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Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión
Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un sistema AFM avanzado y completo diseñado para ofrecer una precisión y versatilidad sin igual para la obtención de imágenes y mediciones a nanoescala. Utilizando un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este AFM ... -
Modos de contacto/toque para el análisis a nanoescala de materiales subnanométricos
Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un Microscopio de Fuerza de Barrido avanzado diseñado para proporcionar capacidades excepcionales de imagen y medición a nanoescala. Diseñado para la precisión y la versatilidad, este modelo de AFM admite una amplia gama de ... -
Modos MFM/KPFM para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un microscopio de fuerza de escaneo de última generación diseñado para proporcionar capacidades de imagen y medición sin precedentes a nanoescala.Con su avanzado método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este AFM ... -
AFM para análisis preciso de superficies e imágenes a escala nanométrica en investigación científica y aplicaciones industriales
Microscopio de fuerza atómica multifuncional - AtomEdge Pro Introducción del producto El microscopio de fuerza atómica multifuncional AtomEdge Pro puede realizar imágenes de escaneo tridimensionales en materiales, dispositivos electrónicos, muestras biológicas, etc. Cuenta con múltiples modos de ... -
Análisis fiable de la textura de la superficie: AtomExplorer AFM de tipo básico
Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico es un equipo de laboratorio AFM avanzado diseñado para ofrecer una caracterización precisa y fiable de la superficie en una amplia gama de materiales. Diseñado con tecnología AFM de alta estabilidad, este instrumento ... -
Caracterización de la superficie a nanoescala con AtomExplorer AFM
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica de tipo básico (AFM) es un microscopio de sonda de exploración altamente versátil y confiable diseñado específicamente para laboratorios que buscan equipos de AFM avanzados pero fáciles de usar.Este modelo proporciona capacidades completas ... -
AFM de alta estabilidad con modos MFM/EFM para investigación científica
Descripción del producto:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisión, flexibilidad y facilidad de uso, este ... -
AtomExplorer: Herramienta de topografía de precisión para chips y nanomateriales
Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica de tipo básico (AFM) es un instrumento versátil y de alto rendimiento diseñado para satisfacer las diversas necesidades de investigación científica y aplicaciones industriales de I+D.Este AFM multifuncional está equipado con modos de medición ... -
Soluciones AFM versátiles para educación e investigación industrial
Descripción del producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico es un equipo AFM de laboratorio avanzado diseñado para satisfacer las rigurosas exigencias de la investigación científica. Este microscopio AFM combina precisión, versatilidad y fiabilidad, lo que lo convierte en una ...