সাব-ন্যানোমিটার উপাদানগুলির ন্যানোস্কেল বিশ্লেষণের জন্য যোগাযোগ/ট্যাপ মোড

পণ্যের বর্ণনাঃ

অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম) একটি উন্নত স্ক্যানিং ফোর্স মাইক্রোস্কোপ যা ন্যানোস্কেল এ ব্যতিক্রমী ইমেজিং এবং পরিমাপ ক্ষমতা প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।যথার্থতা এবং বহুমুখিতা জন্য ডিজাইন, এই এএফএম মডেলটি 0.1 Hz থেকে 30 Hz পর্যন্ত স্ক্যানিং হারের বিস্তৃত পরিসীমা সমর্থন করে, ব্যবহারকারীদের তাদের নির্দিষ্ট অ্যাপ্লিকেশন প্রয়োজন অনুযায়ী স্ক্যানিং গতি কাস্টমাইজ করার অনুমতি দেয়।বিস্তারিত পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ বা দ্রুত নমুনা পরিদর্শন করা কিনা, এই যন্ত্রটি সর্বোত্তম পারফরম্যান্স এবং নির্ভরযোগ্য তথ্য সংগ্রহ নিশ্চিত করে।

এই পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপের অন্যতম বৈশিষ্ট্য হল এর মাল্টি-মোড অপারেটিং ক্ষমতা। এটি যোগাযোগ মোড, ট্যাপ মোড, ফেজ ইমেজিং মোড, লিফট মোড,এবং মাল্টি-ডাইরেকশনাল স্ক্যানিং মোড, যা নমুনা পরীক্ষা করার ক্ষেত্রে অতুলনীয় নমনীয়তা প্রদান করে।যোগাযোগ মোড উচ্চ রেজোলিউশনের পৃষ্ঠতল টপোগ্রাফি পরিমাপের জন্য বিশেষভাবে মূল্যবান এবং ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক পরিমাপে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়এই মোডটি প্রোব টিপ এবং নমুনা পৃষ্ঠের মধ্যে সুনির্দিষ্ট মিথস্ক্রিয়া সক্ষম করে, ন্যানোস্কেল স্থানিক রেজোলিউশনের সাথে বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য সনাক্ত করার অনুমতি দেয়।বিভিন্ন মোডের প্রাপ্যতা এএফএমকে বিভিন্ন গবেষণার ক্ষেত্রে কার্যকরভাবে ব্যবহার করা যায় তা নিশ্চিত করে, পদার্থবিজ্ঞান থেকে জীববিজ্ঞান পর্যন্ত।

এই সিস্টেমটি ২৫ মিমি পর্যন্ত ব্যাসার্ধের নমুনাগুলির সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, যা এটিকে ওয়েফার, পাতলা ফিল্ম এবং জৈবিক নমুনা সহ বিস্তৃত নমুনার জন্য উপযুক্ত করে তোলে।এই সামঞ্জস্যতা গবেষকদের ব্যাপক নমুনা প্রস্তুতি বা পরিবর্তন প্রয়োজন ছাড়া বিভিন্ন উপকরণ বিশ্লেষণ করতে পারবেন, যার ফলে পরীক্ষামূলক কর্মপ্রবাহকে সহজতর করা যায়।

নির্ভুলতা কোন এএফএম একটি সমালোচনামূলক দিক, এবং এই মডেল চমৎকার অ-রৈখিকতা স্পেসিফিকেশন সঙ্গে এই ক্ষেত্রে excels। XY দিক অ-রৈখিকতা মাত্র 0.02%,যখন Z দিকের অ-রৈখিকতা 0 এ বজায় থাকে.08%. এই মানগুলি ইঙ্গিত দেয় যে যন্ত্রটি অত্যন্ত নির্ভুল অবস্থান এবং উচ্চতা পরিমাপ প্রদান করে,বিকৃতি হ্রাস করা এবং নিশ্চিত করা যে উত্পাদিত টপোগ্রাফিক ডেটা উভয় নির্ভরযোগ্য এবং পুনরাবৃত্তিযোগ্যন্যানোস্কেল গবেষণায় এই ধরনের নির্ভুলতা অপরিহার্য, যেখানে সামান্য বিচ্যুতিও ফলাফলের ব্যাখ্যাকে উল্লেখযোগ্যভাবে প্রভাবিত করতে পারে।

মাইক্রোস্কোপ দ্বারা সমর্থিত চিত্রের নমুনা পয়েন্টগুলির বিস্তৃত পরিসীমা দ্বারা চিত্রের রেজোলিউশন এবং বিশদ আরও উন্নত করা হয়।ব্যবহারকারীরা ন্যূনতম ৩২*৩২ পয়েন্ট থেকে শুরু করে চিত্তাকর্ষক ৪০৯৬*৪০৯৬ পয়েন্ট পর্যন্ত নির্বাচন করতে পারবেন, বিভিন্ন অ্যাপ্লিকেশনের জন্য উপযুক্ত অত্যন্ত বিস্তারিত ইমেজিং সক্ষম করে। স্যাম্পলিং ঘনত্ব সামঞ্জস্য করার ক্ষমতা AFM স্ক্যান গতি এবং চিত্র রেজোলিউশন মধ্যে ভারসাম্য করতে পারবেন,এটিকে দ্রুত জরিপ এবং গভীর পৃষ্ঠের চরিত্রায়নের জন্য উভয়ই অভিযোজিত করে তোলে.

সংক্ষেপে, এই পারমাণবিক শক্তির মাইক্রোস্কোপ একটি শক্তিশালী স্ক্যানিং রেট পরিসীমা, যোগাযোগ মোড সহ বহুমুখী অপারেটিং মোড এবং নিম্ন অ-রৈখিকতার সাথে ব্যতিক্রমী নির্ভুলতা একত্রিত করে,এটিকে ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিক পরিমাপ এবং পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে. Its compatibility with reasonably sized samples and extensive image sampling options further reinforce its position as a leading Scanning Force Microscope for researchers seeking detailed and accurate nanoscale insightsআপনি পৃষ্ঠের আকৃতি, বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য, বা যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য অন্বেষণ কিনা,এই এএফএম ন্যানোটেকনোলজি গবেষণার সীমানা অতিক্রম করার জন্য প্রয়োজনীয় কর্মক্ষমতা এবং নমনীয়তা প্রদান করে.

বৈশিষ্ট্যঃ

• পণ্যের নামঃ পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ
• স্ক্যানিং পদ্ধতিঃ এক্সওয়াইজেড থ্রি-অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং
• স্ক্যানিং কোণঃ 0 ~ 360°
• চিত্র নমুনা পয়েন্টঃ 32*32 - 4096*4096
• নমুনার আকারঃ 25 মিমি ব্যাসের নমুনার সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ
• স্ক্যানিং রেটঃ 0.1 Hz - 30 Hz
• সুনির্দিষ্ট পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের জন্য ন্যানোস্কেল চরিত্রায়ন প্ল্যাটফর্ম
• বহুমুখী ন্যানোস্কেল পরিমাপের জন্য একাধিক মোড সমর্থন করে
• উন্নত ন্যানোস্কেল চরিত্রায়ন প্ল্যাটফর্ম যা বিস্তারিত ইমেজিং এবং পরিমাপ সক্ষম করে

টেকনিক্যাল প্যারামিটারঃ

অ্যাপ্লিকেশনঃ

সত্য যন্ত্রপাতি অ্যাটম এজ প্রো পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ, চীন থেকে উদ্ভূত, একটি উন্নত এবং বহুমুখী সরঞ্জাম বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশন বিস্তৃত জন্য ডিজাইন করা হয়।এর বহুমুখী পরিমাপ ক্ষমতাইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পিজো ইলেক্ট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (পিএফএম), স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ মাইক্রোস্কোপ (এসসিএম),এবং ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম), এটি ন্যানোটেকনোলজি, উপাদান বিজ্ঞান এবং পৃষ্ঠ বিশ্লেষণে কাজ করা গবেষক এবং প্রকৌশলীদের জন্য একটি অপরিহার্য হাতিয়ার।

AtomEdge Pro এর অন্যতম প্রধান অ্যাপ্লিকেশন ক্ষেত্র হল পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ, যেখানে পারমাণবিক রেজোলিউশনের ইমেজিং অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।0 থেকে 360 ডিগ্রি পর্যন্ত কোণে স্ক্যান করার ক্ষমতার সাথে Z-অক্ষের অসাধারণভাবে কম শব্দ স্তর 0.04 nm অত্যন্ত সুনির্দিষ্ট টপোগ্রাফিক এবং উপাদান বৈশিষ্ট্য পরিমাপ নিশ্চিত করে। এই নির্ভুলতা ন্যানোস্কেল পৃষ্ঠের মর্ফোলজি, ত্রুটি এবং উপাদান বৈশিষ্ট্য বৈশিষ্ট্য জন্য অত্যাবশ্যক,যা অর্ধপরিবাহী উৎপাদনের জন্য অপরিহার্য, পাতলা ফিল্ম গবেষণা, এবং বায়োমেটরিয়াল উন্নয়ন।

অ্যাটম এজ প্রোতে উপলব্ধ মাল্টিফাংশনাল মোডগুলির মধ্যে একটি ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (এমএফএম) চৌম্বকীয় ডোমেন ইমেজিং এবং চৌম্বকীয় উপাদান চরিত্রায়নে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়।এই ক্ষমতা তথ্য সঞ্চয় গবেষণা অ্যাপ্লিকেশন সমর্থন করেন্যানোস্কেলে চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্যগুলি বোঝার জন্য, স্পিনট্রনিক্স এবং চৌম্বকীয় সেন্সর বিকাশ অপরিহার্য।08%) দিকনির্দেশগুলি সঠিক শক্তি পরিমাপ এবং পুনরাবৃত্তি নিশ্চিত করে, যা নির্ভরযোগ্য চৌম্বকীয় শক্তি মাইক্রোস্কোপির তথ্যের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।

AtomEdge Pro এর স্ক্যানিং রেট রেঞ্জ 0.1 Hz থেকে 30 Hz পর্যন্ত ব্যবহারকারীদের তাদের পরীক্ষামূলক চাহিদা অনুযায়ী গতি এবং রেজোলিউশন ভারসাম্য করতে দেয়,এটিকে রুটিন পৃষ্ঠ পরিদর্শন এবং বিস্তারিত বৈজ্ঞানিক তদন্ত উভয়ের জন্য উপযুক্ত করে তোলেঅতিরিক্তভাবে, ঐচ্ছিক কন্ডাক্টিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (সি-এএফএম) মোডটি বৈদ্যুতিক সম্পত্তি পরিমাপের জন্য এর উপযোগিতা প্রসারিত করে,ন্যানো ইলেকট্রনিক্স এবং উপাদান বিজ্ঞান গবেষণায় অ্যাপ্লিকেশন সক্ষম.

সামগ্রিকভাবে, ট্রুথ ইনস্ট্রুমেন্টস অ্যাটম এজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ উচ্চ-রেজোলিউশনের ইমেজিং এবং ব্যাপক পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের ক্ষমতা প্রয়োজন এমন পরীক্ষাগার এবং শিল্পের জন্য আদর্শ।এর বহুমুখিতা, সুনির্দিষ্ট স্ক্যানিং প্রযুক্তি এবং স্থিতিশীলতা এটিকে বিভিন্ন বৈজ্ঞানিক ক্ষেত্রে গবেষণা এবং পণ্য বিকাশের অগ্রগতির জন্য একটি শক্তিশালী হাতিয়ার করে তোলে।