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Calidad AFM para análisis preciso de superficies e imágenes a escala nanométrica en investigación científica y aplicaciones industriales fábrica
Calidad AFM para análisis preciso de superficies e imágenes a escala nanométrica en investigación científica y aplicaciones industriales fábrica

AFM para análisis preciso de superficies e imágenes a escala nanométrica en investigación científica y aplicaciones industriales

Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat
Etiquetas:

Microscopio AFM

Sistemas de AFM

Microscopio de sonda de exploración
Detalles del producto
Resaltar:

Microscopio de fuerza atómica para imágenes a nanómetros

,

AFM de precisión para análisis de superficies

,

Microscopio de fuerza atómica para investigación científica
Descripción de producto
Microscopio de fuerza atómica multifuncional - AtomEdge Pro
Introducción del producto

El microscopio de fuerza atómica multifuncional AtomEdge Pro puede realizar imágenes de escaneo tridimensionales en materiales, dispositivos electrónicos, muestras biológicas, etc. Cuenta con múltiples modos de funcionamiento como contacto, tap y sin contacto, proporcionando a los usuarios opciones de operación más flexibles y precisas. Además, integra múltiples modos funcionales como microscopía de fuerza magnética, microscopía de fuerza electrostática, microscopía Kelvin de barrido y microscopía de fuerza piezoeléctrica, con una gran estabilidad y buena escalabilidad. Además, los módulos funcionales se pueden personalizar de forma flexible según las necesidades del usuario, proporcionando soluciones específicas para campos de investigación específicos y logrando una plataforma de detección eficiente con múltiples usos en una sola máquina.

Rendimiento del equipo
Índice Especificación
Tamaño de la muestra 25 mm
Método de escaneo Escaneo completo de la muestra de tres ejes XYZ
Rango de escaneo 100 μm×100 μm×10 μm
Velocidad de escaneo 0.1-30 Hz
Nivel de ruido en la dirección Z 0.04 nm
No linealidad 0.15% en la dirección XY y 1% en la dirección Z
Punto de muestreo de la imagen La resolución máxima de la imagen de la sonda de escaneo es 4096×4096
Modo de funcionamiento Modo de contacto, modo tap, modo de imagen de fase, modo lift, modo de escaneo multidireccional
Medición multifuncional Microscopio de fuerza electrostática (EFM), microscopio Kelvin de barrido (KPFM), microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM), microscopio de fuerza magnética (MFM), curva de fuerza
Aplicaciones

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