Τρόποι επαφής/επικοινωνίας για την ανάλυση σε νανοκλίμακα υλικών κάτω των νανομέτρων

Περιγραφή του προϊόντος:

Το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) είναι ένα προηγμένο μικροσκόπιο δύναμης σάρωσης που έχει σχεδιαστεί για να παρέχει εξαιρετικές δυνατότητες απεικόνισης και μέτρησης σε νανοκλίμακα.Σχεδιασμένο για ακρίβεια και ευελιξία, αυτό το μοντέλο AFM υποστηρίζει ένα ευρύ φάσμα ταχυτήτων σάρωσης από 0,1 Hz έως 30 Hz, επιτρέποντας στους χρήστες να προσαρμόζουν την ταχύτητα σάρωσης σύμφωνα με τις ειδικές ανάγκες της εφαρμογής τους.Είτε διενεργεί λεπτομερή ανάλυση επιφάνειας είτε ταχείες επιθεωρήσεις δειγμάτων, το εργαλείο αυτό εξασφαλίζει βέλτιστες επιδόσεις και αξιόπιστη συλλογή δεδομένων.

Ένα από τα χαρακτηριστικά αυτού του μικροσκοπίου είναι η δυνατότητα λειτουργίας σε πολλαπλές λειτουργίες.και Πολυδιάστατη λειτουργία σάρωσης, προσφέρει απαράμιλλη ευελιξία στον τρόπο εξέτασης των δειγμάτων.Η λειτουργία επαφής είναι ιδιαίτερα πολύτιμη για μετρήσεις τοπογραφίας επιφάνειας υψηλής ανάλυσης και χρησιμοποιείται ευρέως σε ηλεκτρικές μετρήσεις νανοκλίμακαςΗ λειτουργία αυτή επιτρέπει την ακριβή αλληλεπίδραση μεταξύ της άκρης του ανιχνευτή και της επιφάνειας του δείγματος, επιτρέποντας την ανίχνευση ηλεκτρικών ιδιοτήτων με χωρική ανάλυση νανοκλίμακας.Η διαθεσιμότητα διαφόρων τρόπων διασφαλίζει την αποτελεσματική χρήση του AFM σε διάφορους τομείς έρευνας, από την επιστήμη των υλικών στη βιολογία.

Το σύστημα είναι συμβατό με δείγματα με διάμετρο έως 25 mm, καθιστώντας το κατάλληλο για ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων, συμπεριλαμβανομένων των πλακών, των λεπτών ταινιών και των βιολογικών δειγμάτων.Αυτή η συμβατότητα επιτρέπει στους ερευνητές να αναλύουν μια μεγάλη ποικιλία υλικών χωρίς την ανάγκη εκτεταμένης προετοιμασίας ή τροποποίησης δείγματος, εξορθολογίζοντας έτσι τις εργασιακές ροές των πειραμάτων.

Η ακρίβεια είναι μια κρίσιμη πτυχή κάθε AFM, και αυτό το μοντέλο ξεχωρίζει σε αυτό το θέμα με εξαιρετικές προδιαγραφές μη γραμμικότητας.ενώ η μη γραμμικότητα της κατεύθυνσης Z διατηρείται στο 0Οι τιμές αυτές δείχνουν ότι το όργανο παρέχει πολύ ακριβείς μετρήσεις θέσης και ύψους.ελαχιστοποίηση των στρεβλώσεων και διασφάλιση της αξιοπιστίας και της επαναληπτικότητας των παραγόμενων τοπογραφικών δεδομένωνΗ ακρίβεια αυτή είναι ουσιώδης για ποσοτικές μελέτες σε νανοκλίμακα, όπου ακόμη και ελάχιστες αποκλίσεις μπορούν να επηρεάσουν σημαντικά την ερμηνεία των αποτελεσμάτων.

Η ανάλυση και η λεπτομέρεια της εικόνας ενισχύονται περαιτέρω από το ευρύ φάσμα σημείων δειγματοληψίας εικόνας που υποστηρίζονται από το μικροσκόπιο.Οι χρήστες μπορούν να επιλέξουν από ένα ελάχιστο 32*32 σημεία έως ένα εντυπωσιακό 4096*4096 σημείαΗ δυνατότητα ρύθμισης της πυκνότητας δειγματοληψίας επιτρέπει στο AFM να εξισορροπεί την ταχύτητα σάρωσης και την ανάλυση της εικόνας,καθιστώντας το προσαρμόσιμο τόσο σε γρήγορες έρευνες όσο και σε σε βάθος χαρακτηρισμούς επιφάνειας.

Συνοπτικά, αυτό το μικροσκόπιο ατομικής δύναμης συνδυάζει ένα ισχυρό εύρος ταχύτητας σάρωσης, ευπροσάρμοστες λειτουργίες συμπεριλαμβανομένης της λειτουργίας επαφής και εξαιρετική ακρίβεια με χαμηλή μη γραμμικότητα.καθιστώντας το απαραίτητο εργαλείο για τη νανοκλίμακα ηλεκτρικής μέτρησης και ανάλυσης επιφάνειας. Its compatibility with reasonably sized samples and extensive image sampling options further reinforce its position as a leading Scanning Force Microscope for researchers seeking detailed and accurate nanoscale insightsΕίτε ερευνείτε τη μορφολογία της επιφάνειας, τις ηλεκτρικές ιδιότητες, ή τα μηχανικά χαρακτηριστικά,Αυτό το AFM παρέχει την απόδοση και την ευελιξία που απαιτούνται για την επέκταση των ορίων της έρευνας στη νανοτεχνολογία.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης
• Μέθοδος σάρωσης: σάρωση πλήρους δείγματος σε τρεις άξονες XYZ
• Γωνία σάρωσης: 0-360°
• Σημεία δειγματοληψίας εικόνας: 32*32 - 4096*4096
• Μέγεθος δείγματος: συμβατό με δείγματα με διάμετρο 25 mm
• Ταχύτητα σάρωσης: 0,1 Hz - 30 Hz
• Πλατφόρμα χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα για ακριβή ανάλυση επιφάνειας
• Υποστηρίζει πολλαπλές λειτουργίες για ευέλικτες μετρήσεις σε νανοκλίμακα
• Προηγμένη πλατφόρμα χαρακτηρισμού σε νανοκλίμακα που επιτρέπει λεπτομερή απεικόνιση και μέτρηση

Τεχνικές παραμέτρους:

Εφαρμογές:

Το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα προηγμένο και ευέλικτο εργαλείο που έχει σχεδιαστεί για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών και βιομηχανικών εφαρμογών.Πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης, συμπεριλαμβανομένης της ηλεκτροστατικής μικροσκόπησης δύναμης (EFM), της μικροσκόπησης δύναμης ανίχνευσης Kelvin (KPFM), της μικροσκόπησης πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM), της μικροσκόπησης χωρητικότητας σάρωσης (SCM),και Μαγνητική μικροσκόπηση (MFM), το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς που εργάζονται στη νανοτεχνολογία, την επιστήμη των υλικών και την ανάλυση επιφανειών.

Μια από τις βασικές περιπτώσεις εφαρμογής για το AtomEdge Pro είναι στον τομέα της ανάλυσης επιφάνειας, όπου η απεικόνιση ατομικής ανάλυσης είναι κρίσιμη.Η ικανότητα του μικροσκόπου να σαρώνει σε γωνίες από 0 έως 360 μοίρες σε συνδυασμό με ένα εξαιρετικά χαμηλό επίπεδο θορύβου στον άξονα ZΗ μέτρηση των επιφανειακών χαρακτηριστικών, των ελαττωμάτων και των ιδιοτήτων των υλικών σε νανοκλίμακαπου είναι απαραίτητο για την κατασκευή ημιαγωγών, έρευνας λεπτών ταινιών και ανάπτυξη βιοϋλικών.

Η μικροσκόπηση μαγνητικής δύναμης (MFM), μία από τις πολυλειτουργικές λειτουργίες που είναι διαθέσιμες στο AtomEdge Pro, χρησιμοποιείται ευρέως στην απεικόνιση μαγνητικού τομέα και τον χαρακτηρισμό μαγνητικού υλικού.Αυτή η δυνατότητα υποστηρίζει εφαρμογές στην έρευνα αποθήκευσης δεδομένωνΤο όργανο έχει χαμηλή μη γραμμικότητα τόσο στο XY (0,02%) όσο και στο Z (0,02%).08.0%) οδηγίες εξασφαλίζει ακριβείς μετρήσεις δύναμης και επαναληψιμότητα, τα οποία είναι κρίσιμα για αξιόπιστα δεδομένα μικροσκοπίας μαγνητικών δυνάμεων.

Το εύρος ρυθμού σάρωσης του AtomEdge Pro από 0,1 Hz έως 30 Hz επιτρέπει στους χρήστες να εξισορροπούν την ταχύτητα και την ανάλυση σύμφωνα με τις πειραματικές τους ανάγκες,καθιστώντας το κατάλληλο τόσο για τακτικές επιφανειακές επιθεωρήσεις όσο και για λεπτομερείς επιστημονικές έρευνεςΕπιπλέον, η προαιρετική λειτουργία μικροσκόπησης ατομικής δύναμης (C-AFM) επεκτείνει τη χρησιμότητά της στις μετρήσεις ηλεκτρικών ιδιοτήτων,που επιτρέπουν εφαρμογές στην έρευνα για τη νανοηλεκτρονική και την επιστήμη των υλικών.

Συνολικά, το Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope είναι ιδανικό για εργαστήρια και βιομηχανίες που απαιτούν απεικόνιση υψηλής ανάλυσης και ολοκληρωμένες δυνατότητες ανάλυσης επιφάνειας.Πολυλειτουργικότητα, η ακριβής τεχνολογία σάρωσης και η ανθεκτικότητά του το καθιστούν ένα ισχυρό εργαλείο για την προώθηση της έρευνας και της ανάπτυξης προϊόντων σε διάφορους επιστημονικούς τομείς.