English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
AFM برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح و تصویربرداری در مقیاس نانومتری در تحقیقات علمی و کاربردهای صنعتی
Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat
جزئیات محصول
برجسته کردن:
میکروسکوپ نیروی اتمی برای تصویربرداری نانومتری,AFM دقیق برای تجزیه و تحلیل سطح,میکروسکوپ نیروی اتمی تحقیقات علمی
,Precision AFM for surface analysis
,Scientific research atomic force microscope
توضیحات محصول
میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره - AtomEdge Pro
معرفی محصول
میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره AtomEdge Pro می تواند تصاویر اسکن سه بعدی را بر روی مواد، دستگاه های الکترونیکی، نمونه های بیولوژیکی و غیره انجام دهد.این ویژگی های حالت کار چند مانند تماس، ضربه زدن و بدون تماس، که کاربران را با گزینه های عملیاتی انعطاف پذیر و دقیق تر فراهم می کند. علاوه بر این، چندین حالت عملکردی مانند میکروسکوپی نیروی مغناطیسی،میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک، میکروسکوپی اسکن کلوین و میکروسکوپی نیروی پیزو الکتریکی ، دارای ثبات قوی و مقیاس پذیری خوب است. علاوه بر این ، ماژول های کاربردی می توانند به صورت انعطاف پذیر با توجه به نیازهای کاربر سفارشی شوند.ارائه راه حل های هدفمند برای زمینه های تحقیقاتی خاص و دستیابی به یک پلت فرم تشخیص کارآمد با استفاده های متعدد در یک دستگاه.
عملکرد تجهیزات
| شاخص | مشخصات |
|---|---|
| اندازه نمونه | 25 میلی متر |
| روش اسکن | اسکن نمونه کامل سه محور XYZ |
| محدوده اسکن | 100μm×100μm×10μm |
| سرعت اسکن | 0.1 تا 30 هرتز |
| سطح سر و صدا در جهت Z | 0.04 نانومتر |
| عدم خطی بودن | 0.15 درصد در جهت XY و 1 درصد در جهت Z |
| نقطه نمونه گیری تصویر | حداکثر وضوح تصویر سُند اسکن 4096×4096 است |
| حالت کار | حالت تماس، حالت ضربه زدن، حالت تصویربرداری فاز، حالت بلند کردن، حالت اسکن چند جهت |
| اندازه گیری چند کارکردی | میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپ اسکن کلوین (KPFM) ، میکروسکوپ نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) ، منحنی نیروی |
درخواست ها
درخواست ارسال کنید
