Modos de Contato/Toque para Análise em Escala Sub-nanométrica de Materiais

Descrição do produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um microscópio de Força de Análise avançado projetado para fornecer capacidades excepcionais de imagem e medição em nanoescala.Projetado para precisão e versatilidade, este modelo AFM suporta uma ampla gama de taxas de digitalização de 0,1 Hz a 30 Hz, permitindo aos utilizadores adaptar a velocidade de digitalização de acordo com as suas necessidades específicas de aplicação.Se realizar análises de superfície pormenorizadas ou inspecções rápidas de amostras, este instrumento garante um desempenho óptimo e uma aquisição de dados fiável.

Uma das características destacadas deste microscópio de força atômica é a sua capacidade de operação em vários modos.e Modo de varredura multidirecional, oferecendo uma flexibilidade incomparável na forma como as amostras são examinadas.O modo de contato é particularmente valioso para medições topográficas de superfície de alta resolução e é amplamente utilizado em medições elétricas em nanoescalaEste modo permite uma interacção precisa entre a ponta da sonda e a superfície da amostra, permitindo a detecção de propriedades elétricas com resolução espacial em nanoescala.A disponibilidade de vários modos garante que o AFM possa ser eficazmente utilizado em diversos campos de investigação., da ciência dos materiais à biologia.

O sistema é compatível com amostras com um diâmetro de até 25 mm, tornando-o adequado para um amplo espectro de amostras, incluindo wafers, filmes finos e amostras biológicas.Esta compatibilidade permite aos investigadores analisar uma grande variedade de materiais sem a necessidade de preparação extensiva de amostras ou modificação, simplificando assim os fluxos de trabalho experimentais.

A precisão é um aspecto crítico de qualquer AFM, e este modelo se destaca a este respeito com excelentes especificações de não-linearidade.enquanto a não-linearidade da direção Z é mantida em 00,08%. Estes valores indicam que o instrumento permite medidas de posicionamento e de altura de elevada precisão,Minimizar as distorções e garantir que os dados topográficos produzidos sejam fiáveis e repetíveisEsta precisão é essencial para estudos quantitativos em nanoescala, onde mesmo ligeiros desvios podem ter um impacto significativo na interpretação dos resultados.

A resolução e os detalhes da imagem são ainda melhorados pela ampla gama de pontos de amostragem de imagem suportados pelo microscópio.Os utilizadores podem escolher entre um mínimo de 32*32 pontos até um impressionante 4096*4096 pontosA capacidade de ajustar a densidade de amostragem permite ao AFM equilibrar a velocidade de digitalização e a resolução da imagem,tornando-o adaptável tanto para levantamentos rápidos como para caracterização profunda da superfície.

Em resumo, este Microscópio de Força Atómica combina uma gama robusta de velocidades de varredura, modos de operação versáteis, incluindo o Modo de Contato, e uma precisão excepcional com baixa não-linearidade,tornando-se uma ferramenta indispensável para medição elétrica em nanoescala e análise de superfície. Its compatibility with reasonably sized samples and extensive image sampling options further reinforce its position as a leading Scanning Force Microscope for researchers seeking detailed and accurate nanoscale insightsSe você está explorando a morfologia da superfície, propriedades elétricas, ou características mecânicas,Este AFM oferece o desempenho e a flexibilidade necessários para ampliar os limites da pesquisa em nanotecnologia.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica
• Método de varredura: varredura de amostra completa em três eixos XYZ
• Ângulo de digitalização: 0~360°
• Pontos de amostragem de imagem: 32*32 - 4096*4096
• Tamanho da amostra: Compatível com amostras com um diâmetro de 25 mm
• Taxa de digitalização: 0,1 Hz - 30 Hz
• Plataforma de caracterização em nanoescala para análise de superfície precisa
• Suporta modos múltiplos para medições na nanoescala versáteis
• Plataforma avançada de caracterização em nanoescala que permite imagens e medições detalhadas

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atómica AtomEdge Pro da Truth Instruments, originário da China, é uma ferramenta avançada e versátil concebida para uma ampla gama de aplicações científicas e industriais.As suas capacidades de medição multifuncionais, incluindo a Microscopia de Força Electrostática (EFM), a Microscopia de Força de Sonda Kelvin de Análise (KPFM), a Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), a Microscopia de Análise Capacitiva (SCM),e Microscopia de Força Magnética (MFM), torná-lo num instrumento essencial para investigadores e engenheiros que trabalham em nanotecnologia, ciência dos materiais e análise de superfícies.

Uma das principais ocasiões de aplicação do AtomEdge Pro é no campo da análise de superfície, onde a imagem de resolução atômica é crítica.A capacidade do microscópio de escanear em ângulos de 0 a 360 graus combinada com um nível de ruído no eixo Z excepcionalmente baixo de 0.04 nm garante medições topográficas e de propriedades de materiais de alta precisão.que é indispensável para o fabrico de semicondutores, pesquisa de películas finas e desenvolvimento de biomateriais.

A Microscopia de Força Magnética (MFM), um dos modos multifuncionais disponíveis no AtomEdge Pro, é amplamente usada em imagens de domínio magnético e caracterização de materiais magnéticos.Esta capacidade suporta aplicações na pesquisa de armazenamento de dadosO instrumento apresenta uma baixa não-linearidade tanto em XY (0,02%) como em Z (0,02%).08%) direcções garante medições precisas de força e repetibilidade, que são cruciais para dados de microscopia de força magnética confiáveis.

A faixa de taxa de digitalização do AtomEdge Pro de 0,1 Hz a 30 Hz permite aos usuários equilibrar a velocidade e a resolução de acordo com suas necessidades experimentais,tornando-o adequado tanto para inspecções de superfície de rotina como para investigações científicas detalhadasAlém disso, o modo opcional de Microscopia de Força Atómica Condutora (C-AFM) amplia a sua utilidade para medições de propriedades elétricas,que permitem aplicações na nanoelectrónica e na investigação em ciências dos materiais.

No geral, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments é ideal para laboratórios e indústrias que exigem imagens de alta resolução e capacidades abrangentes de análise de superfície.A sua multifuncionalidade, a tecnologia de digitalização precisa e a robustez tornam-na uma poderosa ferramenta para avançar na investigação e no desenvolvimento de produtos em vários domínios científicos.