Moduli di contatto/tap per l'analisi su nanoscala di materiali sotto nanometro

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione avanzato progettato per fornire eccezionali capacità di imaging e misurazione alla nanoscala. Progettato per precisione e versatilità, questo modello di AFM supporta un'ampia gamma di velocità di scansione da 0,1 Hz fino a 30 Hz, consentendo agli utenti di adattare la velocità di scansione in base alle proprie esigenze applicative specifiche. Che si tratti di condurre un'analisi dettagliata della superficie o di ispezioni rapide dei campioni, questo strumento garantisce prestazioni ottimali e un'acquisizione dati affidabile.

Una delle caratteristiche principali di questo Microscopio a Forza Atomica è la sua capacità operativa multi-modalità. Supporta la Modalità Contatto, la Modalità Tap, la Modalità di Imaging di Fase, la Modalità Lift e la Modalità di Scansione Multi-Direzionale, offrendo una flessibilità senza pari nel modo in cui i campioni vengono esaminati. La Modalità Contatto è particolarmente preziosa per le misurazioni della topografia della superficie ad alta risoluzione ed è ampiamente utilizzata nella misurazione elettrica alla nanoscala. Questa modalità consente un'interazione precisa tra la punta della sonda e la superficie del campione, consentendo la rilevazione delle proprietà elettriche con una risoluzione spaziale alla nanoscala. La disponibilità di varie modalità assicura che l'AFM possa essere utilizzato efficacemente in diversi campi di ricerca, dalla scienza dei materiali alla biologia.

Il sistema è compatibile con campioni con un diametro fino a 25 mm, rendendolo adatto a un'ampia gamma di campioni, tra cui wafer, film sottili e campioni biologici. Questa compatibilità consente ai ricercatori di analizzare un'ampia varietà di materiali senza la necessità di un'ampia preparazione o modifica dei campioni, semplificando così i flussi di lavoro sperimentali.

La precisione è un aspetto critico di qualsiasi AFM, e questo modello eccelle in questo senso con eccellenti specifiche di non linearità. La non linearità nella direzione XY è limitata a solo lo 0,02%, mentre la non linearità nella direzione Z è mantenuta allo 0,08%. Questi valori indicano che lo strumento fornisce posizionamento e misurazioni dell'altezza altamente accurate, riducendo al minimo la distorsione e garantendo che i dati topografici prodotti siano affidabili e ripetibili. Tale accuratezza è essenziale per gli studi quantitativi alla nanoscala, dove anche lievi deviazioni possono avere un impatto significativo sull'interpretazione dei risultati.

La risoluzione e i dettagli dell'immagine sono ulteriormente migliorati dall'ampia gamma di punti di campionamento dell'immagine supportati dal microscopio. Gli utenti possono selezionare da un minimo di 32*32 punti fino a un impressionante 4096*4096 punti, consentendo immagini altamente dettagliate adatte a varie applicazioni. La possibilità di regolare la densità di campionamento consente all'AFM di bilanciare tra velocità di scansione e risoluzione dell'immagine, rendendolo adattabile sia a indagini rapide che a caratterizzazioni approfondite della superficie.

In sintesi, questo Microscopio a Forza Atomica combina un intervallo di velocità di scansione robusto, modalità operative versatili tra cui la Modalità Contatto, e un'eccezionale precisione con bassa non linearità, rendendolo uno strumento indispensabile per la misurazione elettrica alla nanoscala e l'analisi della superficie. La sua compatibilità con campioni di dimensioni ragionevoli e le ampie opzioni di campionamento delle immagini rafforzano ulteriormente la sua posizione di Microscopio a Forza a Scansione leader per i ricercatori che cercano approfondimenti dettagliati e accurati alla nanoscala. Che tu stia esplorando la morfologia della superficie, le proprietà elettriche o le caratteristiche meccaniche, questo AFM offre le prestazioni e la flessibilità necessarie per superare i limiti della ricerca in nanotecnologia.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica
• Metodo di scansione: Scansione completa a tre assi XYZ del campione
• Angolo di scansione: 0~360°
• Punti di campionamento dell'immagine: 32*32 - 4096*4096
• Dimensione del campione: Compatibile con campioni con un diametro di 25 mm
• Velocità di scansione: 0,1 Hz - 30 Hz
• Piattaforma di caratterizzazione alla nanoscala per un'analisi precisa della superficie
• Supporta più modalità per misurazioni versatili alla nanoscala
• Piattaforma di caratterizzazione avanzata alla nanoscala che consente imaging e misurazioni dettagliate

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento avanzato e versatile progettato per un'ampia gamma di applicazioni scientifiche e industriali. Le sue capacità di misurazione multifunzionali, tra cui la Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), la Microscopia a Capacità di Scansione (SCM) e la Microscopia a Forza Magnetica (MFM), lo rendono uno strumento essenziale per ricercatori e ingegneri che lavorano in nanotecnologia, scienza dei materiali e analisi della superficie.

Una delle principali occasioni di applicazione per l'AtomEdge Pro è nel campo dell'analisi della superficie, dove l'imaging a risoluzione atomica è fondamentale. La capacità del microscopio di scansionare ad angoli da 0 a 360 gradi combinata con un livello di rumore sull'asse Z eccezionalmente basso di 0,04 nm garantisce misurazioni altamente precise della topografia e delle proprietà dei materiali. Questa precisione è fondamentale per caratterizzare la morfologia della superficie, i difetti e le proprietà dei materiali alla nanoscala, il che è indispensabile per la produzione di semiconduttori, la ricerca sui film sottili e lo sviluppo di biomateriali.

La Microscopia a Forza Magnetica (MFM), una delle modalità multifunzionali disponibili sull'AtomEdge Pro, è ampiamente utilizzata nell'imaging dei domini magnetici e nella caratterizzazione dei materiali magnetici. Questa capacità supporta applicazioni nella ricerca sull'archiviazione dei dati, nella spintronica e nello sviluppo di sensori magnetici, dove la comprensione delle proprietà magnetiche alla nanoscala è essenziale. La bassa non linearità dello strumento sia in XY (0,02%) che in Z (0,08%) garantisce misurazioni accurate della forza e ripetibilità, che sono cruciali per dati affidabili di microscopia a forza magnetica.

L'intervallo di velocità di scansione dell'AtomEdge Pro da 0,1 Hz a 30 Hz consente agli utenti di bilanciare velocità e risoluzione in base alle proprie esigenze sperimentali, rendendolo adatto sia per le ispezioni di superficie di routine che per indagini scientifiche dettagliate. Inoltre, la modalità opzionale di Microscopia a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM) espande la sua utilità alle misurazioni delle proprietà elettriche, consentendo applicazioni nella nanoelettronica e nella ricerca sulla scienza dei materiali.

Nel complesso, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è ideale per laboratori e industrie che richiedono imaging ad alta risoluzione e capacità di analisi della superficie complete. La sua multifunzionalità, la tecnologia di scansione precisa e la robustezza lo rendono uno strumento potente per far progredire la ricerca e lo sviluppo di prodotti in vari campi scientifici.