Phương thức tiếp xúc / chạm cho các vật liệu dưới nanomet Phân tích quy mô nano

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một kính hiển vi lực quét tiên tiến được thiết kế để cung cấp khả năng chụp ảnh và đo lường đặc biệt ở quy mô nano. Được thiết kế để có độ chính xác và tính linh hoạt, mẫu AFM này hỗ trợ nhiều tốc độ quét khác nhau từ 0,1 Hz đến 30 Hz, cho phép người dùng điều chỉnh tốc độ quét theo nhu cầu ứng dụng cụ thể của họ. Cho dù tiến hành phân tích bề mặt chi tiết hay kiểm tra mẫu nhanh chóng, thiết bị này đảm bảo hiệu suất tối ưu và thu thập dữ liệu đáng tin cậy.

Một trong những tính năng nổi bật của Kính hiển vi lực nguyên tử này là khả năng hoạt động đa chế độ của nó. Nó hỗ trợ Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Chạm, Chế độ Chụp ảnh Pha, Chế độ Nâng và Chế độ Quét Đa hướng, mang lại sự linh hoạt vô song trong cách kiểm tra mẫu. Chế độ Tiếp xúc đặc biệt có giá trị để đo địa hình bề mặt có độ phân giải cao và được sử dụng rộng rãi trong đo lường điện ở quy mô nano. Chế độ này cho phép tương tác chính xác giữa đầu dò và bề mặt mẫu, cho phép phát hiện các đặc tính điện với độ phân giải không gian ở quy mô nano. Sự sẵn có của các chế độ khác nhau đảm bảo AFM có thể được sử dụng hiệu quả trong nhiều lĩnh vực nghiên cứu khác nhau, từ khoa học vật liệu đến sinh học.

Hệ thống tương thích với các mẫu có đường kính lên đến 25 mm, làm cho nó phù hợp với nhiều loại mẫu, bao gồm tấm wafer, màng mỏng và mẫu sinh học. Khả năng tương thích này cho phép các nhà nghiên cứu phân tích nhiều loại vật liệu mà không cần chuẩn bị hoặc sửa đổi mẫu rộng rãi, do đó hợp lý hóa quy trình làm việc thử nghiệm.

Độ chính xác là một khía cạnh quan trọng của bất kỳ AFM nào và mẫu này vượt trội về khía cạnh này với các thông số kỹ thuật phi tuyến tính tuyệt vời. Độ phi tuyến tính theo hướng XY chỉ giới hạn ở mức 0,02%, trong khi độ phi tuyến tính theo hướng Z được duy trì ở mức 0,08%. Các giá trị này cho thấy rằng thiết bị cung cấp các phép đo vị trí và chiều cao có độ chính xác cao, giảm thiểu biến dạng và đảm bảo rằng dữ liệu địa hình được tạo ra vừa đáng tin cậy vừa có thể lặp lại. Độ chính xác như vậy là điều cần thiết cho các nghiên cứu quy mô nano định lượng, nơi ngay cả những sai lệch nhỏ cũng có thể ảnh hưởng đáng kể đến việc giải thích kết quả.

Độ phân giải và chi tiết hình ảnh được tăng cường hơn nữa nhờ phạm vi điểm lấy mẫu hình ảnh rộng được hỗ trợ bởi kính hiển vi. Người dùng có thể chọn từ tối thiểu 32*32 điểm đến tối đa 4096*4096 điểm ấn tượng, cho phép chụp ảnh chi tiết cao phù hợp với nhiều ứng dụng khác nhau. Khả năng điều chỉnh mật độ lấy mẫu cho phép AFM cân bằng giữa tốc độ quét và độ phân giải hình ảnh, làm cho nó có thể thích ứng với cả khảo sát nhanh và đặc tính bề mặt chuyên sâu.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử này kết hợp phạm vi tốc độ quét mạnh mẽ, các chế độ hoạt động linh hoạt bao gồm Chế độ Tiếp xúc và độ chính xác đặc biệt với độ phi tuyến thấp, khiến nó trở thành một công cụ không thể thiếu để đo lường điện ở quy mô nano và phân tích bề mặt. Khả năng tương thích của nó với các mẫu có kích thước hợp lý và các tùy chọn lấy mẫu hình ảnh mở rộng càng củng cố vị thế của nó như một Kính hiển vi lực quét hàng đầu cho các nhà nghiên cứu đang tìm kiếm những hiểu biết chi tiết và chính xác ở quy mô nano. Cho dù bạn đang khám phá hình thái bề mặt, các đặc tính điện hay đặc tính cơ học, AFM này mang lại hiệu suất và tính linh hoạt cần thiết để vượt qua ranh giới của nghiên cứu công nghệ nano.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử
• Phương pháp quét: Quét toàn bộ mẫu ba trục XYZ
• Góc quét: 0~360°
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: 32*32 - 4096*4096
• Kích thước mẫu: Tương thích với các mẫu có đường kính 25 mm
• Tốc độ quét: 0,1 Hz - 30 Hz
• Nền tảng đặc trưng quy mô nano để phân tích bề mặt chính xác
• Hỗ trợ nhiều chế độ để đo lường quy mô nano linh hoạt
• Nền tảng đặc trưng quy mô nano tiên tiến cho phép chụp ảnh và đo lường chi tiết

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một công cụ tiên tiến và linh hoạt được thiết kế cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Khả năng đo lường đa chức năng của nó, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM), làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc trong lĩnh vực công nghệ nano, khoa học vật liệu và phân tích bề mặt.

Một trong những dịp ứng dụng chính của AtomEdge Pro là trong lĩnh vực phân tích bề mặt, nơi hình ảnh có độ phân giải nguyên tử là rất quan trọng. Khả năng quét của kính hiển vi ở các góc từ 0 đến 360 độ kết hợp với mức ồn trục Z cực thấp là 0,04 nm đảm bảo các phép đo địa hình và tính chất vật liệu có độ chính xác cao. Độ chính xác này là rất quan trọng để đặc trưng hình thái bề mặt, các khuyết tật và tính chất vật liệu ở quy mô nano, điều này không thể thiếu đối với sản xuất chất bán dẫn, nghiên cứu màng mỏng và phát triển vật liệu sinh học.

Kính hiển vi lực từ (MFM), một trong những chế độ đa chức năng có sẵn trên AtomEdge Pro, được sử dụng rộng rãi trong chụp ảnh miền từ và đặc trưng vật liệu từ. Khả năng này hỗ trợ các ứng dụng trong nghiên cứu lưu trữ dữ liệu, spintronics và phát triển cảm biến từ, nơi việc hiểu các tính chất từ ở quy mô nano là rất cần thiết. Độ phi tuyến thấp của thiết bị ở cả hướng XY (0,02%) và Z (0,08%) đảm bảo các phép đo lực chính xác và khả năng lặp lại, điều này rất quan trọng đối với dữ liệu kính hiển vi lực từ đáng tin cậy.

Phạm vi tốc độ quét của AtomEdge Pro từ 0,1 Hz đến 30 Hz cho phép người dùng cân bằng tốc độ và độ phân giải theo nhu cầu thử nghiệm của họ, làm cho nó phù hợp với cả kiểm tra bề mặt thông thường và điều tra khoa học chi tiết. Ngoài ra, chế độ Kính hiển vi lực dẫn điện (C-AFM) tùy chọn mở rộng tiện ích của nó để đo các đặc tính điện, cho phép các ứng dụng trong nghiên cứu nanoelectronics và khoa học vật liệu.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro rất lý tưởng cho các phòng thí nghiệm và ngành công nghiệp yêu cầu khả năng chụp ảnh độ phân giải cao và khả năng phân tích bề mặt toàn diện. Tính đa chức năng, công nghệ quét chính xác và độ bền của nó làm cho nó trở thành một công cụ mạnh mẽ để thúc đẩy nghiên cứu và phát triển sản phẩm trong các lĩnh vực khoa học khác nhau.