logo

Атомно-силовой микроскоп для точного анализа поверхности и нанометрового масштабирования в научных исследованиях и промышленных применениях

Многофункциональный микроскоп атомной силы - AtomEdge Pro Введение продукта Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как контактКроме того, ...
Детали продукта
Выделить:

Атомно-силовой микроскоп для нанометрового изображения

,

Прецизионный АСМ для анализа поверхности

,

Атомно-силовой микроскоп для научных исследований

Характер продукции
Многофункциональный микроскоп атомной силы - AtomEdge Pro
Введение продукта

Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как контактКроме того, он интегрирует несколько функциональных режимов, таких как магнитно-силовая микроскопия,электростатическая силовая микроскопияКроме того, функциональные модули могут быть гибко настроены в соответствии с потребностями пользователя.предоставление целенаправленных решений для конкретных областей исследований и создание эффективной платформы обнаружения с несколькими применениями в одной машине.

Производительность оборудования
Индекс Спецификация
Размер выборки 25 мм
Способ сканирования XYZ трехосновое полное сканирование образца
Диапазон сканирования 100 мкм×100 мкм×10 мкм
Скорость сканирования 0.1-30 Гц
Уровень шума в направлении Z 00,04 нм
Нелинейность 0.15% в направлении XY и 1% в направлении Z
Точка отбора образцов изображения Максимальное разрешение снимка сканирующего зонда 4096×4096
Рабочий режим Контактный режим, режим нажатия, режим фазовой визуализации, режим подъема, режим многонаправленного сканирования
Многофункциональное измерение Электростатический силовой микроскоп (ЭФМ), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), магнитный силовой микроскоп (MFM), кривая силы
Заявления

Атомно-силовой микроскоп для точного анализа поверхности и нанометрового масштабирования в научных исследованиях и промышленных применениях 0

Отправить запрос

Получите быструю цитату