Kontak/Tap Mode Untuk Sub-nanometer Bahan Analisis Nanoscale

Deskripsi produk:

Mikroskop Angkatan Atom (AFM) adalah mikroskop Angkatan Pemindaian canggih yang dirancang untuk memberikan kemampuan pencitraan dan pengukuran yang luar biasa pada skala nano.Dirancang untuk presisi dan fleksibilitas, model AFM ini mendukung berbagai kecepatan pemindaian dari 0,1 Hz hingga 30 Hz, memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan kecepatan pemindaian sesuai dengan kebutuhan aplikasi spesifik mereka.Apakah melakukan analisis permukaan rinci atau pemeriksaan sampel cepat, instrumen ini memastikan kinerja optimal dan pengumpulan data yang dapat diandalkan.

Salah satu fitur yang menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah kemampuan operasi multi-mode.dan Multi-Directional Scanning Mode, menawarkan fleksibilitas yang tak tertandingi dalam cara pemeriksaan sampel.Contact Mode sangat berharga untuk pengukuran topografi permukaan resolusi tinggi dan banyak digunakan dalam pengukuran listrik skala nanoMode ini memungkinkan interaksi yang tepat antara ujung probe dan permukaan sampel, memungkinkan deteksi sifat listrik dengan resolusi spasial nanoscale.Ketersediaan berbagai mode memastikan AFM dapat digunakan secara efektif di berbagai bidang penelitian, dari ilmu material ke biologi.

Sistem ini kompatibel dengan sampel dengan diameter hingga 25 mm, membuatnya cocok untuk spektrum sampel yang luas, termasuk wafer, film tipis, dan sampel biologis.Kompatibilitas ini memungkinkan para peneliti untuk menganalisis berbagai bahan tanpa perlu persiapan sampel yang luas atau modifikasi, sehingga merampingkan alur kerja eksperimen.

Keakuratan adalah aspek penting dari setiap AFM, dan model ini unggul dalam hal ini dengan spesifikasi nonlinearitas yang sangat baik.sementara nonlinearitas arah Z dipertahankan pada 0.08%. Nilai-nilai ini menunjukkan bahwa instrumen memberikan pengukuran posisi dan ketinggian yang sangat akurat,meminimalkan distorsi dan memastikan bahwa data topografi yang dihasilkan dapat diandalkan dan dapat diulangKeakuratan seperti itu sangat penting untuk studi nanoskala kuantitatif, di mana bahkan penyimpangan kecil dapat berdampak signifikan pada interpretasi hasil.

Resolusi gambar dan detailnya ditingkatkan lagi oleh berbagai titik pengambilan gambar yang didukung oleh mikroskop.Pengguna dapat memilih dari minimal 32*32 poin hingga 4096*4096 poin yang mengesankanKemampuan untuk menyesuaikan kepadatan pengambilan sampel memungkinkan AFM untuk menyeimbangkan antara kecepatan pemindaian dan resolusi gambar,membuatnya dapat disesuaikan dengan survei cepat dan karakteristik permukaan yang mendalam.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom ini menggabungkan rentang kecepatan pemindaian yang kuat, mode operasi serbaguna termasuk Mode Kontak, dan presisi yang luar biasa dengan nonlinearitas rendah,menjadikannya alat yang sangat diperlukan untuk pengukuran listrik skala nano dan analisis permukaan. Its compatibility with reasonably sized samples and extensive image sampling options further reinforce its position as a leading Scanning Force Microscope for researchers seeking detailed and accurate nanoscale insightsApakah Anda mengeksplorasi morfologi permukaan, sifat listrik, atau karakteristik mekanik,AFM ini memberikan kinerja dan fleksibilitas yang dibutuhkan untuk mendorong batas penelitian nanoteknologi.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Seluruh Tiga sumbu
• Sudut pemindaian: 0~360°
• Titik Sampling Gambar: 32*32 - 4096*4096
• Ukuran sampel: Kompatibel dengan sampel dengan diameter 25 mm
• Tingkat pemindaian: 0,1 Hz - 30 Hz
• Platform Karakterisasi Nanoscale untuk analisis permukaan yang tepat
• Mendukung Multiple Modes untuk pengukuran nanoscale serbaguna
• Advanced Nanoscale Characterization Platform yang memungkinkan pencitraan dan pengukuran rinci

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, yang berasal dari China, adalah alat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri.Kemampuan pengukuran multifungsi, termasuk Elektrostatik Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Scanning Capacitive Microscopy (SCM),dan Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM), membuatnya menjadi instrumen penting bagi peneliti dan insinyur yang bekerja di nanoteknologi, ilmu material, dan analisis permukaan.

Salah satu kesempatan aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah di bidang analisis permukaan, di mana pencitraan resolusi atom sangat penting.Kemampuan mikroskop untuk memindai pada sudut dari 0 sampai 360 derajat dikombinasikan dengan tingkat kebisingan sumbu Z yang sangat rendah 0.04 nm memastikan pengukuran sifat topografi dan material yang sangat tepat. Keakuratan ini sangat penting untuk mencirikan morfologi permukaan, cacat, dan sifat material pada skala nano,yang sangat diperlukan untuk pembuatan semikonduktor, penelitian film tipis, dan pengembangan biomaterial.

Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM), salah satu mode multifungsi yang tersedia di AtomEdge Pro, banyak digunakan dalam pencitraan domain magnetik dan karakterisasi bahan magnetik.Kemampuan ini mendukung aplikasi dalam penelitian penyimpanan data, spintronik, dan pengembangan sensor magnetik, di mana pemahaman tentang sifat magnetik pada skala nano sangat penting.08%) arah memastikan pengukuran kekuatan yang akurat dan repeatability, yang sangat penting untuk data mikroskop kekuatan magnet yang dapat diandalkan.

Kisaran kecepatan pemindaian AtomEdge Pro dari 0,1 Hz hingga 30 Hz memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan kecepatan dan resolusi sesuai dengan kebutuhan eksperimental mereka,membuatnya cocok untuk pemeriksaan permukaan rutin dan penyelidikan ilmiah rinciSelain itu, mode Opsional Konduktif Atomik Force Microscopy (C-AFM) memperluas utilitasnya untuk pengukuran properti listrik,memungkinkan aplikasi dalam penelitian nanoelektronika dan ilmu material.

Secara keseluruhan, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope sangat ideal untuk laboratorium dan industri yang membutuhkan pencitraan resolusi tinggi dan kemampuan analisis permukaan yang komprehensif.Multifungsi, teknologi pemindaian yang tepat, dan ketahanan membuatnya menjadi alat yang kuat untuk memajukan penelitian dan pengembangan produk di berbagai bidang ilmiah.