Microscopi con sonda a scansione su scala nanometrica per microscopio a forza atomica da 0,1 Hz - 30 Hz

Descrizione del prodotto:

Il microscopio a forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia che offre capacità di misurazione multi-modalità con risoluzione nanometrica, rendendolo uno strumento essenziale per varie applicazioni di ricerca e industriali.

Con una notevole risoluzione di 0,04 nm, l'AFM fornisce imaging e misurazione di alta precisione della topografia della superficie a livello di nanoscala. Questa eccezionale risoluzione consente a ricercatori e scienziati di esplorare e analizzare campioni con dettagli e accuratezza senza precedenti.

L'AFM offre una versatile gamma di modalità di scansione, tra cui modalità Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force e Force Modulation. Questa capacità multifunzionale consente agli utenti di adattare l'AFM a diverse esigenze sperimentali, consentendo un'analisi completa e dettagliata di un'ampia gamma di campioni.

Caratterizzato da un intervallo di scansione di 100 μm X 100 μm X 10 μm, l'AFM offre un'ampia copertura per la scansione di ampie aree di campioni mantenendo al contempo capacità di imaging ad alta risoluzione. Questo intervallo di scansione consente l'esame di campioni di varie dimensioni, fino a 25 mm, garantendo flessibilità nell'analisi e nella sperimentazione dei campioni.

L'AFM offre un intervallo di velocità di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, consentendo agli utenti di regolare la velocità di scansione in base alle specifiche esigenze dei loro esperimenti. Questa flessibilità nella velocità di scansione garantisce un'acquisizione e un'analisi efficienti dei dati, migliorando la produttività e l'efficacia complessiva dei processi di ricerca e analisi.

In sintesi, il microscopio a forza atomica è uno strumento all'avanguardia che combina capacità di misurazione multi-modalità, risoluzione nanometrica e modalità di scansione multifunzionali per fornire a ricercatori e scienziati uno strumento potente per esplorare e analizzare campioni a livello di nanoscala. Con il suo versatile intervallo di scansione, l'imaging ad alta risoluzione e la velocità di scansione regolabile, l'AFM offre una soluzione completa per un'ampia gamma di applicazioni di ricerca e industriali.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a forza atomica
• Risoluzione: 0,04 nm
• Velocità di scansione: 0,1 Hz-30 Hz
• Stadio del campione: Stadio XY motorizzato con risoluzione di 100 μm
• Intervallo di scansione: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Modalità di scansione: Contact, Tapping, Non-contact, Lateral Force, Force Modulation

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Truth Instruments presenta il microscopio a forza atomica AtomEdge Pro, uno strumento all'avanguardia progettato per l'imaging e la caratterizzazione su nanoscala in una varietà di applicazioni. Con le sue origini in Cina, questo microscopio avanzato offre precisione e versatilità senza pari per un'ampia gamma di scenari di ricerca e industriali.

L'AtomEdge Pro è dotato di un intervallo di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm, che consente agli utenti di esplorare i campioni con alta risoluzione e accuratezza. Dotato di uno stadio XY motorizzato con risoluzione di 100 μm, questo microscopio consente il posizionamento e la scansione precisi dei campioni per un'analisi dettagliata.

Uno dei punti di forza chiave dell'AtomEdge Pro risiede nelle sue modalità di scansione, che includono contatto, tapping, non contatto, forza laterale e modulazione di forza. Questa versatilità consente ai ricercatori di adattare il microscopio a diversi tipi di campioni e requisiti sperimentali, rendendolo ideale per l'imaging e la caratterizzazione su nanoscala.

I ricercatori possono regolare la velocità di scansione dell'AtomEdge Pro da 0,1 Hz a 30 Hz, offrendo la flessibilità di catturare processi dinamici e dettagli fini a livello di nanoscala. L'alta risoluzione di 0,04 nm garantisce misurazioni e imaging accurati, essenziali per un'analisi approfondita delle proprietà del campione.

Con le sue capacità avanzate e l'ingegneria di precisione, il microscopio a forza atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è adatto a un'ampia gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto. Dalla scienza dei materiali e dalla ricerca sui semiconduttori agli studi biologici e all'analisi delle superfici, questo microscopio a sonda a scansione offre prestazioni e affidabilità senza pari per indagini impegnative su nanoscala.