0.1 Hz ～ 30 Hz 原子間力顕微鏡 ナノスケール走査型プローブ顕微鏡

製品説明:

原子力顕微鏡 (AFM) は ナノメートルの解像度で多モード測定能力を提供する 最先端のツールです様々な研究や産業用アプリケーションにとって不可欠なツールとなる.

0.04nmの驚くべき解像度で,AFMはナノスケールレベルで高精度画像と表面地形の測定を提供します.この卓越した解像度により 研究者や科学者は 試料を未曾有の詳細と精度で調査し分析することができます.

AFMは,コンタクト,タッピング,非コンタクト,横向き力,力調節モードを含む汎用的なスキャンモードを提供しています.この多機能性により,使用者はAFMを異なる実験要件に適合させることができます.幅広いサンプルを包括的かつ詳細に分析することができます.

100 μm × 100 μm × 10 μm のスキャン範囲を備えたAFMは,高解像度の画像処理能力を維持しながら,大規模なサンプル領域をスキャンするための十分なカバーを提供します.このスキャニング範囲では,異なるサイズのサンプルを検査できます.試料分析と実験の柔軟性を確保する.

AFMは,スキャン速度を0.1 Hzから30 Hzの範囲で提供し,ユーザーは実験の特定の要件に基づいてスキャン速度を調整することができます.このスキャニング速度の柔軟性は,効率的なデータ収集と分析を保証します.研究と分析プロセスの全体的な生産性と有効性を向上させる.

原子力顕微鏡は 最先端の装置で 多モード測定能力と ナノメートルの解像度研究者や科学者にナノスケールレベルのサンプルを調査し分析するための強力なツールを提供するために汎用的なスキャニング範囲,高解像度画像,調整可能なスキャニング速度により,AFMは幅広い研究および産業用アプリケーションのための包括的なソリューションを提供しています.

特徴:

• 製品名:原子力顕微鏡
• 解像度:0.04nm
• スキャン速度:0.1 Hz-30 Hz
• サンプルステージ: 100 μmの解像度を持つモーター化されたXYステージ
• スキャン範囲: 100μm × 100μm × 10μm
• スキャニングモード:接触,タッピング,非接触,横向き力,力調節

技術パラメータ:

応用:

Truth Instrumentsは,ナノスケール画像とナノスケール特徴化のために設計された最先端のツールである AtomEdge Pro Atomic Force Microscopeを紹介しています.起源は中国この先進的な顕微鏡は,研究や産業用シナリオの広い範囲で,比類のない精度と多用途性を提供しています.

AtomEdge Proは,スキャン範囲が100μm x 100μm x 10μmで,高解像度と精度でサンプルを調査することができます. 100μm解像度を持つモーター化されたXYステージを備えています.この顕微鏡は詳細な分析のためにサンプルを正確に位置付け,スキャンすることができます.

AtomEdge Proの主要な強みの一つは,接触,タップ,非接触,横向き力,力調節を含むスキャンモードにあります.この多用性により,研究者は顕微鏡を異なるサンプルタイプと実験要件に適応させることができます.ナノスケール画像と特徴付けに最適です

研究者はAtomEdge Proのスキャン速度を 0.1 Hz から 30 Hz に調整し,ナノスケールレベルで動的プロセスと細かい詳細を捉えるための柔軟性を提供します.0 の高解像度.04 nm は,サンプル特性の詳細な分析に不可欠な正確な測定とイメージングを保証します.

Truth InstrumentsのAtomEdge Pro原子力顕微鏡は,先端な機能と精密な工学により,幅広い製品用途やシナリオに適しています.材料科学と半導体研究から 生物学研究と表面分析までこのスキャン探査顕微鏡は,要求の高いナノスケールでの調査に匹敵しない性能と信頼性を提供します.