میکروسکوپ کاوشگر اسکن نانومقیاس 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته را با وضوح نانومتری ارائه می‌دهد و آن را به یک ابزار ضروری برای کاربردهای مختلف تحقیقاتی و صنعتی تبدیل می‌کند.

با وضوح قابل توجه 0.04 نانومتر، AFM تصویربرداری و اندازه‌گیری با دقت بالا از توپوگرافی سطح را در سطح نانومقیاس ارائه می‌دهد. این وضوح استثنایی به محققان و دانشمندان اجازه می‌دهد تا نمونه‌ها را با جزئیات و دقت بی‌سابقه‌ای بررسی و تجزیه و تحلیل کنند.

AFM طیف متنوعی از حالت‌های اسکن، از جمله حالت‌های تماس، ضربه‌ای، غیر تماسی، نیروی جانبی و مدولاسیون نیرو را ارائه می‌دهد. این قابلیت چند منظوره کاربران را قادر می‌سازد تا AFM را با الزامات مختلف تجربی تطبیق دهند و امکان تجزیه و تحلیل جامع و دقیق طیف گسترده‌ای از نمونه‌ها را فراهم کنند.

با داشتن محدوده اسکن 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر، AFM پوشش کافی برای اسکن مناطق بزرگ نمونه در حالی که حفظ قابلیت‌های تصویربرداری با وضوح بالا را فراهم می‌کند. این محدوده اسکن امکان بررسی نمونه‌هایی با اندازه‌های مختلف، تا 25 میلی‌متر را فراهم می‌کند و از انعطاف‌پذیری در تجزیه و تحلیل و آزمایش نمونه اطمینان حاصل می‌کند.

AFM محدوده سرعت اسکن 0.1 هرتز تا 30 هرتز را ارائه می‌دهد و به کاربران اجازه می‌دهد سرعت اسکن را بر اساس الزامات خاص آزمایش‌های خود تنظیم کنند. این انعطاف‌پذیری در سرعت اسکن، دستیابی و تجزیه و تحلیل کارآمد داده‌ها را تضمین می‌کند و بهره‌وری و اثربخشی کلی فرآیندهای تحقیق و تجزیه و تحلیل را افزایش می‌دهد.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار پیشرفته است که قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته، وضوح نانومتری و حالت‌های اسکن چند منظوره را ترکیب می‌کند تا ابزاری قدرتمند برای بررسی و تجزیه و تحلیل نمونه‌ها در سطح نانومقیاس در اختیار محققان و دانشمندان قرار دهد. AFM با محدوده اسکن متنوع، تصویربرداری با وضوح بالا و سرعت اسکن قابل تنظیم، یک راه‌حل جامع برای طیف گسترده‌ای از کاربردهای تحقیقاتی و صنعتی ارائه می‌دهد.

ویژگی‌ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• وضوح: 0.04 نانومتر
• سرعت اسکن: 0.1 هرتز - 30 هرتز
• مرحله نمونه: مرحله XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر
• محدوده اسکن: 100 میکرومتر X 100 میکرومتر X 10 میکرومتر
• حالت‌های اسکن: تماس، ضربه‌ای، غیر تماسی، نیروی جانبی، مدولاسیون نیرو

پارامترهای فنی:

کاربردها:

Truth Instruments میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro را ارائه می‌دهد، یک ابزار پیشرفته که برای تصویربرداری در مقیاس نانو و مشخصه‌یابی در مقیاس نانو در انواع کاربردها طراحی شده است. این میکروسکوپ پیشرفته که منشا آن در چین است، دقت و تطبیق‌پذیری بی‌نظیری را برای طیف گسترده‌ای از سناریوهای تحقیقاتی و صنعتی ارائه می‌دهد.

AtomEdge Pro دارای محدوده اسکن 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر است که به کاربران امکان می‌دهد نمونه‌ها را با وضوح و دقت بالا بررسی کنند. این میکروسکوپ مجهز به یک مرحله XY موتوری با وضوح 100 میکرومتر، امکان موقعیت‌یابی و اسکن دقیق نمونه‌ها را برای تجزیه و تحلیل دقیق فراهم می‌کند.

یکی از نقاط قوت کلیدی AtomEdge Pro در حالت‌های اسکن آن نهفته است که شامل تماس، ضربه‌ای، غیر تماسی، نیروی جانبی و مدولاسیون نیرو می‌شود. این تطبیق‌پذیری به محققان اجازه می‌دهد تا میکروسکوپ را با انواع مختلف نمونه‌ها و الزامات تجربی تطبیق دهند و آن را برای تصویربرداری و مشخصه‌یابی در مقیاس نانو ایده‌آل می‌کند.

محققان می‌توانند سرعت اسکن AtomEdge Pro را از 0.1 هرتز تا 30 هرتز تنظیم کنند و انعطاف‌پذیری برای ثبت فرآیندهای پویا و جزئیات ظریف در سطح نانومقیاس را فراهم کنند. وضوح بالای 0.04 نانومتر اندازه‌گیری و تصویربرداری دقیق را تضمین می‌کند که برای تجزیه و تحلیل عمیق خواص نمونه ضروری است.

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments با قابلیت‌های پیشرفته و مهندسی دقیق خود برای طیف گسترده‌ای از موارد و سناریوهای کاربرد محصول مناسب است. از علم مواد و تحقیقات نیمه‌هادی‌ها گرفته تا مطالعات بیولوژیکی و تجزیه و تحلیل سطح، این میکروسکوپ پروب اسکن عملکرد و قابلیت اطمینان بی‌نظیری را برای تحقیقات در مقیاس نانو ارائه می‌دهد.