0,1 herzios - microscopios de sonda de exploración a nanoescala del microscopio de fuerza atómica de 30 herzios

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta de vanguardia que ofrece capacidades de medición multimodo con resolución nanométrica, lo que lo convierte en un instrumento esencial para diversas aplicaciones de investigación e industriales.

Con una notable resolución de 0,04 nm, el AFM proporciona imágenes y mediciones de alta precisión de la topografía de la superficie a nivel de nanoescala. Esta resolución excepcional permite a los investigadores y científicos explorar y analizar muestras con un detalle y precisión sin precedentes.

El AFM ofrece una versátil gama de modos de escaneo, incluyendo modos de contacto, tapping, sin contacto, fuerza lateral y modulación de fuerza. Esta capacidad multifuncional permite a los usuarios adaptar el AFM a diferentes requisitos experimentales, lo que permite un análisis completo y detallado de una amplia gama de muestras.

Con un rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, el AFM proporciona una amplia cobertura para escanear áreas de muestra grandes, manteniendo al mismo tiempo capacidades de imagen de alta resolución. Este rango de escaneo permite el examen de muestras de varios tamaños, hasta 25 mm, lo que garantiza la flexibilidad en el análisis y la experimentación de muestras.

El AFM ofrece un rango de velocidad de escaneo de 0,1 Hz a 30 Hz, lo que permite a los usuarios ajustar la velocidad de escaneo en función de los requisitos específicos de sus experimentos. Esta flexibilidad en la velocidad de escaneo garantiza la adquisición y el análisis eficientes de datos, lo que mejora la productividad y la eficacia generales de los procesos de investigación y análisis.

En resumen, el microscopio de fuerza atómica es un instrumento de última generación que combina capacidades de medición multimodo, resolución nanométrica y modos de escaneo multifuncionales para proporcionar a los investigadores y científicos una poderosa herramienta para explorar y analizar muestras a nivel de nanoescala. Con su versátil rango de escaneo, imágenes de alta resolución y velocidad de escaneo ajustable, el AFM ofrece una solución integral para una amplia gama de aplicaciones de investigación e industriales.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Resolución: 0,04 nm
• Velocidad de escaneo: 0,1 Hz-30 Hz
• Etapa de muestra: Etapa XY motorizada con resolución de 100 μm
• Rango de escaneo: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Modos de escaneo: Contacto, Tapping, Sin contacto, Fuerza lateral, Modulación de fuerza

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

Truth Instruments presenta el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro, una herramienta de vanguardia diseñada para la obtención de imágenes a nanoescala y la caracterización a nanoescala en una variedad de aplicaciones. Con sus orígenes en China, este microscopio avanzado ofrece una precisión y versatilidad sin igual para una amplia gama de escenarios de investigación e industriales.

El AtomEdge Pro presenta un rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm, lo que permite a los usuarios explorar muestras con alta resolución y precisión. Equipado con una etapa XY motorizada con una resolución de 100 μm, este microscopio permite el posicionamiento y el escaneo precisos de muestras para un análisis detallado.

Una de las principales fortalezas del AtomEdge Pro reside en sus modos de escaneo, que incluyen contacto, tapping, sin contacto, fuerza lateral y modulación de fuerza. Esta versatilidad permite a los investigadores adaptar el microscopio a diferentes tipos de muestras y requisitos experimentales, lo que lo hace ideal para la obtención de imágenes y la caracterización a nanoescala.

Los investigadores pueden ajustar la velocidad de escaneo del AtomEdge Pro de 0,1 Hz a 30 Hz, lo que proporciona flexibilidad para capturar procesos dinámicos y detalles finos a nivel de nanoescala. La alta resolución de 0,04 nm garantiza mediciones e imágenes precisas, esenciales para el análisis en profundidad de las propiedades de la muestra.

Con sus capacidades avanzadas y su ingeniería de precisión, el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es adecuado para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos. Desde la ciencia de los materiales y la investigación de semiconductores hasta los estudios biológicos y el análisis de superficies, este microscopio de sonda de barrido ofrece un rendimiento y una fiabilidad inigualables para investigaciones exigentes a nanoescala.