Contact-/tapmodus voor nanoschaalanalyse van subnanometermaterialen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerde Scanning Force Microscope die is ontworpen om uitzonderlijke beeldvorming en meetmogelijkheden op de nanoschaal te bieden. Dit AFM-model is ontworpen voor precisie en veelzijdigheid en ondersteunt een breed scala aan scansnelheden van 0,1 Hz tot 30 Hz, waardoor gebruikers de scansnelheid kunnen aanpassen aan hun specifieke toepassingsbehoeften. Of het nu gaat om gedetailleerde oppervlakteanalyse of snelle steekproefinspecties, dit instrument zorgt voor optimale prestaties en betrouwbare data-acquisitie.

Een van de opvallende kenmerken van deze Atomic Force Microscope is de multi-mode bedieningsmogelijkheid. Het ondersteunt Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-Directional Scanning Mode, wat ongeëvenaarde flexibiliteit biedt in de manier waarop monsters worden onderzocht. Contact Mode is met name waardevol voor oppervlakte topografiemetingen met hoge resolutie en wordt veel gebruikt in elektrische metingen op nanoschaal. Deze modus maakt een precieze interactie mogelijk tussen de sondepunt en het monsteroppervlak, waardoor de detectie van elektrische eigenschappen met ruimtelijke resolutie op nanoschaal mogelijk is. De beschikbaarheid van verschillende modi zorgt ervoor dat de AFM effectief kan worden gebruikt in diverse onderzoeksgebieden, van materiaalkunde tot biologie.

Het systeem is compatibel met monsters met een diameter tot 25 mm, waardoor het geschikt is voor een breed scala aan specimens, waaronder wafers, dunne films en biologische monsters. Deze compatibiliteit stelt onderzoekers in staat om een grote verscheidenheid aan materialen te analyseren zonder uitgebreide monstervoorbereiding of -modificatie, waardoor experimentele workflows worden gestroomlijnd.

Precisie is een cruciaal aspect van elke AFM, en dit model blinkt hierin uit met uitstekende specificaties voor niet-lineariteit. De niet-lineariteit in de XY-richting is beperkt tot slechts 0,02%, terwijl de niet-lineariteit in de Z-richting wordt gehandhaafd op 0,08%. Deze waarden geven aan dat het instrument zeer nauwkeurige positionering en hoogtemetingen biedt, waardoor vervorming wordt geminimaliseerd en ervoor wordt gezorgd dat de geproduceerde topografische gegevens zowel betrouwbaar als herhaalbaar zijn. Een dergelijke nauwkeurigheid is essentieel voor kwantitatieve studies op nanoschaal, waarbij zelfs kleine afwijkingen de interpretatie van de resultaten aanzienlijk kunnen beïnvloeden.

De beeldresolutie en details worden verder verbeterd door het brede scala aan beeldbemonsteringspunten dat door de microscoop wordt ondersteund. Gebruikers kunnen kiezen uit minimaal 32*32 punten tot een indrukwekkende 4096*4096 punten, waardoor zeer gedetailleerde beeldvorming mogelijk is die geschikt is voor verschillende toepassingen. De mogelijkheid om de bemonsteringsdichtheid aan te passen, stelt de AFM in staat om een evenwicht te vinden tussen scansnelheid en beeldresolutie, waardoor deze zich kan aanpassen aan zowel snelle onderzoeken als diepgaande oppervlaktekarakterisering.

Samenvattend combineert deze Atomic Force Microscope een robuust scansnelheidsbereik, veelzijdige bedrijfsmodi, waaronder Contact Mode, en uitzonderlijke precisie met lage niet-lineariteit, waardoor het een onmisbaar hulpmiddel is voor elektrische metingen op nanoschaal en oppervlakteanalyse. De compatibiliteit met redelijk grote monsters en uitgebreide beeldbemonsteringsopties versterken verder zijn positie als een toonaangevende Scanning Force Microscope voor onderzoekers die op zoek zijn naar gedetailleerde en nauwkeurige inzichten op nanoschaal. Of u nu de oppervlaktemorfologie, elektrische eigenschappen of mechanische kenmerken onderzoekt, deze AFM levert de prestaties en flexibiliteit die nodig zijn om de grenzen van nanotechnologieonderzoek te verleggen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Scannermethode: XYZ Drie-Assen Volledige-Monster Scanning
• Scanhoek: 0~360°
• Beeld Bemonsteringspunten: 32*32 - 4096*4096
• Monstergrootte: Compatibel met monsters met een diameter van 25 mm
• Scansnelheid: 0,1 Hz - 30 Hz
• Nanoscale karakteriseringsplatform voor precieze oppervlakteanalyse
• Ondersteunt meerdere modi voor veelzijdige metingen op nanoschaal
• Geavanceerd Nanoscale karakteriseringsplatform dat gedetailleerde beeldvorming en meting mogelijk maakt

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, afkomstig uit China, is een geavanceerd en veelzijdig hulpmiddel dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen. De multifunctionele meetmogelijkheden, waaronder Elektrostatische Krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piëzo-elektrische Krachtmicroscopie (PFM), Scanning Capacitieve Microscopie (SCM) en Magnetische Krachtmicroscopie (MFM), maken het een essentieel instrument voor onderzoekers en ingenieurs die werken in nanotechnologie, materiaalkunde en oppervlakteanalyse.

Een van de belangrijkste toepassingsmogelijkheden voor de AtomEdge Pro is op het gebied van oppervlakteanalyse, waar beeldvorming met atomaire resolutie cruciaal is. De mogelijkheid van de microscoop om te scannen in hoeken van 0 tot 360 graden in combinatie met een uitzonderlijk laag Z-as ruisniveau van 0,04 nm zorgt voor zeer precieze metingen van topografie en materiaaleigenschappen. Deze precisie is essentieel voor het karakteriseren van oppervlaktemorfologie, defecten en materiaaleigenschappen op de nanoschaal, wat onmisbaar is voor de productie van halfgeleiders, onderzoek naar dunne films en de ontwikkeling van biomaterialen.

Magnetische Krachtmicroscopie (MFM), een van de multifunctionele modi die beschikbaar zijn op de AtomEdge Pro, wordt veel gebruikt bij beeldvorming van magnetische domeinen en karakterisering van magnetisch materiaal. Deze mogelijkheid ondersteunt toepassingen in dataopslagonderzoek, spintronica en de ontwikkeling van magnetische sensoren, waarbij het begrijpen van magnetische eigenschappen op de nanoschaal essentieel is. De lage niet-lineariteit van het instrument in zowel XY (0,02%) als Z (0,08%) richtingen zorgt voor nauwkeurige krachtmetingen en herhaalbaarheid, wat cruciaal is voor betrouwbare gegevens van magnetische krachtmicroscopie.

Het scansnelheidsbereik van de AtomEdge Pro van 0,1 Hz tot 30 Hz stelt gebruikers in staat om snelheid en resolutie in evenwicht te brengen op basis van hun experimentele behoeften, waardoor het geschikt is voor zowel routinematige oppervlakte-inspecties als gedetailleerd wetenschappelijk onderzoek. Bovendien breidt de optionele Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM) modus het nut ervan uit tot metingen van elektrische eigenschappen, waardoor toepassingen in nano-elektronica en materiaalkundeonderzoek mogelijk worden.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope ideaal voor laboratoria en industrieën die beeldvorming met hoge resolutie en uitgebreide mogelijkheden voor oppervlakteanalyse vereisen. De multifunctionaliteit, precieze scantechnologie en robuustheid maken het tot een krachtig hulpmiddel voor het bevorderen van onderzoek en productontwikkeling op verschillende wetenschappelijke gebieden.