Modes de contact/tapotement pour l'analyse des matériaux subnanométriques à l'échelle nanométrique

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fréquences de balayage allant de 0,1 Hz à 30 Hz, permettant aux utilisateurs d'adapter la vitesse de balayage en fonction de leurs besoins spécifiques d'application.Qu'il s'agisse d'effectuer des analyses de surface détaillées ou des inspections rapides des échantillons, cet instrument assure des performances optimales et une acquisition fiable des données.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de ce microscope de force atomique est sa capacité de fonctionnement multi-mode.et Mode de numérisation multidirectionnelle, offrant une flexibilité inégalée dans l'examen des échantillons.Le mode contact est particulièrement utile pour les mesures de topographie de surface haute résolution et est largement utilisé dans la mesure électrique à l'échelle nanométriqueCe mode permet une interaction précise entre l'extrémité de la sonde et la surface de l'échantillon, permettant la détection de propriétés électriques avec une résolution spatiale à l'échelle nanométrique.La disponibilité de différents modes garantit que l'AFM peut être utilisé efficacement dans divers domaines de recherche, de la science des matériaux à la biologie.

Le système est compatible avec des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 25 mm, ce qui le rend adapté à un large éventail d'échantillons, y compris des plaquettes, des films minces et des échantillons biologiques.Cette compatibilité permet aux chercheurs d'analyser une grande variété de matériaux sans avoir besoin d'une préparation ou d'une modification de l'échantillon., simplifiant ainsi les processus expérimentaux.

La précision est un aspect essentiel de tout AFM, et ce modèle excelle à cet égard avec d'excellentes spécifications de non-linéarité.tandis que la non-linéarité de la direction Z est maintenue à 0Ces valeurs indiquent que l'instrument fournit des mesures de positionnement et de hauteur très précises,minimiser les distorsions et veiller à ce que les données topographiques produites soient fiables et reproductibles;Une telle précision est essentielle pour les études quantitatives à l'échelle nanométrique, où même de légers écarts peuvent avoir une incidence significative sur l'interprétation des résultats.

La résolution et les détails de l'image sont encore améliorés par la large gamme de points d'échantillonnage d'image pris en charge par le microscope.Les utilisateurs peuvent choisir entre un minimum de 32*32 points jusqu'à un impressionnant 4096*4096 pointsLa capacité de régler la densité d'échantillonnage permet à l'AFM d'équilibrer la vitesse de balayage et la résolution de l'image,Il est adapté à la fois aux relevés rapides et à la caractérisation en profondeur de la surface..

En résumé, ce microscope de force atomique combine une gamme de vitesse de balayage robuste, des modes d'exploitation polyvalents, y compris le mode contact, et une précision exceptionnelle avec une faible non-linéarité,ce qui en fait un outil indispensable pour la mesure électrique à l'échelle nanométrique et l'analyse de surface. Its compatibility with reasonably sized samples and extensive image sampling options further reinforce its position as a leading Scanning Force Microscope for researchers seeking detailed and accurate nanoscale insightsQue vous exploriez la morphologie de surface, les propriétés électriques ou les caractéristiques mécaniques,Cette AFM offre les performances et la flexibilité nécessaires pour repousser les limites de la recherche en nanotechnologie.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Méthode de numérisation: numérisation complète à trois axes XYZ
• Angle de balayage: 0 à 360°
• Points d'échantillonnage d'image: 32*32 - 4096*4096
• Taille de l'échantillon: compatible avec les échantillons d'un diamètre de 25 mm
• Taux de balayage: 0,1 Hz à 30 Hz
• Plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique pour une analyse de surface précise
• Prend en charge les modes multiples pour les mesures polyvalentes à l'échelle nanométrique
• Plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique avancée permettant des images et des mesures détaillées

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique Truth Instruments AtomEdge Pro, originaire de Chine, est un outil avancé et polyvalent conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles.Ses capacités de mesure multifonctionnelles, y compris la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par force de sonde à balayage Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM), la microscopie par balayage capacitif (SCM),et la microscopie par force magnétique (MFM), en faire un instrument essentiel pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant dans les domaines des nanotechnologies, des sciences des matériaux et de l'analyse de surface.

L'une des principales occasions d'application de l'AtomEdge Pro est dans le domaine de l'analyse de surface, où l'imagerie à résolution atomique est essentielle.La capacité du microscope à scanner sous des angles de 0 à 360 degrés, combinée à un niveau de bruit exceptionnellement bas de 0Cette précision est essentielle pour caractériser la morphologie de surface, les défauts et les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique,qui est indispensable pour la fabrication de semi-conducteurs, la recherche sur les films minces et le développement de biomatériaux.

La microscopie par force magnétique (MFM), l'un des modes multifonctionnels disponibles sur l'AtomEdge Pro, est largement utilisé dans l'imagerie du domaine magnétique et la caractérisation des matériaux magnétiques.Cette capacité prend en charge les applications dans la recherche sur le stockage de donnéesL'instrument présente une faible non-linéarité à la fois en XY (0,02%) et en Z (0,02%)08%) les directions assurent des mesures précises de la force et la répétabilité, qui sont cruciales pour des données fiables de microscopie par force magnétique.

La plage de fréquences de balayage d'AtomEdge Pro ¢ de 0,1 Hz à 30 Hz permet aux utilisateurs d'équilibrer la vitesse et la résolution en fonction de leurs besoins expérimentaux,le rendant adapté à la fois aux inspections de surface de routine et aux enquêtes scientifiques approfondiesEn outre, le mode de microscopie de la force atomique conductrice (C-AFM) en option étend son utilité aux mesures de propriétés électriques,permettant des applications dans la recherche en nanoélectronique et en sciences des matériaux.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est idéal pour les laboratoires et les industries nécessitant une imagerie haute résolution et des capacités d'analyse de surface complètes.Sa polyvalence, la technologie de numérisation précise et la robustesse en font un outil puissant pour faire progresser la recherche et le développement de produits dans divers domaines scientifiques.