Sub-nanometre Malzemeler için Nanoscale Analizleri için Temas/Tap Modları

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanoskala düzeyinde olağanüstü görüntüleme ve ölçüm yetenekleri sağlamak üzere tasarlanmış gelişmiş bir Taramalı Kuvvet Mikroskobudur. Hassasiyet ve çok yönlülük için tasarlanan bu AFM modeli, 0,1 Hz'den 30 Hz'e kadar geniş bir tarama hızı aralığını destekleyerek, kullanıcıların tarama hızını özel uygulama ihtiyaçlarına göre ayarlamasına olanak tanır. İster ayrıntılı yüzey analizi isterse hızlı numune incelemeleri yapılsın, bu cihaz optimum performans ve güvenilir veri elde etmeyi sağlar.

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobunun öne çıkan özelliklerinden biri, çok modlu çalışma yeteneğidir. Temas Modu, Dokunma Modu, Faz Görüntüleme Modu, Kaldırma Modu ve Çok Yönlü Tarama Modu'nu destekleyerek, numunelerin nasıl incelendiği konusunda benzersiz bir esneklik sunar. Temas Modu, yüksek çözünürlüklü yüzey topografisi ölçümleri için özellikle değerlidir ve nanoskala elektriksel ölçümde yaygın olarak kullanılır. Bu mod, prob ucu ile numune yüzeyi arasında hassas etkileşim sağlar ve nanoskala uzamsal çözünürlükle elektriksel özelliklerin tespit edilmesini sağlar. Çeşitli modların mevcudiyeti, AFM'nin malzeme biliminden biyolojiye kadar çeşitli araştırma alanlarında etkili bir şekilde kullanılabileceğini garanti eder.

Sistem, 25 mm'ye kadar çapa sahip numunelerle uyumludur ve gofretler, ince filmler ve biyolojik numuneler dahil olmak üzere geniş bir örnek yelpazesi için uygundur. Bu uyumluluk, araştırmacıların kapsamlı numune hazırlığına veya modifikasyona gerek kalmadan çok çeşitli malzemeleri analiz etmelerine olanak tanır, böylece deneysel iş akışları kolaylaştırılır.

Hassasiyet, herhangi bir AFM'nin kritik bir yönüdür ve bu model, mükemmel doğrusal olmayanlık özellikleri ile bu konuda öne çıkar. XY yönündeki doğrusal olmayanlık sadece %0,02 ile sınırlıyken, Z yönündeki doğrusal olmayanlık %0,08'de tutulur. Bu değerler, cihazın yüksek hassasiyetli konumlandırma ve yükseklik ölçümleri sağladığını, bozulmayı en aza indirdiğini ve üretilen topografik verilerin hem güvenilir hem de tekrarlanabilir olmasını sağladığını gösterir. Bu tür bir doğruluk, küçük sapmaların bile sonuçların yorumlanmasını önemli ölçüde etkileyebileceği kantitatif nanoskala çalışmaları için esastır.

Görüntü çözünürlüğü ve ayrıntısı, mikroskop tarafından desteklenen geniş görüntü örnekleme noktaları aralığı ile daha da geliştirilir. Kullanıcılar, 32*32 noktalardan etkileyici 4096*4096 noktalara kadar seçim yapabilir ve çeşitli uygulamalar için uygun, son derece ayrıntılı görüntüleme sağlayabilir. Örnekleme yoğunluğunu ayarlama yeteneği, AFM'nin tarama hızı ve görüntü çözünürlüğü arasında denge kurmasını sağlayarak hem hızlı incelemelere hem de derinlemesine yüzey karakterizasyonuna uyum sağlamasını sağlar.

Özetle, bu Atomik Kuvvet Mikroskobu, sağlam bir tarama hızı aralığını, Temas Modu dahil olmak üzere çok yönlü çalışma modlarını ve düşük doğrusal olmayanlıkla olağanüstü hassasiyeti birleştirerek, nanoskala elektriksel ölçüm ve yüzey analizi için vazgeçilmez bir araç haline getirir. Makul büyüklükteki numunelerle uyumluluğu ve kapsamlı görüntü örnekleme seçenekleri, onu ayrıntılı ve doğru nanoskala içgörüler arayan araştırmacılar için önde gelen bir Taramalı Kuvvet Mikroskobu olarak konumunu daha da güçlendirir. İster yüzey morfolojisini, elektriksel özellikleri veya mekanik özellikleri araştırıyor olun, bu AFM, nanoteknoloji araştırmalarının sınırlarını zorlamak için gereken performansı ve esnekliği sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Tarama Yöntemi: XYZ Üç Eksenli Tam Numune Taraması
• Tarama Açısı: 0~360°
• Görüntü Örnekleme Noktaları: 32*32 - 4096*4096
• Numune Boyutu: 25 mm Çaplı Numunelerle Uyumlu
• Tarama Hızı: 0,1 Hz - 30 Hz
• Hassas yüzey analizi için Nanoskala Karakterizasyon Platformu
• Çok yönlü nanoskala ölçümleri için Çoklu Modları Destekler
• Ayrıntılı görüntüleme ve ölçüm sağlayan Gelişmiş Nanoskala Karakterizasyon Platformu

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Çin menşeli Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalar için tasarlanmış gelişmiş ve çok yönlü bir araçtır. Elektrostatik Kuvvet Mikroskobisi (EFM), Taramalı Kelvin Prob Kuvvet Mikroskobisi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobisi (PFM), Taramalı Kapasitif Mikroskopi (SCM) ve Manyetik Kuvvet Mikroskobisi (MFM) dahil olmak üzere çok işlevli ölçüm yetenekleri, onu nanoteknoloji, malzeme bilimi ve yüzey analizi alanlarında çalışan araştırmacılar ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç haline getirir.

AtomEdge Pro için temel uygulama alanlarından biri, atomik çözünürlüklü görüntülemenin kritik olduğu yüzey analizi alanıdır. Mikroskobun 0 ila 360 derece arasında açılarda tarama yapabilme yeteneği, olağanüstü düşük bir Z ekseni gürültü seviyesi olan 0,04 nm ile birleştiğinde, son derece hassas topografik ve malzeme özelliği ölçümleri sağlar. Bu hassasiyet, yarı iletken üretimi, ince film araştırmaları ve biyomalzeme geliştirme için vazgeçilmez olan nanoskala düzeyinde yüzey morfolojisini, kusurları ve malzeme özelliklerini karakterize etmek için hayati öneme sahiptir.

AtomEdge Pro'da bulunan çok işlevli modlardan biri olan Manyetik Kuvvet Mikroskobisi (MFM), manyetik alan görüntülemede ve manyetik malzeme karakterizasyonunda yaygın olarak kullanılır. Bu yetenek, nanoskala düzeyinde manyetik özellikleri anlamanın temel olduğu veri depolama araştırmaları, spintronik ve manyetik sensör geliştirme alanlarındaki uygulamaları destekler. Cihazın hem XY (%0,02) hem de Z (%0,08) yönlerindeki düşük doğrusal olmayanlığı, doğru kuvvet ölçümleri ve tekrarlanabilirlik sağlar, bu da güvenilir manyetik kuvvet mikroskobu verileri için çok önemlidir.

AtomEdge Pro'nun 0,1 Hz ila 30 Hz arasındaki tarama hızı aralığı, kullanıcıların deneysel ihtiyaçlarına göre hızı ve çözünürlüğü dengelemelerine olanak tanır ve hem rutin yüzey incelemeleri hem de ayrıntılı bilimsel araştırmalar için uygun hale getirir. Ek olarak, isteğe bağlı İletken Atomik Kuvvet Mikroskobisi (C-AFM) modu, nanoelektronik ve malzeme bilimi araştırmalarındaki uygulamaları sağlayan elektriksel özellik ölçümlerine kadar faydasını genişletir.

Genel olarak, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve kapsamlı yüzey analizi yetenekleri gerektiren laboratuvarlar ve endüstriler için idealdir. Çok işlevliliği, hassas tarama teknolojisi ve sağlamlığı, çeşitli bilimsel alanlarda araştırma ve ürün geliştirmeyi ilerletmek için güçlü bir araç haline getirir.