AFM pour l'analyse précise de surface et l'imagerie à l'échelle nanométrique dans la recherche scientifique et les applications industrielles

Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, etc. Il propose plusieurs modes de fonctionnement tels que contact, tapotement et sans contact, offrant aux utilisateurs des options d'opération plus flexibles et précises. De plus, il intègre plusieurs modes fonctionnels tels que la microscopie à force magnétique, la microscopie à force électrostatique, la microscopie Kelvin à balayage et la microscopie à force piézoélectrique, offrant une grande stabilité et une bonne évolutivité. De plus, les modules fonctionnels peuvent être personnalisés de manière flexible en fonction des besoins de l'utilisateur, offrant des solutions ciblées pour des domaines de recherche spécifiques et réalisant une plateforme de détection efficace avec de multiples utilisations en une seule machine.