Kontakt-/Tap-Modi für Subnanometer-Materialien

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein fortschrittliches Rasterkraftmikroskop, das außergewöhnliche Bildgebungs- und Messfähigkeiten im Nanobereich bietet. Dieses AFM-Modell wurde für Präzision und Vielseitigkeit entwickelt und unterstützt eine Vielzahl von Abtastraten von 0,1 Hz bis zu 30 Hz, sodass Benutzer die Abtastgeschwindigkeit an ihre spezifischen Anwendungsanforderungen anpassen können. Ob detaillierte Oberflächenanalysen oder schnelle Probeninspektionen durchgeführt werden, dieses Instrument gewährleistet optimale Leistung und zuverlässige Datenerfassung.

Eines der herausragenden Merkmale dieses Rasterkraftmikroskops ist seine Multi-Mode-Betriebsfähigkeit. Es unterstützt den Kontaktmodus, den Tap-Modus, den Phasenbildgebungsmodus, den Lift-Modus und den Multi-Direktionalen Abtastmodus und bietet beispiellose Flexibilität bei der Untersuchung von Proben. Der Kontaktmodus ist besonders wertvoll für hochauflösende OberflächenTopografiemessungen und wird häufig in der elektrischen Messung im Nanobereich eingesetzt. Dieser Modus ermöglicht eine präzise Interaktion zwischen der Sondenspitze und der Probenoberfläche, wodurch die Detektion elektrischer Eigenschaften mit nanoskaliger räumlicher Auflösung ermöglicht wird. Die Verfügbarkeit verschiedener Modi stellt sicher, dass das AFM effektiv in verschiedenen Forschungsbereichen eingesetzt werden kann, von der Materialwissenschaft bis zur Biologie.

Das System ist mit Proben mit einem Durchmesser von bis zu 25 mm kompatibel, was es für ein breites Spektrum an Proben geeignet macht, einschließlich Wafern, Dünnschichten und biologischen Proben. Diese Kompatibilität ermöglicht es Forschern, eine Vielzahl von Materialien zu analysieren, ohne dass eine aufwändige Probenvorbereitung oder -modifikation erforderlich ist, wodurch experimentelle Arbeitsabläufe rationalisiert werden.

Präzision ist ein entscheidender Aspekt jedes AFM, und dieses Modell zeichnet sich in dieser Hinsicht durch hervorragende Nichtlinearitätsspezifikationen aus. Die Nichtlinearität in der XY-Richtung ist auf nur 0,02 % begrenzt, während die Nichtlinearität in der Z-Richtung bei 0,08 % gehalten wird. Diese Werte zeigen an, dass das Instrument hochpräzise Positions- und Höhenmessungen liefert, wodurch Verzerrungen minimiert und sichergestellt wird, dass die erzeugten topografischen Daten sowohl zuverlässig als auch wiederholbar sind. Eine solche Genauigkeit ist für quantitative Studien im Nanobereich unerlässlich, bei denen selbst geringfügige Abweichungen die Interpretation der Ergebnisse erheblich beeinträchtigen können.

Die Bildauflösung und -details werden durch die große Auswahl an Bildabtastpunkten, die das Mikroskop unterstützt, weiter verbessert. Benutzer können aus mindestens 32*32 Punkten bis zu beeindruckenden 4096*4096 Punkten wählen, was eine hochdetaillierte Bildgebung ermöglicht, die für verschiedene Anwendungen geeignet ist. Die Möglichkeit, die Abtastdichte anzupassen, ermöglicht es dem AFM, ein Gleichgewicht zwischen Scangeschwindigkeit und Bildauflösung herzustellen, wodurch es sowohl für schnelle Übersichten als auch für detaillierte Oberflächencharakterisierungen geeignet ist.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass dieses Rasterkraftmikroskop einen robusten Abtastratenbereich, vielseitige Betriebsmodi einschließlich Kontaktmodus und außergewöhnliche Präzision mit geringer Nichtlinearität kombiniert, was es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für elektrische Messungen im Nanobereich und Oberflächenanalysen macht. Seine Kompatibilität mit Proben von angemessener Größe und umfangreichen Bildabtastoptionen verstärken seine Position als führendes Rasterkraftmikroskop für Forscher, die detaillierte und genaue Einblicke im Nanobereich suchen. Ob Sie die Oberflächenmorphologie, die elektrischen Eigenschaften oder die mechanischen Eigenschaften untersuchen, dieses AFM liefert die Leistung und Flexibilität, die erforderlich sind, um die Grenzen der Nanotechnologieforschung zu erweitern.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Abtastmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Abtastung
• Abtastwinkel: 0~360°
• Bildabtastpunkte: 32*32 - 4096*4096
• Probengröße: Kompatibel mit Proben mit einem Durchmesser von 25 mm
• Abtastrate: 0,1 Hz - 30 Hz
• Nanoscale-Charakterisierungsplattform für präzise Oberflächenanalysen
• Unterstützt mehrere Modi für vielseitige Messungen im Nanobereich
• Erweiterte Nanoscale-Charakterisierungsplattform, die detaillierte Bildgebung und Messung ermöglicht

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop, das aus China stammt, ist ein fortschrittliches und vielseitiges Werkzeug, das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde. Seine multifunktionalen Messmöglichkeiten, einschließlich Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM), machen es zu einem unverzichtbaren Instrument für Forscher und Ingenieure, die in den Bereichen Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Oberflächenanalyse arbeiten.

Einer der wichtigsten Anwendungsfälle für das AtomEdge Pro ist im Bereich der Oberflächenanalyse, wo die Bildgebung mit atomarer Auflösung von entscheidender Bedeutung ist. Die Fähigkeit des Mikroskops, in Winkeln von 0 bis 360 Grad abzutasten, kombiniert mit einem außergewöhnlich niedrigen Z-Achsen-Rauschpegel von 0,04 nm, gewährleistet hochpräzise topografische und Materialeigenschaftsmessungen. Diese Präzision ist unerlässlich für die Charakterisierung der Oberflächenmorphologie, von Defekten und Materialeigenschaften im Nanobereich, was für die Halbleiterherstellung, die Dünnschichtforschung und die Entwicklung von Biomaterialien unerlässlich ist.

Die Magnetkraftmikroskopie (MFM), einer der multifunktionalen Modi, die auf dem AtomEdge Pro verfügbar sind, wird ausgiebig in der Magnetdomänenbildgebung und der Charakterisierung magnetischer Materialien eingesetzt. Diese Fähigkeit unterstützt Anwendungen in der Datenspeicherforschung, Spintronik und der Entwicklung von Magnetsensoren, bei denen das Verständnis der magnetischen Eigenschaften im Nanobereich unerlässlich ist. Die geringe Nichtlinearität des Instruments in der XY-Richtung (0,02 %) und in der Z-Richtung (0,08 %) gewährleistet genaue Kraftmessungen und Wiederholbarkeit, was für zuverlässige Magnetkraftmikroskopiedaten von entscheidender Bedeutung ist.

Der Abtastratenbereich des AtomEdge Pro von 0,1 Hz bis 30 Hz ermöglicht es Benutzern, Geschwindigkeit und Auflösung an ihre experimentellen Anforderungen anzupassen, wodurch es sowohl für routinemäßige Oberflächeninspektionen als auch für detaillierte wissenschaftliche Untersuchungen geeignet ist. Darüber hinaus erweitert der optionale Modus für leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) seine Nützlichkeit auf elektrische Eigenschaftsmessungen und ermöglicht Anwendungen in der Nanoelektronik und der Materialwissenschaftsforschung.

Insgesamt ist das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop ideal für Labore und Industrien, die hochauflösende Bildgebung und umfassende Oberflächenanalysefunktionen benötigen. Seine Multifunktionalität, die präzise Abtasttechnologie und die Robustheit machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Weiterentwicklung der Forschung und Produktentwicklung in verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen.