과학 연구 및 산업 응용 분야에서 정밀 표면 분석 및 나노미터 규모 이미지 촬영을위한 AFM

Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat

태그:

AFM 현미경

AFM 시스템

스캔 탐사 현미경

제품 상세정보

강조하다:

나노미터 영상 촬영용 원자력 현미경

표면 분석의 정밀 AFM

과학 연구 원자력 현미경

제품 설명

다기능 원자력 현미경 - AtomEdge Pro

제품 소개

다기능 원자력 현미경 AtomEdge Pro는 재료, 전자 장치, 생물학적 표본 등에 대해 3차원 스캔 영상을 수행 할 수 있습니다.그것은 접촉과 같은 여러 작업 모드를 갖추고, 탭 및 비접촉, 사용자에게 더 유연하고 정확한 조작 옵션을 제공합니다. 또한, 그것은 자기 힘 현미경,전기 정적 힘 현미경, 스캔 켈빈 현미경 및 피에조 전기 힘 현미경, 강한 안정성 및 좋은 확장성을 특징으로. 또한 기능 모듈은 사용자 필요에 따라 유연하게 사용자 정의 할 수 있습니다.특정 연구 분야에 맞춤형 솔루션을 제공하고 하나의 기계에서 여러 용도로 효율적인 탐지 플랫폼을 구현합니다..

장비 성능

지수	사양
표본 크기	25mm
스캔 방법	XYZ 3축 전체 샘플 스캔
스캔 범위	100μm × 100μm × 10μm
스캔 속도	0.1~30 Hz
Z 방향 소음 수준	00.04 nm
비선형성	0XY 방향으로 15% 그리고 Z 방향으로 1%
이미지 샘플링 포인트	스캔 탐사 이미지의 최대 해상도는 4096×4096입니다
작업 모드	접촉 모드, 탭 모드, 단계 영상 모드, 리프트 모드, 다방향 스캔 모드
다기능 측정	전기 정적 힘 현미경 (EFM), 스캔 켈빈 현미경 (KPFM), 피에조 전기 힘 현미경 (PFM), 자기 힘 현미경 (MFM), 힘 곡선

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