampel yang tepat dan terkontrol selama pemindaian.Fitur kontrol tahap canggih ini memungkinkan untuk posisi yang akurat dari sampel, memungkinkan pencitraan dan analisis berkualitas tinggi dengan kesalahan minimal.

AFM menawarkan berbagai Mode Pemindaian, termasuk Kontak, Mengetuk, Non-kontak, Lateral Force, dan Force Modulation mode.Modus pemindaian yang berbeda ini memberikan pengguna fleksibilitas dalam teknik pencitraan dan analisis, yang memungkinkan untuk penyelidikan komprehensif permukaan sampel dan sifat.

Kesimpulannya, Mikroskop Kekuatan Atom adalah alat yang kuat dan serbaguna untuk analisis permukaan, yang umumnya digunakan dalam penelitian ilmiah, karakterisasi bahan, dan aplikasi industri.Dengan kemampuan pemindaiannya yang canggih, pencitraan yang tepat, dan modus pemindaian serbaguna, AFM adalah instrumen penting bagi peneliti dan ilmuwan yang mencari wawasan rinci tentang sifat berbagai sampel.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Kecepatan pemindaian: 0.1Hz-30Hz
• Jangkauan pemindaian: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Tahap Sampel: Tahap XY Bermotor Dengan Resolusi 100 μm
• Modus pemindaian: Kontak, Mengetuk, Tanpa Kontak, Kekuatan lateral, Modulasi kekuatan
• Resolusi: 0,04 Nm

Parameter teknis:

Aplikasi:

AtomEdge Pro Atomic Force Microscope dari Truth Instruments, yang berasal dari China, adalah alat mutakhir yang dirancang untuk karakterisasi skala nano dan pencitraan resolusi atom.Dengan fitur dan kemampuannya yang canggih, produk ini cocok untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi.

Salah satu skenario aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah dalam penelitian ilmu material.Para peneliti dapat menggunakan mikroskop kekuatan pemindaian ini untuk menyelidiki morfologi permukaan dan sifat mekanik berbagai bahan pada tingkat nanoskalaResolusi tinggi 0,04 nm memungkinkan pencitraan detail struktur atom, menjadikannya alat penting untuk mempelajari sifat material.

Bidang aplikasi penting lainnya untuk AtomEdge Pro adalah di bidang ilmu biologi. Ahli biologi dapat menggunakan instrumen ini untuk mempelajari sampel biologis, seperti sel dan jaringan,dengan presisi dan resolusi tinggiTahap XY bermotor dengan resolusi 100 μm memungkinkan posisi sampel yang tepat, menjadikannya ideal untuk pencitraan sampel biologis dengan struktur yang kompleks.

Dalam bidang penelitian dan pengembangan semikonduktor, AtomEdge Pro dapat digunakan untuk menganalisis bahan dan perangkat semikonduktor pada tingkat atom.1Hz-30Hz memungkinkan untuk akuisisi data yang cepat, menjadikannya alat yang berharga untuk mencirikan struktur semikonduktor dan mendeteksi cacat.

Selain itu, AtomEdge Pro juga cocok untuk aplikasi dalam ilmu permukaan dan analisis film tipis. Peneliti dapat menggunakan mikroskop kekuatan atom ini untuk menyelidiki sifat film tipis,keropositas permukaan, dan fitur topografi dengan akurasi tinggi. rentang pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm menyediakan platform serbaguna untuk mempelajari berbagai sifat permukaan.

Singkatnya, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope adalah alat serbaguna yang menemukan aplikasi di berbagai bidang seperti ilmu material, biologi, penelitian semikonduktor,dan ilmu permukaanResolusi tinggi, kecepatan pemindaian,dan tahap XY bermotor membuatnya menjadi pilihan ideal bagi peneliti dan ilmuwan yang mencari karakteristik nanoscale canggih dan kemampuan pencitraan resolusi atom.