0,1 Hz - 30 Hz Atomik Kuvvet Mikroskobu Nano Ölçekli Taramalı Prob Mikroskopları

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre çözünürlüğe sahip çok modlu ölçüm yetenekleri sunan, çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için vazgeçilmez bir araçtır.

0,04 nm'lik olağanüstü bir çözünürlükle AFM, nanometre ölçeğinde yüzey topografyasının yüksek hassasiyetli görüntülenmesini ve ölçülmesini sağlar. Bu olağanüstü çözünürlük, araştırmacıların ve bilim insanlarının örnekleri benzeri görülmemiş detay ve doğrulukla keşfetmelerini ve analiz etmelerini sağlar.

AFM, Temas, Dokunma, Temassız, Yanal Kuvvet ve Kuvvet Modülasyon modları dahil olmak üzere çok çeşitli tarama modları sunar. Bu çok işlevli yetenek, kullanıcıların AFM'yi farklı deneysel gereksinimlere uyarlamasına olanak tanıyarak, çok çeşitli örneklerin kapsamlı ve ayrıntılı analizini sağlar.

100 μm X 100 μm X 10 μm'lik bir tarama aralığına sahip olan AFM, yüksek çözünürlüklü görüntüleme yeteneklerini korurken, büyük numune alanlarını taramak için yeterli kapsama alanı sağlar. Bu tarama aralığı, 25 mm'ye kadar değişen boyutlardaki numunelerin incelenmesine olanak tanıyarak, numune analizi ve deneylerde esneklik sağlar.

AFM, 0,1 Hz ila 30 Hz arasında bir tarama hızı aralığı sunarak, kullanıcıların tarama hızını deneylerinin özel gereksinimlerine göre ayarlamasına olanak tanır. Tarama hızındaki bu esneklik, verimli veri elde etme ve analiz sağlar, araştırma ve analiz süreçlerinin genel verimliliğini ve etkinliğini artırır.

Özetle, Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok modlu ölçüm yeteneklerini, nanometre çözünürlüğünü ve çok işlevli tarama modlarını bir araya getirerek, araştırmacılara ve bilim insanlarına, örnekleri nanometre ölçeğinde keşfetmeleri ve analiz etmeleri için güçlü bir araç sunan son teknoloji bir cihazdır. Çok yönlü tarama aralığı, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve ayarlanabilir tarama hızı ile AFM, çok çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için kapsamlı bir çözüm sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Çözünürlük: 0,04 nm
• Tarama Hızı: 0,1 Hz-30 Hz
• Numune Platformu: 100 μm Çözünürlüklü Motorlu XY Platformu
• Tarama Aralığı: 100 μm X 100 μm X 10μm
• Tarama Modları: Temas, Dokunma, Temassız, Yanal Kuvvet, Kuvvet Modülasyonu

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Truth Instruments, çeşitli uygulamalarda nanometre ölçekli görüntüleme ve nanometre ölçekli karakterizasyon için tasarlanmış son teknoloji bir araç olan AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobunu sunar. Çin'den gelen bu gelişmiş mikroskop, çok çeşitli araştırma ve endüstriyel senaryolar için benzersiz hassasiyet ve çok yönlülük sunar.

AtomEdge Pro, kullanıcıların örnekleri yüksek çözünürlük ve doğrulukla keşfetmelerine olanak tanıyan 100 μm x 100 μm x 10 μm'lik bir tarama aralığına sahiptir. 100 μm çözünürlüğe sahip motorlu bir XY platformu ile donatılan bu mikroskop, ayrıntılı analiz için numunelerin hassas bir şekilde konumlandırılmasını ve taranmasını sağlar.

AtomEdge Pro'nun temel güçlü yönlerinden biri, temas, dokunma, temassız, yanal kuvvet ve kuvvet modülasyonunu içeren tarama modlarıdır. Bu çok yönlülük, araştırmacıların mikroskobu farklı numune türlerine ve deneysel gereksinimlere uyarlamasına olanak tanıyarak, onu nanometre ölçekli görüntüleme ve karakterizasyon için ideal hale getirir.

Araştırmacılar, dinamik süreçleri ve nanometre ölçeğindeki ince detayları yakalamak için AtomEdge Pro'nun tarama hızını 0,1 Hz ila 30 Hz arasında ayarlayabilirler. 0,04 nm'lik yüksek çözünürlük, numune özelliklerinin derinlemesine analizi için gerekli olan doğru ölçümleri ve görüntülemeyi sağlar.

Gelişmiş yetenekleri ve hassas mühendisliği ile Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli ürün uygulaması durumları ve senaryoları için uygundur. Malzeme bilimi ve yarı iletken araştırmalarından biyolojik çalışmalara ve yüzey analizine kadar, bu taramalı prob mikroskobu, zorlu nanometre ölçekli araştırmalar için eşsiz performans ve güvenilirlik sunar.