AtomExplorer: Strumento di topografia di precisione per chip e nanomateriali

Descrizione del prodotto:

Il microscopio a forza atomica (AFM) di tipo Basic è uno strumento versatile e ad alte prestazioni progettato per soddisfare le diverse esigenze della ricerca scientifica e delle applicazioni di ricerca e sviluppo industriale. Questo AFM multifunzionale è dotato di modalità di misurazione avanzate, tra cui Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopia a Forza a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM) e Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Queste capacità consentono a ricercatori e ingegneri di condurre un'ampia gamma di analisi di superficie su scala nanometrica, rendendolo uno strumento indispensabile per la scienza dei materiali, la ricerca sui semiconduttori e lo sviluppo della nanotecnologia.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM di tipo Basic è la sua capacità di ospitare campioni fino a Φ 25 mm di dimensioni, offrendo ampio spazio per una varietà di tipi di campioni. Che si tratti di film sottili, rivestimenti o materiali sfusi, gli utenti possono analizzare con sicurezza i propri campioni senza preoccuparsi dei vincoli di dimensioni. Il metodo di scansione a tre assi XYZ dell'intero campione del sistema garantisce una scansione completa e precisa sull'intera superficie del campione, fornendo dati accurati sulla topografia e sulle proprietà funzionali.

La risoluzione di campionamento delle immagini del microscopio a forza atomica di tipo Basic è altamente personalizzabile, variando da un minimo di 32*32 punti a un impressionante 4096*4096 punti. Questo ampio intervallo consente agli utenti di bilanciare la velocità di scansione e i dettagli dell'immagine, a seconda delle loro esigenze sperimentali. L'imaging ad alta risoluzione è essenziale per catturare minuscole caratteristiche della superficie e comprendere i fenomeni su scala nanometrica, il che è fondamentale sia nella ricerca accademica che nello sviluppo di prodotti industriali.

Oltre alle sue capacità di misurazione multifunzionali e alle opzioni di imaging flessibili, questo modello AFM incorpora una tecnologia avanzata di protezione della punta, in particolare la Modalità di Inserimento Sicuro dell'Ago. Questa caratteristica innovativa salvaguarda le delicate sonde AFM durante l'ingaggio e la scansione, riducendo significativamente il rischio di danni alla punta e garantendo una qualità di misurazione costante. La modalità di inserimento sicuro dell'ago migliora l'affidabilità e la longevità dello strumento, il che è particolarmente importante per gli ambienti di ricerca industriale ad alto rendimento.

Progettato pensando alla stabilità e alla precisione, il microscopio a forza atomica di tipo Basic offre prestazioni AFM ad alta stabilità che riducono al minimo il rumore e la deriva durante le misurazioni. Questa stabilità è fondamentale per ottenere dati riproducibili e accurati, soprattutto quando si eseguono misurazioni sensibili come la microscopia a forza a sonda Kelvin o la microscopia a forza piezoelettrica. La costruzione robusta e i sistemi di controllo avanzati rendono questo AFM uno strumento affidabile per indagini scientifiche a lungo termine e progetti di ricerca e sviluppo industriale.

Come AFM per la ricerca scientifica, questo modello supporta un'ampia gamma di esigenze sperimentali, dalla caratterizzazione fondamentale della superficie alla mappatura complessa delle proprietà funzionali. I ricercatori possono esplorare le proprietà elettriche, magnetiche e piezoelettriche su scala nanometrica con facilità, grazie alle modalità di misurazione multifunzionali integrate. Inoltre, la sua interfaccia intuitiva e i versatili strumenti software facilitano l'acquisizione, l'analisi e la visualizzazione dei dati, semplificando il flusso di lavoro della ricerca.

Nelle impostazioni di ricerca e sviluppo industriale, il microscopio a forza atomica di tipo Basic funge da microscopio critico per il controllo qualità, lo sviluppo dei materiali e l'analisi dei guasti. La sua multifunzionalità riduce la necessità di più strumenti separati, risparmiando spazio di laboratorio e costi operativi. L'elevata stabilità e precisione di questo AFM lo rendono una scelta eccellente per lo sviluppo di materiali e dispositivi di nuova generazione in cui le proprietà su scala nanometrica hanno un impatto diretto sulle prestazioni del prodotto.

Nel complesso, il microscopio a forza atomica di tipo Basic combina multifunzionalità, imaging ad alta risoluzione, versatilità del campione e protezione avanzata della punta per offrire una soluzione completa per l'analisi della superficie su scala nanometrica. Che venga utilizzato in laboratori accademici o in strutture di ricerca industriale, si distingue come un AFM affidabile e ad alta stabilità che soddisfa i requisiti esigenti della moderna ricerca scientifica e dell'innovazione industriale.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a forza atomica di tipo Basic
• Punti di campionamento immagine: da 32*32 a 4096*4096
• Modalità operative: Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode, Phase Imaging Mode
• Misurazioni multifunzionali:
  • Microscopio a forza elettrostatica (EFM)
  • Microscopio Kelvin a scansione (KPFM)
  • Microscopio a forza piezoelettrica (PFM)
  • Microscopio a forza magnetica (MFM)
• Metodo di scansione: scansione a tre assi XYZ dell'intero campione
• Intervallo di scansione:
  • 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Ideale per la caratterizzazione della superficie dei materiali e l'analisi della texture superficiale
• Consente l'imaging topografico su scala nanometrica ad alta risoluzione

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio a forza atomica (AFM) di tipo Basic AtomExplorer di Truth Instruments è un microscopio su scala nanometrica avanzato progettato per l'analisi della texture superficiale ad alta precisione e l'imaging topografico su scala nanometrica. Originario della Cina, questo strumento versatile si rivolge a un'ampia gamma di applicazioni di ricerca e industriali, offrendo capacità di misurazione multifunzionali tra cui Microscopio a forza elettrostatica (EFM), Microscopia a sonda Kelvin a scansione (KPFM), Microscopia a forza piezoelettrica (PFM) e Microscopia a forza magnetica (MFM). Queste caratteristiche rendono l'AtomExplorer uno strumento indispensabile per scienziati e ingegneri che lavorano con materiali e superfici su scala nanometrica.

Una delle principali occasioni di applicazione per l'AtomExplorer è nei laboratori di scienza dei materiali in cui è fondamentale un'analisi dettagliata della texture superficiale. I ricercatori possono utilizzare la sua imaging ad alta risoluzione per studiare la morfologia e le proprietà di vari materiali su scala nanometrica, consentendo scoperte nella nanotecnologia, nella ricerca sui semiconduttori e nella caratterizzazione dei film sottili. La capacità di dimensioni del campione dello strumento di Φ 25 mm e gli intervalli di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm o 30 μm * 30 μm * 5 μm si adattano a una vasta gamma di campioni, rendendolo ideale per l'analisi di componenti microelettronici, polimeri e biomateriali.

Nelle impostazioni di ricerca accademica e industriale, l'AtomExplorer facilita l'imaging topografico su scala nanometrica completo, fornendo mappe di superficie 3D dettagliate con punti di campionamento delle immagini che vanno da 32*32 fino a 4096*4096. Questa capacità consente la visualizzazione e la misurazione precise delle caratteristiche della superficie, essenziali per il controllo qualità, l'analisi dei guasti e l'innovazione nella nanofabbricazione. Inoltre, l'inclusione della tecnologia di protezione della punta come la Modalità di inserimento sicuro dell'ago garantisce longevità e affidabilità durante i delicati processi di scansione.

La natura multifunzionale dell'AtomExplorer consente il suo utilizzo in diversi scenari, tra cui misurazioni delle proprietà elettrostatiche e magnetiche, rendendolo prezioso per lo studio di dispositivi elettronici, materiali magnetici e componenti piezoelettrici. Il suo design intuitivo e i parametri di scansione personalizzabili lo rendono adatto per l'uso di routine in laboratorio e per progetti di ricerca avanzati. Con un prezzo negoziabile al momento del contatto, l'AtomExplorer di Truth Instruments offre una soluzione economica ma potente per le esigenze di microscopia su scala nanometrica, consolidando il suo posto come strumento fondamentale per l'analisi della texture superficiale e l'imaging topografico su scala nanometrica in vari settori scientifici e industriali.