Modos de contacto/toque para el análisis a nanoescala de materiales subnanométricos

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un Microscopio de Fuerza de Barrido avanzado diseñado para proporcionar capacidades excepcionales de imagen y medición a nanoescala. Diseñado para la precisión y la versatilidad, este modelo de AFM admite una amplia gama de velocidades de escaneo desde 0,1 Hz hasta 30 Hz, lo que permite a los usuarios adaptar la velocidad de escaneo de acuerdo con las necesidades específicas de su aplicación. Ya sea que se realice un análisis detallado de la superficie o inspecciones rápidas de muestras, este instrumento garantiza un rendimiento óptimo y una adquisición de datos confiable.

Una de las características destacadas de este Microscopio de Fuerza Atómica es su capacidad de funcionamiento multimodo. Admite el Modo de Contacto, el Modo de Tapping, el Modo de Imagen de Fase, el Modo de Elevación y el Modo de Escaneo Multidireccional, ofreciendo una flexibilidad sin igual en la forma en que se examinan las muestras. El Modo de Contacto es particularmente valioso para mediciones de topografía de superficie de alta resolución y se utiliza ampliamente en la medición eléctrica a nanoescala. Este modo permite una interacción precisa entre la punta de la sonda y la superficie de la muestra, lo que permite la detección de propiedades eléctricas con una resolución espacial a nanoescala. La disponibilidad de varios modos asegura que el AFM se pueda utilizar eficazmente en diversos campos de investigación, desde la ciencia de los materiales hasta la biología.

El sistema es compatible con muestras de hasta 25 mm de diámetro, lo que lo hace adecuado para una amplia gama de especímenes, incluyendo obleas, películas delgadas y muestras biológicas. Esta compatibilidad permite a los investigadores analizar una amplia variedad de materiales sin necesidad de una extensa preparación o modificación de la muestra, lo que agiliza los flujos de trabajo experimentales.

La precisión es un aspecto crítico de cualquier AFM, y este modelo sobresale en este sentido con excelentes especificaciones de no linealidad. La no linealidad en la dirección XY se limita a solo el 0,02%, mientras que la no linealidad en la dirección Z se mantiene en el 0,08%. Estos valores indican que el instrumento proporciona una posicionamiento y mediciones de altura altamente precisos, minimizando la distorsión y asegurando que los datos topográficos producidos sean confiables y repetibles. Tal precisión es esencial para los estudios cuantitativos a nanoescala, donde incluso ligeras desviaciones pueden impactar significativamente la interpretación de los resultados.

La resolución y el detalle de la imagen se mejoran aún más gracias a la amplia gama de puntos de muestreo de imagen admitidos por el microscopio. Los usuarios pueden seleccionar desde un mínimo de 32*32 puntos hasta unos impresionantes 4096*4096 puntos, lo que permite una imagen altamente detallada adecuada para diversas aplicaciones. La capacidad de ajustar la densidad de muestreo permite que el AFM equilibre la velocidad de escaneo y la resolución de la imagen, haciéndolo adaptable tanto a encuestas rápidas como a la caracterización profunda de la superficie.

En resumen, este Microscopio de Fuerza Atómica combina un rango de velocidad de escaneo robusto, modos de funcionamiento versátiles, incluido el Modo de Contacto, y una precisión excepcional con baja no linealidad, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para la medición eléctrica a nanoescala y el análisis de superficies. Su compatibilidad con muestras de tamaño razonable y amplias opciones de muestreo de imágenes refuerzan aún más su posición como un Microscopio de Fuerza de Barrido líder para los investigadores que buscan información detallada y precisa a nanoescala. Ya sea que esté explorando la morfología de la superficie, las propiedades eléctricas o las características mecánicas, este AFM ofrece el rendimiento y la flexibilidad necesarios para superar los límites de la investigación en nanotecnología.

Características:

• Nombre del Producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• Método de Escaneo: Escaneo de Muestra Completa de Tres Ejes XYZ
• Ángulo de Escaneo: 0~360°
• Puntos de Muestreo de Imagen: 32*32 - 4096*4096
• Tamaño de la Muestra: Compatible con Muestras con un Diámetro de 25 mm
• Velocidad de Escaneo: 0,1 Hz - 30 Hz
• Plataforma de Caracterización a Nanoescala para un análisis preciso de la superficie
• Admite Múltiples Modos para mediciones versátiles a nanoescala
• Plataforma Avanzada de Caracterización a Nanoescala que permite imágenes y mediciones detalladas

Parámetros Técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es una herramienta avanzada y versátil diseñada para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales. Sus capacidades de medición multifuncionales, que incluyen Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopía Capacitiva de Barrido (SCM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), lo convierten en un instrumento esencial para investigadores e ingenieros que trabajan en nanotecnología, ciencia de materiales y análisis de superficies.

Una de las principales ocasiones de aplicación del AtomEdge Pro es en el campo del análisis de superficies, donde la imagen con resolución atómica es crítica. La capacidad del microscopio para escanear en ángulos de 0 a 360 grados combinada con un nivel de ruido del eje Z excepcionalmente bajo de 0,04 nm garantiza mediciones altamente precisas de la topografía y las propiedades del material. Esta precisión es vital para caracterizar la morfología de la superficie, los defectos y las propiedades del material a nanoescala, lo cual es indispensable para la fabricación de semiconductores, la investigación de películas delgadas y el desarrollo de biomateriales.

La Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), uno de los modos multifuncionales disponibles en el AtomEdge Pro, se utiliza ampliamente en la imagen de dominios magnéticos y la caracterización de materiales magnéticos. Esta capacidad respalda aplicaciones en la investigación del almacenamiento de datos, la espintrónica y el desarrollo de sensores magnéticos, donde la comprensión de las propiedades magnéticas a nanoescala es esencial. La baja no linealidad del instrumento tanto en las direcciones XY (0,02%) como en Z (0,08%) garantiza mediciones de fuerza precisas y repetibilidad, que son cruciales para obtener datos confiables de microscopía de fuerza magnética.

El rango de velocidad de escaneo del AtomEdge Pro de 0,1 Hz a 30 Hz permite a los usuarios equilibrar la velocidad y la resolución de acuerdo con sus necesidades experimentales, lo que lo hace adecuado tanto para inspecciones de superficie de rutina como para investigaciones científicas detalladas. Además, el modo opcional de Microscopía de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM) amplía su utilidad a las mediciones de propiedades eléctricas, lo que permite aplicaciones en nanoelectrónica e investigación en ciencia de materiales.

En general, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es ideal para laboratorios e industrias que requieren imágenes de alta resolución y capacidades integrales de análisis de superficies. Su multifuncionalidad, tecnología de escaneo precisa y robustez lo convierten en una herramienta poderosa para avanzar en la investigación y el desarrollo de productos en varios campos científicos.