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Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un sistema AFM avanzato e completo, progettato per offrire precisione e versatilità senza pari per l'imaging e le misurazioni su scala nanometrica. Utilizzando un metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ, questo AFM ... -
Moduli di contatto/tap per l'analisi su nanoscala di materiali sotto nanometro
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione avanzato progettato per fornire eccezionali capacità di imaging e misurazione alla nanoscala. Progettato per precisione e versatilità, questo modello di AFM supporta un'ampia gamma di velocità di ... -
Modalità MFM/KPFM per la caratterizzazione di materiali nanoscopici ad alta precisione
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione all'avanguardia progettato per fornire capacità di imaging e misurazione senza pari a scala nanometrica. Con il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ avanzato, questo AFM ... -
AFM per l'analisi di superficie precisa e l'imaging su scala nanometrica nella ricerca scientifica e nelle applicazioni industriali
Microscopio a forza atomica multifunzionale - AtomEdge Pro Introduzione al prodotto Il microscopio a forza atomica multifunzionale AtomEdge Pro può eseguire l'imaging di scansione tridimensionale su materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici, ecc. È dotato di molteplici modalità di ... -
Analisi affidabile della consistenza superficiale: AtomExplorer AFM di tipo base
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è un'apparecchiatura AFM di laboratorio avanzata progettata per fornire una caratterizzazione precisa e affidabile della superficie su un'ampia gamma di materiali. Progettato con tecnologia AFM ad alta stabilità, questo ... -
Caratterizzazione superficiale su scala nanometrica con AtomExplorer AFM
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è un microscopio a sonda a scansione altamente versatile e affidabile, progettato specificamente per i laboratori che cercano un'apparecchiatura AFM avanzata ma facile da usare. Questo modello offre capacità complete per la ... -
AFM ad alta stabilità con modalità MFM/EFM per la ricerca scientifica
Descrizione del prodotto:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisione, flessibilità e facilità d'uso, questo ... -
AtomExplorer: Strumento di topografia di precisione per chip e nanomateriali
Descrizione del prodotto:Il microscopio a forza atomica (AFM) di tipo Basic è uno strumento versatile e ad alte prestazioni progettato per soddisfare le diverse esigenze della ricerca scientifica e delle applicazioni di ricerca e sviluppo industriale. Questo AFM multifunzionale è dotato di modalità ... -
Soluzioni AFM versatili per l'istruzione e la ricerca industriale
Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Basic è un'apparecchiatura AFM da laboratorio avanzata progettata per soddisfare le rigorose esigenze della ricerca scientifica. Questo microscopio AFM combina precisione, versatilità e affidabilità, rendendolo la scelta ideale ...