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Qualità AFM per l'analisi di superficie precisa e l'imaging su scala nanometrica nella ricerca scientifica e nelle applicazioni industriali fabbrica
Qualità AFM per l'analisi di superficie precisa e l'imaging su scala nanometrica nella ricerca scientifica e nelle applicazioni industriali fabbrica

AFM per l'analisi di superficie precisa e l'imaging su scala nanometrica nella ricerca scientifica e nelle applicazioni industriali

Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat
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Microscopio AFM

Sistemi di AFM

Microscopio della sonda di scansione
Dettagli del prodotto
Evidenziare:

Microscopio di forza atomica per l'imaging nanometrico

,

AFM di precisione per analisi superficiale

,

Ricerca scientifica microscopio di forza atomica
Descrizione di prodotto
Microscopio a forza atomica multifunzionale - AtomEdge Pro
Introduzione al prodotto

Il microscopio a forza atomica multifunzionale AtomEdge Pro può eseguire l'imaging di scansione tridimensionale su materiali, dispositivi elettronici, campioni biologici, ecc. È dotato di molteplici modalità di funzionamento come contatto, tap e non contatto, offrendo agli utenti opzioni di funzionamento più flessibili e precise. Inoltre, integra molteplici modalità funzionali come la microscopia a forza magnetica, la microscopia a forza elettrostatica, la microscopia Kelvin a scansione e la microscopia a forza piezoelettrica, caratterizzata da una forte stabilità e una buona scalabilità. Inoltre, i moduli funzionali possono essere personalizzati in modo flessibile in base alle esigenze dell'utente, fornendo soluzioni mirate per specifici campi di ricerca e ottenendo una piattaforma di rilevamento efficiente con molteplici usi in un'unica macchina.

Prestazioni dell'apparecchiatura
Indice Specifiche
Dimensione del campione 25 mm
Metodo di scansione Scansione completa del campione a tre assi XYZ
Gamma di scansione 100 μm×100 μm×10 μm
Velocità di scansione 0.1-30 Hz
Livello di rumore nella direzione Z 0.04 nm
Non linearità 0.15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z
Punto di campionamento dell'immagine La risoluzione massima dell'immagine della sonda di scansione è 4096×4096
Modalità di funzionamento Modalità contatto, modalità tap, modalità imaging di fase, modalità lift, modalità di scansione multidirezionale
Misurazione multifunzionale Microscopio a forza elettrostatica (EFM), microscopio Kelvin a scansione (KPFM), microscopio a forza piezoelettrica (PFM), microscopio a forza magnetica (MFM), curva di forza
Applicazioni

AFM per l'analisi di superficie precisa e l'imaging su scala nanometrica nella ricerca scientifica e nelle applicazioni industriali 0

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