精密表面分析とナノメートルスケールイメージングのためのAFM - 科学研究および産業用途

Multi-Functional Atomic Force Microscope - AtomEdge Pro Product Introduction The AtomEdge Pro multi-functional atomic force microscope can perform three-dimensional scanning imaging on materials, electronic devices, biological samples, etc. It features multiple working modes such as contact, tap, and non-contact, providing users with more flexible and precise operation options. In addition, it integrates multiple functional modes such as magnetic force microscopy, electrostat

札:

AFM顕微鏡

AFMシステム

走査型プローブ顕微鏡

製品詳細

ハイライト:

ナノメートルイメージング用原子間力顕微鏡

表面分析用精密AFM

科学研究用原子間力顕微鏡

製品の説明

多機能原子力顕微鏡 - AtomEdge Pro

製品紹介

アトムエッジ・プロの多機能原子力顕微鏡は,材料,電子機器,生物学的サンプルなどで3次元スキャン画像を処理することができます.接触など,複数の作業モードがあります.さらに,磁力力顕微鏡などの複数の機能モードを統合しています.静電力顕微鏡また,機能モジュールは,ユーザのニーズに応じて柔軟にカスタマイズすることができます.特定の研究分野向けにターゲット化されたソリューションを提供し,1台のマシンで複数の用途を可能な効率的な検出プラットフォームを実現する.

設備の性能

インデックス	仕様
サンプルサイズ	25mm
スキャン方法	XYZ 三軸全サンプルスキャン
スキャン範囲	100 μm×100 μm×10 μm
スキャン速度	0.1〜30 Hz
Z方向の騒音レベル	0.04 nm
非線形性	0XY方向では15%,Z方向では1%
画像サンプル採取点	スキャン探査機の最大解像度は4096×4096
動作モード	接触モード,タップモード,相画像モード,リフトモード,多方向スキャンモード
多機能測定	静電力顕微鏡 (EFM),ケルビン顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力顕微鏡 (MFM),力曲線

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