English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
AFM για ακριβή ανάλυση επιφάνειας και απεικόνιση σε νανομετρική κλίμακα στην επιστημονική έρευνα και τις βιομηχανικές εφαρμογές
Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:
Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης για απεικόνιση σε νανομέτρα
,ΑΕΜ ακρίβειας για την ανάλυση επιφάνειας
,Επιστημονική έρευνα
Περιγραφή προϊόντων
Πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης - AtomEdge Pro
Εισαγωγή του προϊόντος
Το πολυλειτουργικό μικροσκόπιο ατομικής δύναμης AtomEdge Pro μπορεί να εκτελέσει τρισδιάστατη απεικόνιση σάρωσης σε υλικά, ηλεκτρονικές συσκευές, βιολογικά δείγματα κλπ.Διαθέτει πολλαπλές λειτουργίες όπως επαφήΗ τεχνολογία αυτή παρέχει στους χρήστες πιο ευέλικτες και ακριβείς δυνατότητες λειτουργίας.ηλεκτροστατική μικροσκόπηση δύναμηςΕπιπλέον, οι λειτουργικές ενότητες μπορούν να προσαρμοστούν ευέλικτα σύμφωνα με τις ανάγκες του χρήστη,παροχή στοχευμένων λύσεων για συγκεκριμένους τομείς έρευνας και επίτευξη αποτελεσματικής πλατφόρμας ανίχνευσης με πολλαπλές χρήσεις σε ένα μηχάνημα.
Δυναμικότητα εξοπλισμού
| Δείκτης | Προδιαγραφές |
|---|---|
| Μέγεθος δείγματος | 25 χιλιοστά |
| Μέθοδος σάρωσης | XYZ τρισάξονα πλήρους σαρώσεως δείγματος |
| Πεδίο σάρωσης | 100 μm × 100 μm × 10 μm |
| Ταχύτητα σάρωσης | 0.1-30 Hz |
| Επίπεδο θορύβου προς την κατεύθυνση Z | 00,04 nm |
| Μη γραμμικότητα | 00,15% προς την κατεύθυνση XY και 1% προς την κατεύθυνση Z |
| Σημείο δειγματοληψίας εικόνας | Η μέγιστη ανάλυση της εικόνας του ανιχνευτή σαρώσεως είναι 4096×4096 |
| Τρόπος λειτουργίας | Τρόπος επαφής, λειτουργία κτύπησης, λειτουργία απεικόνισης φάσης, λειτουργία ανύψωσης, λειτουργία πολλαπλής κατεύθυνσης σάρωσης |
| Πολυλειτουργική μέτρηση | Ηλεκτροστατικό μικροσκόπιο δύναμης (EFM), μικροσκόπιο σάρωσης Κέλβιν (KPFM), μικροσκόπιο πιεζοηλεκτρικής δύναμης (PFM), μικροσκόπιο μαγνητικής δύναμης (MFM), καμπύλη δύναμης |
Εφαρμογές
Στείλε Ερευνά
