0,1 hertz - 30 hertz de microscópios de ponta de prova de varredura em nanoescala do microscópio de força atômica
0Microscópio de Força Atómica de.1 Hz
,Microscópio de Força Atómica de 30 Hz
,Microscópios de sonda de varredura em nanoescala
Propriedades básicas
Propriedades comerciais
Microscópio de Sonda de Varredura Avançado para Medições em Nanoescala
Descrição do Produto:
O Microscópio de Força Atômica (AFM) é uma ferramenta de ponta que oferece capacidades de medição multi-modo com resolução em nanômetros, tornando-o um instrumento essencial para diversas aplicações de pesquisa e industriais.
Com uma resolução notável de 0,04 nm, o AFM fornece imagem e medição de alta precisão da topografia da superfície em nível de nanoescala. Essa resolução excepcional permite que pesquisadores e cientistas explorem e analisem amostras com detalhes e precisão sem precedentes.
O AFM oferece uma gama versátil de modos de varredura, incluindo modos de Contato, Tapping, Sem contato, Força Lateral e Modulação de Força. Essa capacidade multifuncional permite que os usuários adaptem o AFM a diferentes requisitos experimentais, permitindo uma análise abrangente e detalhada de uma ampla gama de amostras.
Apresentando uma faixa de varredura de 100 μm X 100 μm X 10 μm, o AFM oferece ampla cobertura para varrer grandes áreas de amostra, mantendo capacidades de imagem de alta resolução. Essa faixa de varredura permite a análise de amostras de vários tamanhos, até 25 mm, garantindo flexibilidade na análise e experimentação de amostras.
O AFM oferece uma faixa de velocidade de varredura de 0,1 Hz a 30 Hz, permitindo que os usuários ajustem a velocidade de varredura com base nos requisitos específicos de seus experimentos. Essa flexibilidade na velocidade de varredura garante a aquisição e análise eficientes de dados, aprimorando a produtividade geral e a eficácia dos processos de pesquisa e análise.
Em resumo, o Microscópio de Força Atômica é um instrumento de última geração que combina capacidades de medição multi-modo, resolução em nanômetros e modos de varredura multifuncionais para fornecer aos pesquisadores e cientistas uma ferramenta poderosa para explorar e analisar amostras em nível de nanoescala. Com sua faixa de varredura versátil, imagem de alta resolução e velocidade de varredura ajustável, o AFM oferece uma solução abrangente para uma ampla gama de aplicações de pesquisa e industriais.
Características:
- Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
- Resolução: 0,04 nm
- Velocidade de Varredura: 0,1 Hz-30 Hz
- Estágio da Amostra: Estágio XY Motorizado com Resolução de 100 μm
- Faixa de Varredura: 100 μm X 100 μm X 10μm
- Modos de Varredura: Contato, Tapping, Sem contato, Força Lateral, Modulação de Força
Parâmetros Técnicos:
| Parâmetro Técnico | Valor |
|---|---|
| Faixa de Varredura | 100 μm X 100 μm X 10 μm |
| Resolução | 0,04 nm |
| Modos de Varredura | Contato, Tapping, Sem contato, Força Lateral, Modulação de Força |
| Tamanho da Amostra | Até 25 mm |
| Velocidade de Varredura | 0,1 Hz-30 Hz |
| Estágio da Amostra | Estágio XY Motorizado com Resolução de 100 μm |
Aplicações:
A Truth Instruments apresenta o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro, uma ferramenta de ponta projetada para imagem em nanoescala e caracterização em nanoescala em uma variedade de aplicações. Com suas origens na China, este microscópio avançado oferece precisão e versatilidade incomparáveis para uma ampla gama de cenários de pesquisa e industriais.
O AtomEdge Pro apresenta uma faixa de varredura de 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo que os usuários explorem amostras com alta resolução e precisão. Equipado com um estágio XY motorizado com resolução de 100 μm, este microscópio permite o posicionamento e a varredura precisos de amostras para análise detalhada.
Uma das principais vantagens do AtomEdge Pro reside em seus modos de varredura, que incluem contato, tapping, sem contato, força lateral e modulação de força. Essa versatilidade permite que os pesquisadores adaptem o microscópio a diferentes tipos de amostras e requisitos experimentais, tornando-o ideal para imagem e caracterização em nanoescala.
Os pesquisadores podem ajustar a velocidade de varredura do AtomEdge Pro de 0,1 Hz a 30 Hz, proporcionando flexibilidade para capturar processos dinâmicos e detalhes finos em nível de nanoescala. A alta resolução de 0,04 nm garante medições e imagens precisas, essenciais para a análise aprofundada das propriedades da amostra.
Com suas capacidades avançadas e engenharia de precisão, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é adequado para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação de produtos. Da ciência dos materiais e pesquisa de semicondutores a estudos biológicos e análise de superfície, este microscópio de sonda de varredura oferece desempenho e confiabilidade incomparáveis para investigações exigentes em nanoescala.